本文介紹了半導(dǎo)體的起源、什么是半導(dǎo)體、半導(dǎo)體的分類。
一、半導(dǎo)體的起源
1946年1月,遠(yuǎn)在太平洋彼岸的美國(guó)BELL實(shí)驗(yàn)室正式成立了一個(gè)半導(dǎo)體研究小組,小組內(nèi)有3名核心成員,分別是Schokley、Bardeen和Brattain,俗稱“晶體管三劍客”。
三劍客有自己的研究?jī)?yōu)勢(shì),Bardeen提出了表面態(tài)理論,Schokley給出了實(shí)現(xiàn)放大器的基本設(shè)想,Brattain設(shè)計(jì)了實(shí)驗(yàn)。
在三劍客成立的次年,1947年巴丁(Bardeen)和布萊登(Brattain)發(fā)明了點(diǎn)接觸(point?contact)晶體管。接著在1949年肖克萊(Shockley)發(fā)表了關(guān)于p?n結(jié)和雙極型晶體管的經(jīng)典論文。有史以來(lái)的第一個(gè)晶體管中,在三角形石英晶體底部的兩個(gè)點(diǎn)接觸是由相隔50μm的金箔線壓到半導(dǎo)體表面做成的,所用的半導(dǎo)體材料為鍺;當(dāng)一個(gè)接觸正偏(forward biased,即對(duì)于第三個(gè)端點(diǎn)加正電壓),而另一個(gè)接觸反偏(reverse biased)時(shí),可以觀察到把輸入信號(hào)放大的晶體管行為(transistor action)。
雙極型晶體管是一個(gè)關(guān)鍵的半導(dǎo)體器件,它把人類文明帶進(jìn)了現(xiàn)代電子時(shí)代,轟動(dòng)世界的半導(dǎo)體革命開始了…
此時(shí)出現(xiàn)了一個(gè)新名稱——晶體管。
我們還常聽說(shuō)一個(gè)詞——集成電路【Integrated Circuit:IC】,晶體管和集成電路是什么關(guān)系呢?
集成電路是通過(guò)一系列特定的平面制造工藝,將晶體管、二極管等有源器件和電阻、電容等無(wú)源器件,按照一定的電路互連關(guān)系,“集成”在一塊半導(dǎo)體單晶片上,并封裝在一個(gè)保護(hù)外殼內(nèi),能執(zhí)行特定的功能復(fù)雜電子系統(tǒng)。
晶體管是集成電路的組成單元,它的發(fā)明加速了半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展。
二、什么是半導(dǎo)體?
半導(dǎo)體的概念是從材料的導(dǎo)電性來(lái)描述的,自然界中一切物體,按導(dǎo)電性分為三類:導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣體。
生活中我們接觸到的物體,要么導(dǎo)電、要么不導(dǎo)電、要么在特定條件下導(dǎo)電。
從電阻的角度來(lái)看,就是下面這張圖:
絕緣體: 電導(dǎo)率很低,約介于20E-18S/cm-E-8S/cm,如熔融石英及玻璃;
導(dǎo)? 體:電導(dǎo)率較高,介于10E4S/cm-10E6S/cm,如鋁、銀等金屬;
半導(dǎo)體:電導(dǎo)率則介于絕緣體及導(dǎo)體之間。
為什么這種導(dǎo)電率不穩(wěn)定的物質(zhì)卻受到了廣泛的關(guān)注和應(yīng)用呢?
因?yàn)榘雽?dǎo)體易受溫度、光照、磁場(chǎng)及微量雜質(zhì)原子的影響。
半導(dǎo)體材料在外界的刺激下,材料性能發(fā)生改變,正是半導(dǎo)體的這種對(duì)電導(dǎo)率的高靈敏度特性使半導(dǎo)體成為各種電子應(yīng)用中最重要的材料之一。
三、半導(dǎo)體的分類
半導(dǎo)體按照材料的類型可分為:
(1) 元素半導(dǎo)體:硅(Si)、鍺(Ge)
硅、鍺都是由單一原子所組成的元素半導(dǎo)體,均為周期表第IV族元素。
20世紀(jì)50年代初期,鍺曾是最主要的半導(dǎo)體材料;60年代初期以后,硅已取代鍺成為半導(dǎo)體制造的主要材料,主要原因?yàn)楣杵骷谑覝叵掠休^佳的特性,高品質(zhì)的硅氧化層可由熱生長(zhǎng)的方式產(chǎn)生,成本低;硅含量占地表的25%,僅次于氧,儲(chǔ)量豐富。
(2) 化合物半導(dǎo)體:砷化鎵(GaAs)、磷化銦(InP)等。
化合物半導(dǎo)體可以根據(jù)組成元素的多少進(jìn)一步細(xì)分為:
(a) 二元化合物半導(dǎo)體:
由兩種元素組成,比如常見的:
IV-IV族元素化合物半導(dǎo)體:碳化硅(SiC);?
III-V族元素化合物半導(dǎo)體:砷化鎵(GaAs)、磷化鎵(GaP)、磷化銦(InP)等;
II-VI族元素化合物半導(dǎo)體:氧化鋅(ZnO)、硫化鋅(ZnS)、碲化鎘(CdTe)等;
IV-VI族元素化合物半導(dǎo)體:硫化鉛(PbS)、硒化鉛(PbSe)、碲化鉛(PbTe)
(b) 三元化合物半導(dǎo)體,由三種元素組成,比如:
由III族元素鋁(Al)、鎵(Ga)及V族元素砷(As)所組成的合金半導(dǎo)體AlxGa(1-x)As即是一種三元化合物半導(dǎo)體。
(c) 多元化合物半導(dǎo)體:由三種及以上元素組成。
具有AxB(1-x)CyD(1-y)形式的四元化合物半導(dǎo)體可由許多二元及三元化合物半導(dǎo)體組成。例如,四元化合物GaxIn(1-x)AsyP(1-y)合金半導(dǎo)體是由磷化鎵(GaP)、磷化銦(InP)及砷化鎵(GaAs)所組成。
半導(dǎo)體分類見下圖:
四、為什么硅可作為半導(dǎo)體材料?
硅在元素周期表中排列第14位,最外層有14個(gè)電子,下圖是硅晶體結(jié)構(gòu)圖以及電子排布情況。每個(gè)硅原子在外圍軌道有四個(gè)電子,分別與周圍4個(gè)原子共用4對(duì)電子。這種共用電子對(duì)的結(jié)構(gòu)稱為共價(jià)鍵(covalent bonding)。每個(gè)電子對(duì)組成一個(gè)共價(jià)鍵。
低溫時(shí),電子分別被束縛在四面體晶格中,因此無(wú)法作電的傳導(dǎo)。但在高溫時(shí),熱振動(dòng)可以打斷共價(jià)鍵。當(dāng)一些鍵被打斷時(shí),所產(chǎn)生的自由電子可以參與電的傳導(dǎo)。而一個(gè)自由電子產(chǎn)生時(shí),會(huì)在原處產(chǎn)生一個(gè)空缺。此空缺可由鄰近的一個(gè)電子填滿,從而產(chǎn)生空缺位置的移動(dòng),并可被看作與電子運(yùn)動(dòng)方向相反的正電荷,稱為空穴(hole)。半導(dǎo)體中可移動(dòng)的電子與空穴統(tǒng)稱為載流子。
下圖中是空穴移動(dòng)的過(guò)程:
前面已經(jīng)提到,元素硅最外層有4個(gè)電子,這4個(gè)電子還有一個(gè)細(xì)節(jié)要提一下,4個(gè)電子分布在2個(gè)軌道上,類似人造衛(wèi)星繞地球運(yùn)行,4個(gè)人造衛(wèi)星在2個(gè)空間軌道上繞地球旋轉(zhuǎn)。
我們知道半導(dǎo)體晶圓是硅元素組成的,硅原子按照晶體生產(chǎn)的方式長(zhǎng)呈有序排列,從平面的角度來(lái)看硅原子的排列是這樣的:
從立體的角度看硅原子的排列是這樣的:
這種原子按照周期性排列的方式稱為晶體結(jié)構(gòu),關(guān)于晶體的介紹,有興趣可以看前面章節(jié)的介紹。
五、半導(dǎo)體相關(guān)知識(shí)點(diǎn)
(1)能級(jí)和能帶
我們可以把原子想象成行星,圍繞原子周圍的電子想象成圍繞行星旋轉(zhuǎn)的衛(wèi)星。
銀河系中當(dāng)兩個(gè)行星的距離足夠遠(yuǎn)時(shí),可以認(rèn)為這些行星有相同的能量。當(dāng)兩個(gè)行星逐漸接近時(shí),由于行星之間的交互作用,包括其中任意兩個(gè)行星間的吸引力與排斥力,將造成能級(jí)的移動(dòng)。
有別于只有兩個(gè)行星時(shí)能級(jí)只是一分為二,當(dāng)銀河系中有很多個(gè)行星相互靠近時(shí),此時(shí)能級(jí)將分裂成N個(gè)分離但接近的能級(jí)。當(dāng)N很大時(shí),將形成連續(xù)的能帶,此N個(gè)能級(jí)可延伸幾個(gè)電子伏特,視行星的間距而定。
下圖是描述行星(原子)相互之間的距離和能級(jí)的關(guān)系:
現(xiàn)在回到半導(dǎo)體晶圓硅片的原子排布關(guān)系,在平衡狀態(tài)下的原子距離時(shí),能帶將再度分裂,使得每個(gè)原子在較低能帶有4個(gè)量子態(tài),而在較高能帶也有4個(gè)量子態(tài)。
在絕對(duì)零度時(shí),電子占據(jù)最低能態(tài),因此在較低能帶(即價(jià)帶)的所有能態(tài)將被電子填滿,而在較高能帶(即導(dǎo)帶)的所有能態(tài)將沒有電子,導(dǎo)帶的底部稱為Ec,價(jià)帶的頂部稱為Ev。
導(dǎo)帶底部與價(jià)帶頂部間的禁止能量間隔(forbidden energy gap)(Ec -Ev)稱為禁帶寬度Eg。
如下圖所示,在物理意義上,Eg代表將半導(dǎo)體價(jià)帶中的電子斷鍵,變成自由電子,并將此自由電子送到導(dǎo)帶,而在價(jià)帶中留下一個(gè)空穴所需的能量。
自由電子的動(dòng)能可表示為:
E=P2/2M
其中p為動(dòng)量,m為自由電子質(zhì)量。
畫出E相對(duì)p的圖,將得到如圖所示的拋物線圖。
對(duì)硅而言,其動(dòng)量與能量曲線中價(jià)帶頂部發(fā)生在p=0時(shí),但導(dǎo)帶的最低處則發(fā)生在沿[100]方向的p=pC。因此,當(dāng)電子從硅的價(jià)帶頂部轉(zhuǎn)換到導(dǎo)帶最低點(diǎn)時(shí),不僅需要能量轉(zhuǎn)換(≥Eg),也需要?jiǎng)恿哭D(zhuǎn)換(≥pC),見下圖(a)。
這類半導(dǎo)體稱為間接帶隙半導(dǎo)體。
上圖(b)為砷化鎵的動(dòng)量-能量關(guān)系曲線,其價(jià)帶頂部與導(dǎo)帶最低處發(fā)生在相同動(dòng)量處(p=0)。因此,當(dāng)電子從價(jià)帶轉(zhuǎn)換到導(dǎo)帶時(shí),不需要?jiǎng)恿哭D(zhuǎn)換。
這類半導(dǎo)體稱為直接帶隙半導(dǎo)體。
(2)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣體
金屬、半導(dǎo)體及絕緣體的電導(dǎo)率存在巨大差異,這種差異可用它們的能帶來(lái)作定性解釋。人們發(fā)現(xiàn),電子在最高能帶或最高兩能帶的占有率決定此固體的導(dǎo)電性。
導(dǎo)體(金屬):金屬導(dǎo)體的電阻很低,其導(dǎo)帶不是部分填滿[如銅(Cu)]就是與價(jià)帶重疊[如鋅(Zn)或鉛(Pb)],所以根本沒有禁帶存在,如圖所示。
因此,部分填滿的導(dǎo)帶最高處的電子或價(jià)帶頂部的電子在獲得動(dòng)能時(shí)(如從一外加電場(chǎng)),可移動(dòng)到下一個(gè)較高能級(jí)。對(duì)金屬而言,因?yàn)榻咏紳M電子的能態(tài)處尚有許多未被占據(jù)的能態(tài),因此只要有一個(gè)小小的外加電場(chǎng),電子就可自由移動(dòng),故金屬導(dǎo)體可以輕易傳導(dǎo)電流。
絕緣體:絕緣體如二氧化硅(SiO2),其價(jià)帶電子在鄰近原子間形成很強(qiáng)的共價(jià)鍵。這些鍵很難打斷,因此在室溫或接近室溫時(shí),并無(wú)自由電子參與傳導(dǎo),如圖所示。
絕緣體的特征是有很大的禁帶寬度,在圖中可以發(fā)現(xiàn)電子完全占滿價(jià)帶中的能級(jí),而導(dǎo)帶中的能級(jí)則是空的。熱能或外加電場(chǎng)能量并不足以使價(jià)帶頂端的電子激發(fā)到導(dǎo)帶。因此,雖然絕緣體的導(dǎo)帶有許多空的能態(tài)可以接受電子,但實(shí)際上幾乎沒有電子可以占據(jù)導(dǎo)帶上的能態(tài),對(duì)電導(dǎo)的貢獻(xiàn)很小,造成很大的電阻,因此無(wú)法傳導(dǎo)電流。
半導(dǎo)體:半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率介于導(dǎo)體和絕緣體之間,且易受溫度、光照、磁場(chǎng)及微量雜質(zhì)原子的影響,其禁帶寬度較小(約為1eV),如圖所示。
在T=0K時(shí),所有電子都位于價(jià)帶,而導(dǎo)帶中并無(wú)電子,因此半導(dǎo)體在低溫時(shí)是不良導(dǎo)體。在室溫及正常氣壓下,硅的Eg值為1.12eV,而砷化鎵為1.42eV。因此在室溫下,熱能kT占Eg的一定比例,有些電子可以從價(jià)帶激發(fā)到導(dǎo)帶。因?yàn)閷?dǎo)帶中有許多未被占據(jù)的能態(tài),故只要小量的外加能量,就可以輕易移動(dòng)這些電子,產(chǎn)生可觀的電流。
(3)本征半導(dǎo)體(intrinsic semiconductor) :
當(dāng)半導(dǎo)體中雜質(zhì)遠(yuǎn)小于由熱產(chǎn)生的電子空穴時(shí),此種半導(dǎo)體稱本征半導(dǎo)體。
(4)非本征半導(dǎo)體(extrinsic semiconductor):
當(dāng)半導(dǎo)體被摻入雜質(zhì)時(shí),半導(dǎo)體變成非本征的(extrinsic),而且引入雜質(zhì)能級(jí)。
本征半導(dǎo)體可以理解為炒一盤大白菜,什么調(diào)料也不加,大白菜本身的味道是什么就是什么,稱為本征。
非本征半導(dǎo)體可以理解為同樣是炒大白菜,在里面加入不同的調(diào)料,做出來(lái)的菜呈現(xiàn)了不同的味道。
正是因?yàn)樵诩尤氩煌{(diào)料有不同的味道時(shí),人們對(duì)于半導(dǎo)體的摻雜應(yīng)用就進(jìn)一步廣泛了。
(5)施主(donor):
我們知道晶圓是硅原子組成的,硅最外層有4個(gè)電子,有人想到一個(gè)點(diǎn)子,如果把外層有5個(gè)電子的砷元素加入到晶圓中,一個(gè)硅原子被一個(gè)帶有5個(gè)價(jià)電子的砷原子所取代(或替補(bǔ))。此砷原子與4個(gè)鄰近硅原子形成共價(jià)鍵,而其第5個(gè)電子有相當(dāng)小的束縛能,能在適當(dāng)溫度下被電離成傳導(dǎo)電子。
通常我們說(shuō)此電子被施給了導(dǎo)帶,砷原子因此被稱為施主。由于帶負(fù)電載流子增加,硅變成n型半導(dǎo)體(英文單詞Negative首字母),通過(guò)下圖了解一下:
(6)受主(acceptor):
同樣的道理,在一片由硅原子生長(zhǎng)的晶圓中,當(dāng)一個(gè)帶有3個(gè)價(jià)電子的硼原子取代硅原子時(shí),需要接受一個(gè)額外的電子,以在硼原子四周形成4個(gè)共價(jià)鍵,也因而在價(jià)帶中形成一個(gè)帶正電的空穴(hole)。
此即為p型(Positive)半導(dǎo)體,而硼原子則被稱為受主。
六、半導(dǎo)體中電子的運(yùn)動(dòng)
半導(dǎo)體導(dǎo)帶中的傳導(dǎo)電子并不與任何特殊晶格或施主位置結(jié)合,因此基本上它們是屬于自由粒子。在熱平衡下,一個(gè)傳導(dǎo)電子存在熱運(yùn)動(dòng)(速度vth)。在室溫下,硅及砷化鎵中的電子熱運(yùn)動(dòng)速度約為10E7cm/s。
半導(dǎo)體中的電子會(huì)在所有的方向作快速移動(dòng),如下圖所示。
當(dāng)一個(gè)小電場(chǎng)E施加于半導(dǎo)體樣品上時(shí),每一個(gè)電子會(huì)從電場(chǎng)上受到一個(gè)qE的作用力,碰撞時(shí),沿電場(chǎng)的反方向加速。因此,一個(gè)額外的速度成分將再加到熱運(yùn)動(dòng)的電子上,此額外速度成分稱為漂移速度(drift velocity)。
一個(gè)電子由于隨機(jī)熱運(yùn)動(dòng)及漂移成分兩者所造成的位移如下圖所示。
需要注意的是,電子的凈位移與施加的電場(chǎng)方向相反(因?yàn)殡娮訋ж?fù)電荷)。
這種在外電場(chǎng)作用下載流子的定向運(yùn)動(dòng)稱為漂移運(yùn)動(dòng)。
下圖(a)為一n型半導(dǎo)體及其在熱平衡狀態(tài)下的能帶圖。圖(b)為一電壓施加在右端時(shí)所對(duì)應(yīng)的能帶圖。
假設(shè)左端及右端的接觸面均為歐姆接觸,在外加電場(chǎng)的影響下,載流子的運(yùn)輸會(huì)產(chǎn)生電流,稱為漂移電流(drift current)。
(7)霍耳效應(yīng)
在一個(gè)半導(dǎo)體中,載流子的濃度可能不同于雜質(zhì)的濃度,因?yàn)殡婋x的雜質(zhì)濃度與溫度以及雜質(zhì)能級(jí)有關(guān)。而直接測(cè)量載流子濃度最常用的方法為霍耳效應(yīng)。霍耳測(cè)量也是能夠展現(xiàn)出空穴以帶電載流子方式存在的最令人信服的方法之一,因?yàn)闇y(cè)量本身即可直接判別出載流子的型態(tài)。
測(cè)量方法:考慮對(duì)一個(gè)p型半導(dǎo)體樣品施加沿x軸方向的電場(chǎng)及沿z軸方向的磁場(chǎng),如圖所示。
由于磁場(chǎng)作用產(chǎn)生的洛倫茲力qv×B(=qvxBz)將會(huì)對(duì)在x軸方向流動(dòng)的空穴施以一個(gè)向上的力,這將造成空穴在樣品上方堆積,并因而產(chǎn)生一個(gè)向下的電場(chǎng)Ey 。
一旦電場(chǎng)Ey變得與vxBz相等,空穴在x軸方向漂移時(shí)就不會(huì)受到一個(gè)沿y軸方向的凈力。此電場(chǎng)的建立即為霍耳效應(yīng)。上式中的電場(chǎng)稱之為霍耳電場(chǎng),兩端電壓VH=EyW稱為霍耳電壓。
(8)雪崩過(guò)程 (avalancheprocess):
當(dāng)半導(dǎo)體中的電場(chǎng)增加到超過(guò)某一定值時(shí),載流子將得到足夠的動(dòng)能來(lái)通過(guò)雪崩過(guò)程產(chǎn)生電子–空穴對(duì),如下圖所示。
考慮一個(gè)在導(dǎo)帶中的電子1,假設(shè)電場(chǎng)足夠高,此電子可在晶格碰撞之前獲得動(dòng)能。當(dāng)與晶格碰撞時(shí),電子消耗大部分動(dòng)能使化學(xué)鍵斷裂,也就是將一個(gè)價(jià)電子從價(jià)帶電離至導(dǎo)帶,因而產(chǎn)生一個(gè)電子–空穴對(duì)2與2′。產(chǎn)生的電子–空穴對(duì)在電場(chǎng)中開始被加速并與晶格發(fā)生碰撞,它們將產(chǎn)生其他電子–空穴對(duì),如3與3′和4與4′,依此類推,這個(gè)過(guò)程稱為雪崩過(guò)程,亦稱碰撞電離(impactionization)過(guò)程,它將導(dǎo)致p–n結(jié)的結(jié)擊穿(junction breakdown)。
結(jié)擊穿后,半導(dǎo)體導(dǎo)電性將發(fā)生改變,不再具有半導(dǎo)體相關(guān)特性,器件失效。
審核編輯:黃飛
評(píng)論
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