測(cè)試技術(shù)在國(guó)內(nèi)分析儀器行業(yè)起步較晚,發(fā)展尚未成熟。本文主要介紹在線(xiàn)分析儀器行業(yè)中的測(cè)試基本理論、測(cè)試流程和常用的測(cè)試方法,可以在研發(fā)測(cè)試階段和運(yùn)維測(cè)試階段中應(yīng)用。
##根據(jù)在線(xiàn)分析儀器的自身特性和測(cè)試階段的先后順序,測(cè)試流程主要包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、用戶(hù)測(cè)試、試生產(chǎn)測(cè)試和量產(chǎn)測(cè)試。
2014-02-21 09:53:391478 單元測(cè)試的問(wèn)題全部要提問(wèn)題單跟蹤解決,測(cè)出問(wèn)題在記錄在跟蹤表的同時(shí)就馬上提問(wèn)題單(單元測(cè)試的問(wèn)題單可以走短流程),不要積累到最后一起提。
2023-03-03 14:45:55941 軟件開(kāi)發(fā)中,每次需求的變更基本都需要改寫(xiě)代碼,而代碼變更后就需要進(jìn)行功能測(cè)試,當(dāng)然在功能測(cè)試之前需要代碼的單元測(cè)試,避免代碼改動(dòng)后部分場(chǎng)景沒(méi)有驗(yàn)證,最后出現(xiàn)各種問(wèn)題。
2023-06-05 12:28:37503 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
微機(jī)組裝為產(chǎn)品后可能發(fā)生的問(wèn)題等進(jìn)行具有高信賴(lài)度的白盒(white box)測(cè)試。不需要HookCode 使直接使用目標(biāo)機(jī)代碼進(jìn)行單元測(cè)試成為可能的業(yè)界唯一的工具有些公司的單元測(cè)試工具往往采用在被測(cè)試對(duì)象
2022-06-17 18:26:57
領(lǐng)先水平,積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)。應(yīng)廣大學(xué)員的要求,軍科宏遠(yuǎn)決定組織北京航空航天大學(xué)軟件測(cè)試領(lǐng)域?qū)<覍⒍嗄甑目蒲薪?jīng)驗(yàn)和實(shí)踐與廣大同行們共享,特推出《單元測(cè)試/嵌入式軟件系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)專(zhuān)題班》助您一臂之力,伴您共同
2010-05-29 13:31:28
覆蓋率專(zhuān)家winAMS獲得機(jī)能安全標(biāo)準(zhǔn)ISO26262/IEC61508工具認(rèn)證,是日本工業(yè)制造領(lǐng)域普遍使用的針對(duì)C/C++的單元/集成測(cè)試工具.winAMS是將通過(guò)交叉編譯生成的原始代碼作為評(píng)價(jià)
2021-12-17 07:22:39
白盒測(cè)試法的覆蓋標(biāo)準(zhǔn)有邏輯覆蓋、循環(huán)覆蓋和基本路徑測(cè)試。其中邏輯覆蓋包括語(yǔ)句覆蓋、判定覆蓋、條件覆蓋、判定/條件覆蓋、條件組合覆蓋和路徑覆蓋。
2019-10-23 09:01:03
系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格,可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符合要求。 白盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的內(nèi)部工作過(guò)程,可以通過(guò)測(cè)試證明
2008-10-22 12:42:44
測(cè)試元件 脈沖發(fā)生器測(cè)試儀
2024-03-14 20:50:37
嵌入式軟件單元測(cè)試/集成測(cè)試工具-WINAMS
2019-04-18 14:45:14
背景MCU軟件不同于常規(guī)的PC機(jī)或基于SOC的嵌入式軟件,其一般情況下,與底層硬件耦合度高,資源有限,如何進(jìn)行單元測(cè)試的問(wèn)題困擾我很久。解決方案根據(jù)目前已知如下3種類(lèi)型的方案:在目標(biāo)板上運(yùn)行此方案下,在程序代碼中加入單元測(cè)試的代碼,編譯完成后,在目標(biāo)板上跑單元測(cè)試的用例,并通過(guò)目...
2021-11-01 06:58:41
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
Tessy — 嵌入式軟件單元測(cè)試/ 集成測(cè)試工具本文章向大家介紹Tessy — 嵌入式軟件單元測(cè)試/ 集成測(cè)試工具,主要包括Tessy — 嵌入式軟件單元測(cè)試/ 集成測(cè)試工具使用實(shí)例
2021-12-21 07:11:09
Tessy 源自戴姆勒- 奔馳公司的軟件技術(shù)實(shí)驗(yàn)室,由德國(guó)Hitex 公司負(fù)責(zé)全球銷(xiāo)售及技術(shù)支持服務(wù),是一款專(zhuān)門(mén)針對(duì)嵌入式軟件進(jìn)行單元/ 集成測(cè)試的工具。它可以對(duì)C/C++ 代碼進(jìn)行單元、集成測(cè)試
2021-12-24 06:05:23
你好!我想對(duì)我的軟件進(jìn)行單元測(cè)試,TouchGFX 對(duì)此有任何支持嗎?
2022-12-01 06:37:16
java小白的學(xué)習(xí)記錄......本文將建立一個(gè)計(jì)算器類(lèi)(含加法、減法),通過(guò)JUnit進(jìn)行單元測(cè)試。
2019-07-25 08:01:59
有沒(méi)有誰(shuí)有l(wèi)abview單元測(cè)試的程序框圖啊
2012-10-10 08:28:40
/集成測(cè)試工具.winAMS是將通過(guò)交叉編譯生成的原始代碼作為評(píng)價(jià)代碼,具有使用芯片仿真器進(jìn)行仿真功能的測(cè)試工具.不僅可以對(duì)C語(yǔ)言編寫(xiě)的程序進(jìn)行邏輯水平的測(cè)試,還可以對(duì)嵌入式軟件特有的依存于芯片的問(wèn)題點(diǎn)進(jìn)行確認(rèn).是一款值得信賴(lài)的單元測(cè)試工具.
2019-09-05 11:28:05
軟件測(cè)試其實(shí)就是對(duì)程序進(jìn)行一些操作,來(lái)發(fā)現(xiàn)程序所存在的缺陷,衡量軟件的質(zhì)量,并對(duì)其是否能滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求進(jìn)行評(píng)估的過(guò)程。
2019-07-22 07:56:47
我安裝了Eclipe System Workbench來(lái)開(kāi)發(fā)STM32應(yīng)用程序。但是,現(xiàn)在我想進(jìn)行(離線(xiàn))單元測(cè)試,但似乎沒(méi)有安裝g ++。僅安裝了Cross編譯器/ AC6部件。安裝例如
2018-09-26 10:46:31
基于ASPICE&CNAS的單元測(cè)試介紹
2021-01-06 07:22:08
單元測(cè)試階段的測(cè)試工作量自動(dòng)預(yù)估
2021-01-14 06:46:12
目錄介紹背景使用代碼下載源22.4 KB介紹有時(shí),單元測(cè)試的邏輯要求使用嵌入到庫(kù)中的資源。最有可能的是,該文件保留了黑盒的初始數(shù)據(jù),并已通過(guò)單元測(cè)試進(jìn)行了測(cè)試。這篇文章將展示如何使用這類(lèi)資源。背景
2021-12-21 07:31:05
。 可以針對(duì)模擬數(shù)據(jù)訪(fǎng)問(wèn)存儲(chǔ)庫(kù)對(duì)服務(wù)進(jìn)行測(cè)試。 但是數(shù)據(jù)訪(fǎng)問(wèn)層不是單元測(cè)試的理想選擇 ,因?yàn)閿?shù)據(jù)庫(kù)語(yǔ)句需要針對(duì)實(shí)際運(yùn)行的數(shù)據(jù)庫(kù)系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證。 集成測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)選項(xiàng) 理想情況下,我們的測(cè)試應(yīng)針對(duì)...
2021-12-20 07:40:29
在本指南中,您將學(xué)習(xí)如何通過(guò)在更短的時(shí)間內(nèi)運(yùn)行更多的測(cè)試來(lái)增加您的單元測(cè)試吞吐量。
這種效率的提高來(lái)自于使用虛擬平臺(tái)而不是物理硬件作為開(kāi)發(fā)平臺(tái)。
本指南對(duì)任何開(kāi)發(fā)或運(yùn)行嵌入式軟件單元測(cè)試的人都很
2023-08-28 06:31:42
軟件測(cè)試是很廣的概念。從其貫穿軟件生命周期全過(guò)程來(lái)看,測(cè)試可分為模塊測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試等階段。測(cè)試還可分為靜態(tài)檢查和動(dòng)態(tài)運(yùn)行測(cè)試兩大類(lèi)。在動(dòng)態(tài)運(yùn)行測(cè)試中,又可有基于程序結(jié)構(gòu)的白盒測(cè)試(或稱(chēng)為
2019-09-18 07:23:30
有沒(méi)有辦法使用 ESP-IDF 單元測(cè)試方式來(lái)測(cè)試主應(yīng)用程序中的功能,而不是 components 文件夾中的組件?示例:我想對(duì)“add_four.c”項(xiàng)目結(jié)構(gòu)中的函數(shù)進(jìn)行單元測(cè)試:代碼:全選
2023-03-02 08:15:21
本文是機(jī)甲大師機(jī)器人控制的系列博客之一。在軟件單元階段完成后,進(jìn)行軟件單元測(cè)試。本文內(nèi)容與軟件架構(gòu)設(shè)計(jì)階段相對(duì)應(yīng)。文章目錄1 開(kāi)發(fā)階段2 模型單元測(cè)試2.1 電機(jī)控制子系統(tǒng)測(cè)試2.2 舵機(jī)控制子系統(tǒng)
2021-08-18 08:10:23
用于多站點(diǎn)并行測(cè)試的ACS集成測(cè)試系統(tǒng),看完你就懂了
2021-05-06 07:11:30
#百科介紹一般來(lái)說(shuō),軟件測(cè)試有7個(gè)基本階段,即單元或模塊測(cè)試、集成測(cè)試、外部功能測(cè)試、回歸測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、安裝測(cè)試。嵌入式軟件測(cè)試在4個(gè)階段上進(jìn)行,即模塊測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、硬件
2022-02-28 12:54:03
軟件測(cè)試級(jí)別包括單元測(cè)試,部件(集成)測(cè)試,配置項(xiàng)測(cè)試與系統(tǒng)測(cè)試。單元測(cè)試:檢查每個(gè)軟件單位能否正確的實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)說(shuō)明中的功能、性能、接口和其他設(shè)計(jì)約束等要求,發(fā)現(xiàn)單元內(nèi)可能存在的各種錯(cuò)誤。靜態(tài)測(cè)試
2021-12-21 06:12:18
; 請(qǐng)?jiān)囍容^一下黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試的區(qū)別與聯(lián)系。 黑盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格,可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符合要求。 白
2008-10-22 12:44:38
測(cè)試 測(cè)試測(cè)試測(cè)試
2021-11-22 09:26:58
本文以導(dǎo)彈伺服機(jī)構(gòu)單元測(cè)試為應(yīng)用背景,從硬件設(shè)計(jì)和軟件兩方面詳細(xì)介紹了基于VXI總線(xiàn)的導(dǎo)彈伺服機(jī)構(gòu)單元測(cè)試基本型系統(tǒng)的設(shè)計(jì),特別在通用信號(hào)轉(zhuǎn)接箱設(shè)計(jì)上進(jìn)行了有益嘗
2009-07-15 10:24:4929 本文運(yùn)用黑盒測(cè)試的基本理論,提出了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的測(cè)試模型,分析了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的基本方法和步驟,最后結(jié)合一個(gè)實(shí)際項(xiàng)目說(shuō)明了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的測(cè)試驗(yàn)證過(guò)程。關(guān)鍵詞:黑盒
2009-08-19 09:12:419 系統(tǒng)測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、回歸測(cè)試
單元測(cè)試:單元測(cè)試是對(duì)軟件中的基本組成單位進(jìn)行
2008-10-22 12:38:391651 黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試區(qū)別
黑盒測(cè)試 黑盒測(cè)試也稱(chēng)功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試,它是在已知產(chǎn)品所應(yīng)具有的功能,通
2008-10-22 12:40:028981 Unit testing(單元測(cè)試),指一段代碼的基本測(cè)試,其實(shí)際大小是未定的,通常是一個(gè)函數(shù)或子程序,一般由開(kāi)發(fā)者執(zhí)行。
Integration testing(集成測(cè)試),被測(cè)試
2010-09-07 11:30:493546 防雷現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀/保安單元測(cè)試儀資料:
2011-11-25 14:03:2633 軟件測(cè)試方法一般分為兩種:白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試。其中,白盒測(cè)試又稱(chēng)為結(jié)構(gòu)測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于程序本身的測(cè)試,著重于程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及算法,通常不關(guān)心功能與性能指標(biāo)
2013-01-14 10:28:4613945 黑盒測(cè)試也稱(chēng)功能測(cè)試,它是通過(guò)測(cè)試來(lái)檢測(cè)每個(gè)功能是否都能正常使用。在測(cè)試中,把程序看作一個(gè)不能打開(kāi)的黑盒子,在完全不考慮程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部特性的情況下,在程序接口進(jìn)行測(cè)試,它只檢查程序功能是否按照
2017-11-02 10:34:0550179 白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試是軟件測(cè)試的兩種基本方法。 白盒測(cè)試又稱(chēng)結(jié)構(gòu)測(cè)試、透明盒測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于代碼的測(cè)試。白盒測(cè)試是一種測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法,盒子指的是被測(cè)試的軟件,白盒指的是盒子是可視的,你清楚
2017-11-02 11:18:0718223 單元測(cè)試,是指對(duì)軟件中的最小可測(cè)試單元進(jìn)行檢查和驗(yàn)證。對(duì)于單元測(cè)試中單元的含義,一般來(lái)說(shuō),要根據(jù)實(shí)際情況去判定其具體含義,如C語(yǔ)言中單元指一個(gè)函數(shù),Java里單元指一個(gè)類(lèi),圖形化的軟件中可以指一個(gè)窗口或一個(gè)菜單等。
2017-12-21 10:17:4035539 工廠(chǎng)在組裝一臺(tái)電視機(jī)之前,會(huì)對(duì)每個(gè)元件都進(jìn)行測(cè)試,這,就是單元測(cè)試。單元測(cè)試是開(kāi)發(fā)者編寫(xiě)的一小段代碼,用于檢驗(yàn)被測(cè)代碼的一個(gè)很小的、很明確的功能是否正確。通常而言,一個(gè)單元測(cè)試是用于判斷某個(gè)特定條件下某個(gè)特定函數(shù)的行為。
2017-12-21 13:44:4832266 單元測(cè)試是編寫(xiě)測(cè)試代碼,應(yīng)該準(zhǔn)確、快速地保證程序基本模塊的正確性。好的單元測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn),JUnit是Java單元測(cè)試框架,已經(jīng)在Eclipse中默認(rèn)安裝。許多開(kāi)發(fā)者都有個(gè)習(xí)慣,常常不樂(lè)意去寫(xiě)個(gè)簡(jiǎn)單的單元測(cè)試程序來(lái)驗(yàn)證自己的代碼。
2017-12-21 14:24:033738 Java是一門(mén)面向?qū)ο缶幊陶Z(yǔ)言,不僅吸收了C++語(yǔ)言的各種優(yōu)點(diǎn),還摒棄了C++里難以理解的多繼承、指針等概念,因此Java語(yǔ)言具有功能強(qiáng)大和簡(jiǎn)單易用兩個(gè)特征。單元測(cè)試,是指對(duì)軟件中的最小可測(cè)試單元進(jìn)行檢查和驗(yàn)證
2017-12-21 14:54:148136 軟件測(cè)試按照研發(fā)階段一般分為5個(gè)部分:單元測(cè)試、集成測(cè)試、確認(rèn)測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試,下面將不同階段需要的一些工作內(nèi)容做一下梳理希望可以幫助到大家。
2018-03-14 13:41:176077 本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是Python單元測(cè)試框架是什么?及如何使用詳細(xì)代碼說(shuō)明包括了:使用PyUnit構(gòu)建自己的測(cè)試 ,通過(guò)PyUnit復(fù)用舊測(cè)試代碼 ,在JPython和Jython中使用PyUnit
2018-09-19 14:49:352 /details/89449029 一、Catch簡(jiǎn)介 Catch是一個(gè)很時(shí)尚的,C++原生的框架,只包含一個(gè)頭文件,用于單元測(cè)試,TDD測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)和BDD行為驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)。 在catch的文檔指出,對(duì)于C++
2019-11-20 23:03:262800 我們有單元測(cè)試、增量測(cè)試、集成測(cè)試、回歸測(cè)試、冒煙測(cè)試等等,名字非常多。谷歌看到這種“百家爭(zhēng)鳴”的現(xiàn)象,創(chuàng)立了自己的命名方式,只分為小型測(cè)試、中型測(cè)試和大型測(cè)試。
2019-12-08 11:00:592745 黑盒測(cè)試(Black-box Testing,又稱(chēng)為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試)是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí),需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的功能,不需測(cè)試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過(guò)程。
2020-06-29 10:45:312566 黑盒測(cè)試也是功能測(cè)試,測(cè)試中把被測(cè)的軟件當(dāng)成一個(gè)黑盒子,不關(guān)心盒子的內(nèi)部結(jié)構(gòu)是什么,只關(guān)心軟件的輸入數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)。
2020-06-29 11:00:1915975 詳談黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的異同及用例
2020-08-19 17:07:215794 測(cè)試是傳統(tǒng)軟件開(kāi)發(fā)的最后一步。整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程,需要收集要求、進(jìn)行高層次的設(shè)計(jì)、詳細(xì)設(shè)計(jì)、創(chuàng)建代碼、進(jìn)行部分單元測(cè)試,然后集成,最后才開(kāi)始最終測(cè)試。
2020-10-13 10:12:382517 前言 嵌入式行業(yè)摸爬滾打這幾年,遇見(jiàn)有規(guī)范單元測(cè)試的項(xiàng)目寥寥無(wú)幾。歸根到底,無(wú)非是公司希望快速迭代出產(chǎn)品,有問(wèn)題等客戶(hù)反饋再說(shuō)。當(dāng)然,也有人認(rèn)為是嵌入式行業(yè)都是小而美的產(chǎn)品居多,沒(méi)有到一定量級(jí)之前
2020-10-23 16:08:182032 單元測(cè)試是整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié) ,執(zhí)行一個(gè)完備的單元測(cè)試方案能夠提高整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程的時(shí)間效率,確保軟件的實(shí)際功能與詳細(xì)設(shè)計(jì)說(shuō)明的一致性,使軟件開(kāi)發(fā)的效率和軟件產(chǎn)品的質(zhì)量得到最好的保障
2021-04-28 17:21:508400 嵌入式測(cè)試階段:根據(jù)軟件開(kāi)發(fā)階段不同,可分為平臺(tái)測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試。1.平臺(tái)測(cè)試包括硬件電路測(cè)試、操作系統(tǒng)及底層驅(qū)動(dòng)程序測(cè)試等等。硬件電路測(cè)試需要所對(duì)應(yīng)的測(cè)試工具來(lái)進(jìn)行測(cè)試。操作系統(tǒng)
2021-10-20 09:59:099 慕課電子科技大學(xué).嵌入式系統(tǒng).第六章.嵌入式軟件系統(tǒng).單元測(cè)試50 目錄6 嵌入式軟件系統(tǒng)6.4 單元測(cè)試56.4.1課堂重點(diǎn)6.4.2測(cè)試與作業(yè)7 下一章0 目錄6 嵌入式軟件系統(tǒng)6.4 單元測(cè)試
2021-10-20 19:21:034 慕課電子科技大學(xué).嵌入式系統(tǒng).第二章.嵌入式硬件系統(tǒng)(第一部分.單元測(cè)試20 目錄2 嵌入式硬件系統(tǒng)(第一部分)2.6 單元測(cè)試22.6.1課堂重點(diǎn)2.6.2測(cè)試與作業(yè)3 下一章0 目錄2 嵌入式
2021-10-20 22:06:013 測(cè)試的區(qū)別3.1 嵌入式軟件測(cè)試的各個(gè)階段測(cè)試的環(huán)境是不一樣的交叉開(kāi)發(fā):交叉開(kāi)發(fā)環(huán)境:交叉編譯:GUN工具鏈:3.1.1 單元測(cè)試階段3.1.2 集成測(cè)試階段3.1.3 系統(tǒng)測(cè)試和確認(rèn)測(cè)試3.2
2021-10-21 13:06:0829 背景MCU軟件不同于常規(guī)的PC機(jī)或基于SOC的嵌入式軟件,其一般情況下,與底層硬件耦合度高,資源有限,如何進(jìn)行單元測(cè)試的問(wèn)題困擾我很久。解決方案根據(jù)目前已知如下3種類(lèi)型的方案:在目標(biāo)板上運(yùn)行此方案下,在程序代碼中加入單元測(cè)試的代碼,編譯完成后,在目標(biāo)板上跑單元測(cè)試的用例,并通過(guò)目...
2021-10-26 10:06:0026 慕課蘇州大學(xué).嵌入式開(kāi)發(fā)及應(yīng)用.第二章.入門(mén)與軟件框架.單元測(cè)試0 目錄2 入門(mén)與軟件框架2.10 單元測(cè)試2.10.1 課堂重點(diǎn)2.10.2 測(cè)試與作業(yè)3 下一章0 目錄2 入門(mén)與軟件框架2.10
2021-11-02 19:21:0315 慕課蘇州大學(xué).嵌入式開(kāi)發(fā)及應(yīng)用.第一章.基礎(chǔ)與硬件.單元測(cè)試0 目錄1 基礎(chǔ)與硬件1.1 單元測(cè)試1.1.1課堂重點(diǎn)1.1.2測(cè)試與作業(yè)2 下一章0 目錄1 基礎(chǔ)與硬件1.1 單元測(cè)試1.1.1課堂
2021-11-02 21:06:0417 慕課蘇州大學(xué).嵌入式開(kāi)發(fā)及應(yīng)用.第三章.基本模塊.單元測(cè)試0 目錄3 基本模塊3.11 單元測(cè)試3.11.1 課堂重點(diǎn)3.11.2 測(cè)試與作業(yè)4 下一章0 目錄3 基本模塊3.11 單元測(cè)試3.11.1 課堂重點(diǎn)3.11.2 測(cè)試與作業(yè)4 下一章博客地址: ...
2021-11-03 12:36:0312 系統(tǒng)集成測(cè)試(SIT),在軟件系統(tǒng)和軟件工程的背景下,是一個(gè)練習(xí)軟件系統(tǒng)與他人共存的測(cè)試過(guò)程。系統(tǒng)集成測(cè)試將多個(gè)已通過(guò)系統(tǒng)測(cè)試的集成系統(tǒng)作為輸入,并測(cè)試它們所需的交互。按照此過(guò)程,將可交付的系統(tǒng)傳遞給驗(yàn)收測(cè)試。
2022-03-11 10:39:066549 什么是單元測(cè)試?單元測(cè)試的作用是什么?
2022-05-27 15:34:42642 RT-Thread上的單元測(cè)試:什么是單元測(cè)試?單元測(cè)試的作用是什么? ? ? ? ? ? 審核編輯:彭靜
2022-05-27 16:06:201302 RT-Thread上的單元測(cè)試框架是什么?RTT的單元測(cè)試框架是什么樣的?
2022-05-27 16:12:19987 單元測(cè)試(unit testing),是指對(duì)軟件中的最小可測(cè)試單元進(jìn)行檢查和驗(yàn)證。至于“單元”的大小或范圍,。并沒(méi)有一個(gè)明確的標(biāo)準(zhǔn),“單 元‘可以是一個(gè)函數(shù)、方法、類(lèi)、功能模塊。
2022-05-27 16:02:04884 RT-Thread全球技術(shù)大會(huì):RT-Thread上的單元測(cè)試框架與運(yùn)行測(cè)試用例 ? ? ? ? ? ? ? ? 審核編輯:彭靜
2022-05-27 16:21:151232 功能單元測(cè)試測(cè)試中非常重要的一項(xiàng)是信號(hào)完整性測(cè)試,特別是對(duì)于高速信號(hào),信號(hào)完整性測(cè)試尤為關(guān)鍵。
2022-07-08 17:23:032433 功能單元測(cè)試測(cè)試中非常重要的一項(xiàng)是信號(hào)完整性測(cè)試,特別是對(duì)于高速信號(hào),信號(hào)完整性測(cè)試尤為關(guān)鍵。
2023-02-13 15:10:242762 在更受限制的環(huán)境(例如用 C 編寫(xiě)的嵌入式系統(tǒng))中進(jìn)行單元測(cè)試的人來(lái)說(shuō),這組豐富的功能可能會(huì)令人生畏。 但是單元測(cè)試的重要之處在于測(cè)試,而不是框架。MinUnit 是一個(gè) 用 C 語(yǔ)言編寫(xiě)的極其簡(jiǎn)單的單元測(cè)試框架。它不使用內(nèi)存分配,因此它幾乎可以在任何情況下正常工作,包括 ROMable 代碼。
2023-03-27 10:08:55625 軟件驗(yàn)收測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試是軟件測(cè)試過(guò)程中的兩個(gè)階段。驗(yàn)收測(cè)試是部署軟件之前的最后一個(gè)測(cè)試操作。在軟件產(chǎn)品完成了單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之后,產(chǎn)品發(fā)布 之前所進(jìn)行的軟件測(cè)試活動(dòng)。它是技術(shù)測(cè)試的最后
2023-05-06 21:32:23460 本次為大家介紹VectorCAST/C++在軟件測(cè)試方面的軟件黑盒測(cè)試。
2022-08-01 14:16:58342 作者|單線(xiàn)程生物小編|吃不飽Tips:現(xiàn)階段模型開(kāi)發(fā)大部分采用Simulink,為了驗(yàn)證模型實(shí)現(xiàn)了相關(guān)功能,需要對(duì)模型進(jìn)行測(cè)試。模型測(cè)試(MiL)有單元測(cè)試和集成測(cè)試之分。單元測(cè)試中模型復(fù)雜度
2022-09-09 14:53:48665 自然語(yǔ)言,測(cè)試用例都很容易閱讀和維護(hù)。TPT支持多種測(cè)試方法。功能黑盒測(cè)試、結(jié)構(gòu)或白盒測(cè)試、模塊測(cè)試、集成測(cè)試: 所有這些測(cè)試方法都可以很容易地用TPT建模。
2022-11-25 11:15:50608 作者:fox小編:吃不飽上次我們分享了單元測(cè)試用例的復(fù)用,單元測(cè)試的用例可以復(fù)用到集成測(cè)試,那單元測(cè)試的評(píng)估是否也可以復(fù)用到集成測(cè)試?答案是可以的。TPT中提供了多種多樣的評(píng)估方式,其中的腳本評(píng)估
2022-12-09 11:16:48474 CoverageMaster winAMS :?適用于嵌入式目標(biāo)機(jī)代碼的單元測(cè)試/集成測(cè)試工具 全面支持嵌入式微機(jī)!驗(yàn)證嵌入式C/C++軟件 實(shí)施以模塊為單位的自動(dòng)化單元測(cè)試工具 不需要
2023-07-11 17:11:20420 Tessy源自戴姆勒-奔馳公司的軟件技術(shù)實(shí)驗(yàn)室,由德國(guó)Hitex公司負(fù)責(zé)銷(xiāo)售及技術(shù)支持服務(wù),是一款專(zhuān)門(mén)針對(duì)嵌入式軟件進(jìn)行單元/集成測(cè)試的工具。它可以對(duì)C/C++代碼進(jìn)行單元、集成測(cè)試,可以自動(dòng)化搭建
2021-04-27 16:54:433502 上海北匯除可提供軟件單元/集成測(cè)試的解決方案之外,也提供單元/集成測(cè)試測(cè)試服務(wù)。測(cè)試范圍:針對(duì)模型/代碼的動(dòng)態(tài)測(cè)試(應(yīng)用層):單元級(jí)/組件級(jí)/軟件級(jí)。
2022-07-19 15:43:04484 汽車(chē)行業(yè)中,任何一款產(chǎn)品的上線(xiàn)都離不開(kāi)測(cè)試工作,在整個(gè)測(cè)試工作中,測(cè)試人員通過(guò)使用不同的測(cè)試技術(shù)來(lái)創(chuàng)建測(cè)試用例,保證測(cè)試活動(dòng)的全面性和高效性。根據(jù)ISTQB可以將測(cè)試技術(shù)分為黑盒、白盒和基于經(jīng)驗(yàn)
2023-09-07 08:27:13357 本文著重探討單元測(cè)試的重要性及其正面臨的困境,并介紹功能安全標(biāo)準(zhǔn)中羅列的單元測(cè)試方法。
2023-11-03 14:58:10278 本篇將深入討論單元測(cè)試過(guò)程中,如何在保質(zhì)保量完成測(cè)試任務(wù)的同時(shí),縮減時(shí)間成本、提高測(cè)試效率,并分享目前行業(yè)內(nèi)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)以及相關(guān)自動(dòng)化測(cè)試工具。
2023-11-17 15:18:34270 搭建測(cè)試環(huán)境、執(zhí)行測(cè)試、評(píng)估測(cè)試結(jié)果并生成測(cè)試報(bào)告。目前Tessy被廣泛應(yīng)用在汽車(chē)電子客戶(hù)中,在V模型開(kāi)發(fā)中,Tessy主要應(yīng)用在單元測(cè)試和集成測(cè)試階段;另外,Tessy也可以滿(mǎn)足各類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)(如ISO26262、IEC61508、EN50128/50129等)對(duì)測(cè)試的需求。
2024-01-15 14:39:05190 控,依據(jù)ISO26262/ASPICE等開(kāi)展符合要求的單元測(cè)試/集成測(cè)試工作。 在ISO 26262 - part 6部分產(chǎn)品開(kāi)發(fā):軟件層面,對(duì)軟件開(kāi)發(fā)配
2024-02-29 13:27:52
評(píng)論
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