電源設(shè)備可靠性的研討
本文所研討的可靠性問(wèn)題,適用于幾乎所有的電子系統(tǒng)和機(jī)電一體化設(shè)備。電源設(shè)備尤其是交流電源設(shè)備,作為電子系統(tǒng)的基礎(chǔ)部件,長(zhǎng)期、穩(wěn)定地保持正常工作能力尤為重要。美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室的研究報(bào)告指出:造成計(jì)算機(jī)等精密電子設(shè)備損壞的主要原因是電壓的浪涌(surge),即短期(10ms左右)或長(zhǎng)期的過(guò)電壓,占全部損壞原因的45.3%。雷擊占9.4%。引起設(shè)備工作不正常和誤碼的主要原因是電壓過(guò)低(含短期脈動(dòng))(sags)占87%,以及脈沖尖峰干擾占9%。因而,世界上許多著名的制造商均有嚴(yán)格的場(chǎng)地供電標(biāo)準(zhǔn),責(zé)成用戶(hù)予以保證。
近年來(lái),電源設(shè)備日趨復(fù)雜,元器件的品種和數(shù)量增加很快;使用環(huán)境也變得惡劣多樣;而所服務(wù)的電子系統(tǒng)又越來(lái)越重要和昂貴。以交流參數(shù)穩(wěn)壓電源為例,已廣泛地應(yīng)用于車(chē)載、艦載、地面的軍用裝備,航空航天部門(mén),鐵路和交通的信號(hào)和通信系統(tǒng)等方面。電源需要日夜不停地連續(xù)運(yùn)行,還要經(jīng)受高、低溫,高濕,沖擊等考驗(yàn)。運(yùn)行中往往不允許檢修,或只能從事簡(jiǎn)單的維護(hù)。這一切就使得電源設(shè)備的可靠性研究,變得刻不容緩,十分重要了。其實(shí),早在上世紀(jì)70年代,英國(guó)電氣工程師學(xué)會(huì)發(fā)表的論文就指出:在提供軍事通信的英國(guó)天網(wǎng)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)研制中,中心課題首先是可靠性!
國(guó)際上,通用的可靠性定義為:在規(guī)定環(huán)境條件下,和規(guī)定的時(shí)間內(nèi),完成規(guī)定功能的能力。此定義適用于一個(gè)系統(tǒng),也適用于一臺(tái)設(shè)備或一個(gè)單元。由于故障出現(xiàn)的隨機(jī)性質(zhì),用數(shù)學(xué)方式來(lái)描述可靠性,常用“概率”來(lái)表示。
從而,引出可靠度[R(t)]的定義:系統(tǒng)在規(guī)定環(huán)境條件下和規(guī)定時(shí)間內(nèi),完成規(guī)定功能的概率。
例如:對(duì)N個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn),每經(jīng)過(guò)Δt的時(shí)間間隔檢查一次,每次出故障的產(chǎn)品數(shù)為ni,則在T時(shí)間內(nèi)的可靠度R(t)為:R(t)=[(N-)/N],可近似為:R(t)=(N-)/N
R(t)的數(shù)值范圍為:0≤R(t)≤1。R(t)的值越接近于1,則表示可靠性越高。如系統(tǒng)有N個(gè)單元組成(串聯(lián)方式),各單元的R(t)分別為R1(t),R2(t)……RN(t),則整個(gè)系統(tǒng)的RΣ(t)=R1(t)·R2(t)…RN(t)??梢?jiàn),系統(tǒng)越復(fù)雜,可靠性越差。
1影響系統(tǒng)可靠性的因素
涉及系統(tǒng)可靠性的因素很多。目前,人們認(rèn)識(shí)上的主要誤區(qū)是把可靠性完全(或基本上)歸結(jié)于元器件的可靠性和制造裝配的工藝;忽略了系統(tǒng)設(shè)計(jì)對(duì)于可靠性的決定性的作用。據(jù)美國(guó)海軍電子實(shí)驗(yàn)室的統(tǒng)計(jì),整機(jī)出現(xiàn)故障的原因和各自所占的百分比如表1所列:
lim
Δt→0
N→∞
表1整機(jī)故障原因統(tǒng)計(jì)
故障原因 | 占總失效數(shù)的(%) |
---|---|
設(shè)計(jì)上的原因元器件質(zhì)量上的原因操作和維護(hù)上的原因制造上的原因 | 40302010 |
2衡量系統(tǒng)可靠性的指標(biāo)及其數(shù)學(xué)關(guān)系
2?1失效率λ
λ定義為:該種產(chǎn)品在單位時(shí)間內(nèi)的故障數(shù)。即:
λ=dn/dt
相對(duì)于每一個(gè)依然正常工作的樣品的失效率,
λ=(1/NS)·dn/dt
式中:NS為總試驗(yàn)品N,經(jīng)過(guò)Δt時(shí)間以后,依然正常工作的樣品數(shù)。
工程上,采用近似式。如果在一定時(shí)間間隔(t1-t2)內(nèi),試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)的正常工作的樣品數(shù)為ns個(gè),而經(jīng)過(guò)(t1-t2)后出現(xiàn)的故障樣品數(shù)為n個(gè),則這一批樣品中對(duì)于每一個(gè)正常樣品的失效率λ為:
λ=n/[ns(t1-t2)]
失效率λ的數(shù)值越小,則表示可靠性越高。λ可以作為電子系統(tǒng)和整機(jī)的可靠性特征量,更經(jīng)常作為元器件和接點(diǎn)等的可靠性特征量。其量綱為[1/h]。國(guó)際上常用[1/109h]稱(chēng)為[fit],作為λ的量綱。
例如,美國(guó)GE公司97F8000系列用于交流電源的金屬化薄膜電容器的工作壽命為:100只電容器在工作60000h以后,95只電容器正常,5只電容器此期間有可能出現(xiàn)故障。則:
λ=n/〔ns(t1-t2)〕
代入ns=100,n=5,(t1-t2)=60000h,則有:
λ=0.83·10-6/h=830[fit]。
美國(guó)1974年頒布的標(biāo)準(zhǔn)工作條件下的元器件基本失效率如表2所列(供參考)。
2?2平均無(wú)故障工作時(shí)間MTBF
MTBF的定義為:電子系統(tǒng)無(wú)故障工作時(shí)間的平均值。
對(duì)于一批(N臺(tái))電子系統(tǒng)而言:MTBF=ti/N[h]
式中:ti—第i個(gè)電子系統(tǒng)的無(wú)故障工作時(shí)間[h];
N—電子系統(tǒng)的數(shù)量。
工程上,如一臺(tái)整機(jī),在試驗(yàn)時(shí),總的試驗(yàn)時(shí)間為T(mén),而出現(xiàn)了n次故障。出現(xiàn)故障進(jìn)行修復(fù),然后再進(jìn)行試驗(yàn)(維修的時(shí)間不包括在總試驗(yàn)時(shí)間T內(nèi))。則:
MTBF=T/n[h]
MTBF數(shù)值越大,則表示該電子系統(tǒng)可靠性越高。MTBF的參考數(shù)據(jù)如表3所列:
表3MTBF的參考數(shù)據(jù)
電子系統(tǒng)名稱(chēng) | MTBF/(h) |
---|---|
1978年集成彩色電視接收機(jī)(國(guó)際水平) | ≥2000 |
阿波羅宇宙飛船電子計(jì)算機(jī) | (2~2.5)×104 |
英國(guó)天網(wǎng)衛(wèi)星系統(tǒng) | 1000 |
美國(guó)“泰康”遠(yuǎn)程導(dǎo)航設(shè)備(20世紀(jì)80年代) | 150 |
Simods數(shù)字頻率合成器 | 10×104 |
T=60000h,100只受試電容共出現(xiàn)5只有故障,那么對(duì)于每只電容器來(lái)講:
MTBF=100T/n=120×104h。
在此,必須明確不論是失效率λ,還是平均無(wú)故障工作時(shí)間MTBF,均為衡量設(shè)備或元器件可靠性的“概率”性的指標(biāo)。切不可誤解為對(duì)于上述電容器每只可以工作120萬(wàn)h以后才會(huì)出現(xiàn)故障。具體到某一只電容器,也可能一用就壞,更大的可能是工作60000h以后還是很正常。
2?3平均維修時(shí)間MTTR
MTTR的定義為:系統(tǒng)維修過(guò)程中,每次修復(fù)時(shí)間的平均值。即:
表2美國(guó)1974年頒布的標(biāo)準(zhǔn)工作條件下元器件失效率
元器件類(lèi)型 | λ(fit) | |
---|---|---|
電阻器 | 固定薄膜 | 4 |
合成電位器 | 138 | |
線繞電位器 | 167 | |
電容器 | 紙介 | 70 |
鋁電介 | 117 | |
可變陶瓷 | 393 | |
繼電器 | 6 | |
半導(dǎo)體二極管 | 硅 | 20 |
齊納 | 18 | |
半導(dǎo)體三極管 | 鍺PNP | 56 |
鍺NPN | 140 | |
硅PNP | 63 | |
硅NPN | 33 |
表4國(guó)際通信衛(wèi)星系統(tǒng)有關(guān)R(t)參考數(shù)據(jù)
電子系統(tǒng)名稱(chēng) | R(t)/(%) | |
---|---|---|
國(guó)際通信衛(wèi)星Ⅲ號(hào) | 地面站 | 99.7 |
天線 | 93.5 | |
電源 | 94.2 | |
國(guó)際通信衛(wèi)星Ⅳ號(hào)轉(zhuǎn)發(fā)器電子設(shè)備 | 連續(xù)工作2個(gè)月時(shí) | 99.9 |
連續(xù)工作7年后 | 79.0 | |
供電系統(tǒng)國(guó)際水平 | 99.95 |
式中:Δti—第i次的修復(fù)時(shí)間[h]。
M—修復(fù)次數(shù)。
任何設(shè)備無(wú)論如何可靠,永遠(yuǎn)存在著維修的問(wèn)題。所以MTTR總是越小越好。因而,實(shí)現(xiàn)方便快捷的維修或不停機(jī)維修有著重大的價(jià)值。
2?4有效度(可用度)A
A的定義為:電子系統(tǒng)使用過(guò)程中(尤其在不間斷連續(xù)使用條件下)可以正常使用的時(shí)間和總時(shí)間的比例(通常以百分比來(lái)表示)。即:
A=MTBF/(MTBF+MTTR)
A值越接近于100%,表示電子系統(tǒng)有效工作的程度越高。
實(shí)際上,設(shè)備MTBF受到系統(tǒng)復(fù)雜程度,成本等多方面因素的限制,不易達(dá)到很高的數(shù)值。盡量縮短MTTR也同樣可以達(dá)到增加A的目的。對(duì)于高失效率單元,采用快速由備份單元代替失效單元的冗余式設(shè)計(jì),可以在MTBF不很高的情況,使MTTR接近于0,這樣,也可以使A近于100%。
2?5可靠度R(t)
可靠度R(t)是衡量電子系統(tǒng)可靠性的最基本的指標(biāo)??蓮目煽慷萊(t)的定義中導(dǎo)出故障概率F(t)。即:
F(t)=1-R(t),或R(t)=1-F(t)。
可以看出,對(duì)于R(t)和F(t)來(lái)講,其值均為時(shí)間量t的函數(shù)。極端來(lái)講,t=0時(shí),任何系統(tǒng)的R(t)=1,〔F(t)=0〕。在t=∞時(shí),任何系統(tǒng)的R(t)=0,〔F(t)=1〕。R(t)和F(t)只有在指定的時(shí)間范圍以?xún)?nèi)才有具體的意義。在實(shí)際使用中常用年可靠度P來(lái)表示。
年可靠度P的定義為:電子系統(tǒng)在規(guī)定的環(huán)境條件下,在1年的時(shí)間內(nèi),完成規(guī)定功能的概率。例如P=0.9,就說(shuō)明系統(tǒng)在一年內(nèi)有90%的可能不出現(xiàn)故障。(也即有10%的可能會(huì)出現(xiàn)故障)。如果在一個(gè)地點(diǎn)有10臺(tái)同類(lèi)設(shè)備,則平均1年會(huì)有1臺(tái)設(shè)備可能需要進(jìn)行維修。
國(guó)際通信衛(wèi)星系統(tǒng)有關(guān)可靠度R(t)的參考數(shù)據(jù)如表4所列。
2.6失效率λ,平均無(wú)故障工作時(shí)間MTBF和可靠度R(t),故障概率F(t)之間的數(shù)學(xué)關(guān)系
依據(jù)λ,MTBF,R(t),F(xiàn)(t)的定義和基本數(shù)學(xué)表達(dá)式,經(jīng)數(shù)學(xué)運(yùn)算以后,可得出以下的相互數(shù)學(xué)關(guān)系(運(yùn)算過(guò)程從略)。
(1)MTBF=1/λ或λ=1/MTBF,
即λ和MTBF互為倒數(shù)關(guān)系。
(2)R(t)=e-λt或R(t)=e-t/MTBF=1/et/MTBF,
即R(t)和λ之間為指數(shù)關(guān)系。
(3)F(t)=1-R(t)或R(t)=1-F(t),
這樣,λ,MTBF,R(t)三個(gè)指標(biāo),可以通過(guò)上述換算,從一個(gè)量算出另兩個(gè)量的對(duì)應(yīng)數(shù)值。在不同的場(chǎng)合,以上三個(gè)指標(biāo)都可能在衡量電子系統(tǒng)可靠性時(shí)交替使用。
3提高系統(tǒng)可靠性的途徑
3?1認(rèn)真從事系統(tǒng)可靠性的設(shè)計(jì)
電子系統(tǒng)的可靠性模型,大體上有以下三種形式:
(1)串聯(lián)系統(tǒng)的可靠性模型
串聯(lián)系統(tǒng)模型如圖1所示。串聯(lián)系統(tǒng)是指它的每一個(gè)元件對(duì)于系統(tǒng)的正常工作都是必須的,不可或缺的;任何一個(gè)元件的失效,將導(dǎo)致系統(tǒng)工作不正常。這是一種較常見(jiàn)和簡(jiǎn)單的系統(tǒng)。
如果系統(tǒng)有N種元件,每種元件的失效率為λi(i=1~N),則串聯(lián)系統(tǒng)的總失效率:
λ?=n1λ1+n2λ2+……nNλN
總的無(wú)故障工作時(shí)間:
MTBF?=1/λ?=1/[n1λ1+n2λ2+……nNλN]
年可靠度:P=1/e8760·λ?=1/e8760/MTBFN。(因每年共8760h)。
例(1):優(yōu)質(zhì)的交流參數(shù)穩(wěn)壓電源單元的MTBF0=20萬(wàn)h,如果每臺(tái)鐵路信號(hào)屏用10只電源單元。則每屏交流電源部分的MTBF=MTBF0/10=2萬(wàn)h。相當(dāng)于年可靠度P=0.645=64.5%。即年故障概率F=1-P=35.5%。也就是每臺(tái)電源屏每年有35.5%的可能性需要維修。如果一個(gè)車(chē)站有10臺(tái)信號(hào)屏,則每年有3~4臺(tái)交流參數(shù)穩(wěn)壓電源單元有可能出故障,就是很正常的情況。這也和某部門(mén)有100臺(tái)電源單元,大都連續(xù)工作的故障概率相仿。
圖1串聯(lián)系統(tǒng)模型
可見(jiàn),雖然每單元交流參數(shù)穩(wěn)壓電源MTBF0=20萬(wàn)h,已經(jīng)比其他類(lèi)型的交流電源高了許多倍(其它類(lèi)型電源MTBF往往只有數(shù)千h)。但處于連續(xù)工作條件下的串聯(lián)系統(tǒng)模型的信號(hào)屏的可靠度并不十分令人滿(mǎn)意。
(2)并聯(lián)系統(tǒng)的可靠性模型
并聯(lián)系統(tǒng)模型如圖2所示。圖中:U1,U2均可單獨(dú)地實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的功能,而且U1,U2任何一個(gè)單元出現(xiàn)故障,將自動(dòng)(或手動(dòng))和輸入、輸出端斷開(kāi),同時(shí)接入另一個(gè)互為備份的單元。
顯然,并聯(lián)系統(tǒng)的任何一個(gè)單元的失效,均不會(huì)影響系統(tǒng)的功能,只有在二個(gè)單元均失效時(shí),系統(tǒng)才不能正常工作。同理也可以N個(gè)單元并聯(lián)構(gòu)成一個(gè)系統(tǒng)。
其數(shù)學(xué)關(guān)系為:
故障概率:F(t)=F1(t)·F2(t)…FN(t)
若F1(t)=F2(t)…=FN(t)則可靠度:
R(t)=1-F(t)=1-[F1(t)]n
例(2):優(yōu)質(zhì)的交流參數(shù)穩(wěn)壓電源單元的MTBF0=20萬(wàn)h,每臺(tái)鐵路信號(hào)屏用10只電源單元。若每個(gè)電源單元有2臺(tái)互為備份的電源構(gòu)成并聯(lián)系統(tǒng)。則每臺(tái)電源的年可靠度:
P1=1/e8760/MTBF,P1=0.957
年故障概率F1=1-P1=0.043
所以,每個(gè)電源單元(2臺(tái)互為備份的電源構(gòu)成)的年故障率為:
F11=[F1]2=1.85×·10-3
每個(gè)電源單元的年可靠度:
P11=1-F11=1-[1-P1]2
=1-1.85×10-3=0.998=99.8%
每臺(tái)鐵路信號(hào)屏有10只電源單元,則每臺(tái)信號(hào)屏的年可靠度:
P=(P11)10
=(0.998)10=0.98=98%,
即年故障概率F=1-P,為2%。
若一個(gè)車(chē)站有10臺(tái)信號(hào)屏,則每年只有2%的可能性,會(huì)進(jìn)行一次維修。與例(1)串聯(lián)系統(tǒng)相比,故障概率降低了近18倍。
結(jié)論很明確,在每個(gè)單元的可靠性受各種限制不可能太高,而又要求系統(tǒng)具有很高的可靠度的情況下,采用并聯(lián)系統(tǒng)代替串聯(lián)系統(tǒng)是提高電子系統(tǒng)可靠性的根本方法。美國(guó)波音707飛機(jī)的發(fā)電機(jī)采用4臺(tái)并聯(lián)系統(tǒng)(用1備3),核電站的直流供電采用三臺(tái)并聯(lián)系統(tǒng)(用1備2),都是很好的例子。
并聯(lián)系統(tǒng)的成本將高于串聯(lián)系統(tǒng),但為了保證必要的可靠性,花些代價(jià)是必須的也是值得的。
(3)混合系統(tǒng)可靠性模型
實(shí)際工程中,為了在成本和可靠性方面求得平衡,常常使用串聯(lián)和并聯(lián)混合系統(tǒng)。也就是對(duì)可靠度較低的單元采用并聯(lián)系統(tǒng),可靠度高的單元保持串聯(lián)系統(tǒng)。模型如圖3所示。
混合系統(tǒng)的可靠度:
R(t)=R1(t)·R2(t)·R3-2(t)·R4(t)
如果R1=R2=R4=0.99,R3=0.9
則R3-2=1-[1-R3]2,R3-2=0.99
R=R1·R2·R3-2·R4
=0.96=96%。(F=4%)。
假使,U3不用并聯(lián)系統(tǒng),則R=0.87=87%,(F=13%)。可見(jiàn),兩者可靠度的差別還是很明顯的,故障率降低了3倍多。混合系統(tǒng)比串聯(lián)系統(tǒng)可靠性高,比并聯(lián)系統(tǒng)簡(jiǎn)單。
3.2改善電子系統(tǒng)的使用環(huán)境降低元器件的環(huán)境溫度
電子系統(tǒng)的可靠性和使用環(huán)境如何有著極為密切的關(guān)系。元器件的失效率在不同的使用環(huán)境中和其基本失效率差別很大,通常應(yīng)以環(huán)境系數(shù)進(jìn)行修正。美國(guó)于上世紀(jì)70年代公布了不同元器件的環(huán)境系數(shù)數(shù)值。原有9種環(huán)境條件,現(xiàn)只列出較常用和有代表性的4種如下:
圖2并聯(lián)系統(tǒng)模型
圖3混合系統(tǒng)模型
——GB:良好地面環(huán)境。環(huán)境引力接近于“0”,工程操作和維護(hù)良好。
——GF:地面固定式的使用環(huán)境。裝在永久性機(jī)架上,有足夠的通風(fēng)冷卻。由軍事人員維修,通常在不熱的建筑內(nèi)安裝。
——NS:艦船艙內(nèi)環(huán)境。水面艦船條件,類(lèi)似于GF。但要受偶然劇烈的沖擊振動(dòng)。
——GM:地面移動(dòng)式和便攜式的環(huán)境。劣于地面固定式的條件,主要是沖擊振動(dòng)。通風(fēng)冷卻可能受限制,只能進(jìn)行簡(jiǎn)易維修。
上述環(huán)境條件下的環(huán)境系數(shù)πE如表5所列:
表5環(huán)境系數(shù)πE
元器件類(lèi)型 | GB | GF | NS | GM | ||
---|---|---|---|---|---|---|
集成電路 | 0.2 | 1.0 | 4.0 | 4.0 | 說(shuō)明:λp=λb·πE式中:
λp實(shí)際使用中的 失效率λb基本 失效率πE環(huán)境系數(shù) | |
電位器 | 1.0 | 2.0 | 5.0 | 7.0 | ||
功率型薄膜電阻器 | 1.0 | 5.0 | 7.5 | 12.0 | ||
電容器 | 紙和塑料膜 | 1.0 | 2.0 | 4.0 | 4.0 | |
陶瓷 | 1.0 | 2.0 | 4.0 | 4.0 | ||
鋁電介 | 1.0 | 2.0 | 12.0 | 12.0 | ||
變壓器 | 1.0 | 2.0 | 5.0 | 3.0 | ||
繼電器 | 軍用 | 1.0 | 2.0 | 9 | 10 | |
下等質(zhì)量 | 2.0 | 4.0 | 24 | 30 | ||
開(kāi)關(guān) | 0.3 | 1.0 | 1.2 | 5.0 | ||
接插件 | 軍用 | 1.0 | 4.0 | 4.0 | 8.0 | |
下等質(zhì)量 | 10 | 16 | 12 | 16 |
過(guò)高的環(huán)境溫度對(duì)元器件的可靠性非常有害:
(1)半導(dǎo)體器件(含各種集成電路和二極管,三極管)
例如硅三極管以PD/PR=0.5設(shè)計(jì)(PD:使用功率,PR:額定功率),則環(huán)境溫度對(duì)可靠性的影響,如表6所列。
表6環(huán)境溫度對(duì)半導(dǎo)體器件可靠性的影響
環(huán)境溫度Ta[℃] | 20 | 50 | 80 |
---|---|---|---|
失效率λ[1/109h] | 500 | 2500 | 15000 |
以UD/UR=0.6設(shè)計(jì)(UD:使用電壓,UR:額定電壓),則環(huán)境溫度對(duì)可靠性的影響如表7所列。
表7環(huán)境溫度對(duì)電容器可靠性的影響
環(huán)境溫度Ta[℃] | 20 | 50 | 80 |
---|---|---|---|
失效率λ[1/109h] | 5 | 25 | 70 |
以PD/PR=0.5設(shè)計(jì),則環(huán)境溫度對(duì)可靠性的影響如表8所列。
表8環(huán)境溫度對(duì)碳膜電阻器可靠性的影響
環(huán)境溫度Ta[℃] | 20 | 50 | 80 |
---|---|---|---|
失效率λ[1/109h] | 1 | 2 | 4 |
可見(jiàn),加強(qiáng)通風(fēng)冷卻十分有益于電子系統(tǒng)的可靠性。國(guó)內(nèi)有些部門(mén)(如鐵路)要求系統(tǒng)有很高的可靠性,又明令不許使用風(fēng)扇進(jìn)行強(qiáng)迫通風(fēng)冷卻。結(jié)果不僅設(shè)備成本提高,可靠性也難以真正保證,人為地造成了許多問(wèn)題。其實(shí),現(xiàn)在優(yōu)質(zhì)的風(fēng)扇可以保證50000~60000h的使用壽命(相當(dāng)于連續(xù)運(yùn)行6年以上)。更換風(fēng)扇比其他部件的維修也省力省時(shí)得多。只要在系統(tǒng)設(shè)計(jì)條件中,規(guī)定風(fēng)扇即使不工作,設(shè)備依然可以長(zhǎng)期正常運(yùn)行。那么,加強(qiáng)通風(fēng)冷卻,絕對(duì)有利于可靠性,何樂(lè)而不為!
3?3減小元器件的負(fù)荷率是改善失效率的捷徑
元器件實(shí)際工作中的負(fù)荷率和失效率之間存在著直接的關(guān)系。因而,元器件的類(lèi)型,數(shù)值確定以后,應(yīng)從可靠性的角度來(lái)選擇元器件必須滿(mǎn)足的額定值。如半導(dǎo)體器件的額定功率、額定電壓、額定電流,電容器的額定電壓,電阻器的額定功率等等。
(1)硅半導(dǎo)體器件
環(huán)境溫度Ta=50℃,PD/PR對(duì)頻率的影響如表9所列。
表9PD/PR對(duì)硅半導(dǎo)體器件失效率的影響
PD/PR | 0 | 0.2 | 0.3 | 0.4 | 0.5 | 0.6 | 0.7 | 0.8 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
λ[1/109h] | 30 | 50 | 150 | 700 | 2500 | 7000 | 20000 | 70000 |
(2)電容器
英國(guó)曾發(fā)表電容器失效率λ正比于工作電壓的5次方的資料,稱(chēng)為“五次方定律”,即λ∝U5。
當(dāng)U=UR/2,
λ=λR/25=λR/32(λR為額定失效率)
當(dāng)U=0.8UR=UR/1.25,
λ=λR/(1.25)5=λR/3.05
當(dāng)電容器工作電壓降低到額定值的50%時(shí),失效率可以減小32倍之多。
(3)碳膜電阻器
環(huán)境溫度Ta=50℃,美國(guó)于上世紀(jì)70年代實(shí)際使用的軍品數(shù)據(jù)如表10所列。
表10PD/PR對(duì)碳膜電阻器失效率的影響
PD/PR | 0 | 0.2 | 0.4 | 0.6 | 0.8 | 1.0 |
---|---|---|---|---|---|---|
λ[1/109h] | 0.25 | 0.5 | 1.2 | 2.5 | 4.0 | 7.0 |
以上數(shù)據(jù)表明為了保證可靠性,必須減小元器件的負(fù)荷率。例如:美國(guó)“民兵”洲際導(dǎo)彈的電子系統(tǒng)規(guī)定元器件的負(fù)荷率為0.2。
實(shí)際使用中的經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)為:
——半導(dǎo)體元器件負(fù)荷率應(yīng)在0.3左右;
——電容器負(fù)荷率(工作電壓和額定電壓之比)最好在0.5左右,一般不要超過(guò)0.8;
——電阻器、電位器、負(fù)荷率≤0.5。
總之,對(duì)各種元器件的負(fù)荷率只要有可能,一般應(yīng)保持在≤0.3。不得已時(shí),通常也應(yīng)≤0.5。
3?4簡(jiǎn)化電路,減少元器件的數(shù)量,盡量集成化,認(rèn)真選用高可靠性的元器件,是提高可靠性的最基本思路
電子系統(tǒng)可靠度
R=R1·R2·R3……RN(0≤R≤1)。
電子系統(tǒng)的失效率
λ=n1·λ1+n2·λ2+n3·λ3……nN·λN.(λ≥0)
顯然,元器件數(shù)量越多越不可靠。
假如每個(gè)元器件Ri=0.999,共有5000個(gè)元器件,則R=0.9995000=0.01,顯然極不可靠。
若元器件數(shù)量減到1800個(gè),則R=0.9991800=0.19。說(shuō)明如能做到元器件減少64%,可靠度將增加19倍。
因而應(yīng)盡量采用集成化的器件。如一只集成電路可以代替成千上萬(wàn)只半導(dǎo)體三極管和二極管等器件,從而極大地提高了可靠性。
還應(yīng)注意到選用高可靠性的元器件類(lèi)型和品質(zhì)檔次的重要意義。例如功能相似的電容器,云母介質(zhì)的失效率就要比玻璃或陶瓷介質(zhì)的低30倍左右。同類(lèi)的元器件,不同品質(zhì)檔次,如軍品和民品,上等質(zhì)量和下等質(zhì)量,在同樣的功能和條件下,失效率也會(huì)差3~10倍,選用應(yīng)慎之又慎。
可以說(shuō),在保證相同功能和使用環(huán)境的條件下,越簡(jiǎn)化的電路,越少的元器件,系統(tǒng)就越可靠。
例如:某公司1000VA高品質(zhì)交流參數(shù)穩(wěn)壓電源,使用于GM環(huán)境條件(移動(dòng),車(chē)載,通風(fēng)不理想,不便維修)。也能保證MTBF≥20萬(wàn)h。主要原因就是電路簡(jiǎn)單,元器件數(shù)量少。整臺(tái)電源只包括:
——特種變壓器1只
基本失效率為λ1=300×10-9/h。
——金屬化薄膜電容器2只
基本失效率為λ0=830×10-9/h。
電容器負(fù)荷率為0.8。所以,
λ2=(830/3.05)×10-9/h。
——焊接點(diǎn)20個(gè)
基本失效率為λ3=5.7×10-9/h。
因而:λΣ=λ1+2λ2+20λ3
=[300+544+114]×10-9/h
=958×10-9/h。
使用于GM環(huán)境條件,平均πE=4,
λΣP=λΣ·πE=3832×10-9/h。
平均無(wú)故障工作時(shí)間
MTBF=1/λΣP=(1/3832)×109/h
=26×104h=26萬(wàn)h
≥20萬(wàn)h。
年可靠度:P=1/eλΣP·8760=0.967=96.7%
故障率:F=1-P=3.3%
公司長(zhǎng)期生產(chǎn)實(shí)踐的統(tǒng)計(jì)數(shù)字也證明,該類(lèi)電源的MTBF≥20萬(wàn)h。
當(dāng)然,使用在其他環(huán)境條件,可靠性會(huì)更好。
3?5重視元器件的老化工作減少系統(tǒng)的早期失效率
元器件、設(shè)備、系統(tǒng)的失效率在整個(gè)使用壽命中并非是恒定不變的常數(shù),通常存在著如圖4所示的“浴盆曲線”。
(1)早期通常早期失效率會(huì)比穩(wěn)定期的失效率高得多。造成失效的原因是元器件制造過(guò)程中的缺陷和裝機(jī)的差錯(cuò)或不完善的連接點(diǎn)或元器件出廠時(shí)漏檢的不合格產(chǎn)品混入所致。因而一定要先使設(shè)備運(yùn)行一個(gè)時(shí)期,進(jìn)行老化,使早期失效問(wèn)題暴露在生產(chǎn)廠老化期間。給用戶(hù)提供的是已進(jìn)入穩(wěn)定期的可靠產(chǎn)品。
圖4失效率與時(shí)間的關(guān)系曲線
老化的時(shí)間,日本的民用產(chǎn)品(如電視機(jī))一般不小于8h。而美國(guó)宇宙飛船規(guī)定每個(gè)元器件裝上飛船之前老化50h,裝上飛船以后,又老化250h,共300h。以淘汰有隱患的元器件,保證工作可靠性。實(shí)際工作中,對(duì)可靠性要求較高的設(shè)備老化時(shí)間確定在20~50h較為合適。
(2)穩(wěn)定期此時(shí)失效率λ近于常數(shù),用作正常使用期。也可根據(jù)失效率λ來(lái)預(yù)算設(shè)備的其他可靠性指標(biāo)。通常,在較好的使用環(huán)境中,如果一旦出現(xiàn)故障能得到及時(shí)和正確的維修,則電子系統(tǒng)的穩(wěn)定期應(yīng)不短于6~8年。
(3)磨損期設(shè)備使用的壽命末期,由于元器件的材料老化變質(zhì),或設(shè)備的氧化腐蝕、機(jī)械磨損、疲勞等原因造成。失效率λ將逐步增加,進(jìn)入不可靠的使用期。磨損期出現(xiàn)的具體時(shí)間,受各種因素影響,很不一致。設(shè)計(jì)合理,元器件質(zhì)量選擇較嚴(yán),環(huán)境條件不太惡劣的設(shè)備磨損期出現(xiàn)的時(shí)間會(huì)晚得多。
4結(jié)論
保證設(shè)備的可靠性是一個(gè)復(fù)雜的涉及廣泛知識(shí)領(lǐng)域的系統(tǒng)工程。只有給予充分的重視和認(rèn)真采取各種技術(shù)措施,才會(huì)有滿(mǎn)意的成果。其基本點(diǎn)為:
(1)高可靠度的復(fù)雜系統(tǒng),一定要采用并聯(lián)系統(tǒng)
的可靠性模型。系統(tǒng)內(nèi)保有足夠冗余度的備份單元,可以進(jìn)行自動(dòng)或手動(dòng)切換。如果功能上允許,冷備份單元切換,較熱備份單元切換,更能保證長(zhǎng)期工作的可靠性。
(2)任何電子系統(tǒng)都不可能100%地可靠。設(shè)計(jì)
中應(yīng)盡量采用便于離機(jī)維修的模塊式結(jié)構(gòu),并預(yù)先保留必要數(shù)量(通常為5%)的備件。以便盡量縮短平均維修時(shí)間MTTR。使有效度A近于100%。
(3)加強(qiáng)通風(fēng)冷卻,改善使用環(huán)境是成倍提高可
靠性的最簡(jiǎn)便和最經(jīng)濟(jì)的方法。
(4)簡(jiǎn)化電路,減少元器件的數(shù)量,減輕元器件的
負(fù)荷率,選用高可靠的元器件是保證系統(tǒng)高可靠的基礎(chǔ)。
(5)重視設(shè)備老化工作,減少系統(tǒng)早期失效率。
相信,通過(guò)精心設(shè)計(jì),認(rèn)真生產(chǎn),嚴(yán)格質(zhì)檢,及時(shí)維修,完全可以使電子系統(tǒng)(含電源設(shè)備)達(dá)到十分接近于100%的可靠度。滿(mǎn)足國(guó)防,科研,工業(yè)等各方面的需求,并進(jìn)而走向世界。
評(píng)論
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