新型雷達(dá)數(shù)字電路便攜式自動測試系統(tǒng)設(shè)計

　基于對ICT測試、功能測試局限性的深入探討，以及對邊界掃描測試技術(shù)的研究與實踐，本文提出了“MERGE(組合)”邊界掃描測試模型的建立方法，并基于此方法，構(gòu)建了數(shù)字電路便攜式自動測試系統(tǒng)，實現(xiàn)了對新型雷達(dá)數(shù)字電路的高速、準(zhǔn)確的測試。系統(tǒng)具有硬件設(shè)備小巧、便攜，性能穩(wěn)定、可靠，故障隔離率高等優(yōu)點，適合于戰(zhàn)地級實時維修保障，是大型在線測試、功能測試平臺的有效補(bǔ)充，較好的解決了測試設(shè)備受制于人及戰(zhàn)時應(yīng)急搶修等問題。

　　雷達(dá)，作為一種重要的軍事武器裝備，在軍事上將其形象的比喻成作戰(zhàn)指揮員的“眼睛”，在維護(hù)國家安全及領(lǐng)土完整中發(fā)揮著舉足輕重的作用。但隨著數(shù)字電路設(shè)計及制造技術(shù)的發(fā)展，特別是CAD設(shè)計軟件的進(jìn)步及完善，單一的測試方法如ICT(In-Circuit Test)測試、功能測試等已無法滿足新型雷達(dá)數(shù)字電路測試及故障診斷的要求，邊界掃描測試將成為今后雷達(dá)裝備數(shù)字電路故障診斷發(fā)展的主流技術(shù)。

　　自動測試系統(tǒng)實現(xiàn)

　　“MERGE(組合)”測試模型的建立

　　IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)明確的規(guī)范了邊界掃描構(gòu)建原理及相應(yīng)的測試方法。在故障診斷過程中，可利用VLSI芯片自帶的邊界掃描結(jié)構(gòu)及相關(guān)測試指令，有效的實現(xiàn)對VLSI芯片引腳固定型、開路、橋接等故障類型的檢測。但待測試的數(shù)字電路模塊通常包括邊界掃描器件和非邊界掃描器件，本文提出的MERGE測試模型可通過已有的邊界掃描結(jié)構(gòu)實現(xiàn)對非邊界掃描芯片的測試，能夠拓展邊界掃描的測試范圍，提高TPS的故障覆蓋率。

　　基于邊界掃描測試技術(shù)的基本原理，構(gòu)建測試系統(tǒng)過程中創(chuàng)造性的提出了“MERGE”結(jié)構(gòu)測試模型，基本思想如圖 1所示。其中，B部分為待測數(shù)字電路BUT(Board Under Test)，A部分為獨立于BUT外的邊界掃描擴(kuò)展卡，該擴(kuò)展卡可看作是一塊符合IEEE 1149.1邊界掃描設(shè)計規(guī)范的數(shù)字電路。首先，集中將一個完整的數(shù)字電路BUT分為如下幾個部分：非邊界掃描芯片簇(U1)，邊界掃描芯片簇(U2)，混合芯片簇(U3)。在這里“簇”的概念即將多個器件統(tǒng)稱為一個“簇”，簇的范圍可以根據(jù)具體電路規(guī)模來進(jìn)行劃分，可以小到單獨的一個IC或UUT(Unit Under Test)，也可大到一個完整的BUT 。

　　(1) MERGE非邊界掃描芯片簇(U1)：非邊界掃描芯片是整個BUT網(wǎng)絡(luò)中一個有序的子集，是具有特定功能的電路。在MERGE理念中，通過對非邊界掃描芯片簇建立單獨的功能模型，將其作為邊界掃描芯片間的一個中間級信號傳輸模型，MERGE到邊界掃描鏈路，結(jié)合EXTEST邊界掃描指令，通過Capture IR→Shift IR→Update IR→Capture DR→shift DR→Update DR等相應(yīng)操作，達(dá)到通過邊界掃描鏈路實現(xiàn)對非邊界掃描簇測試的目的。　(2) MERGE混合芯片簇(U3)：混合芯片簇指既含有非邊界掃描芯片，又含有邊界掃描芯片的混合電路(還可以含有一些中間級的模擬電路)。MERGE的思路與(1)類似，模型的驗證可通過將一組確定的測試矢量集APPLY至MI(Model Input)，經(jīng)過確定的時間延遲，通過在MO(Model Output)將采集到的響應(yīng)信號與寄存器中存貯的期望值相比較的方法實現(xiàn)測試。

　　(3) MERGE BSEC(邊界掃描擴(kuò)展卡)，通過BSEC實現(xiàn)對BUT邊緣電路中非邊界掃描芯片簇或不含邊界掃描芯片的BUT進(jìn)行邊界掃描測試。測試時，將待測BUT作為非邊界掃描簇或混合邊界掃描簇，而將BSEC當(dāng)作邊界掃描芯片簇，通過MERGE方法，將BUT、接口電路、邊界掃描擴(kuò)展卡電路虛擬成為一個含邊界掃描芯片的BUT，具體實現(xiàn)與(1)、(2)類似。

　　測試系統(tǒng)硬件設(shè)計

　　為了減輕系統(tǒng)整機(jī)的重量，便于運(yùn)輸及攜帶，本測試系統(tǒng)前端設(shè)備采用筆記本計算機(jī)作為主體來完成系統(tǒng)功能的實現(xiàn)和人機(jī)界面的交互[3]，同時內(nèi)配GPIB-USB模塊、JTAG-Control-PCI-USB控制器，分別控制可編程電源(Agilent 6600)及BS Interface Pod模塊。整個硬件設(shè)計的核心為BSEC、JTAG-Control-PCI-USB控制器及BS Interface Pod模塊。其系統(tǒng)硬件框圖如圖2所示。

　　邊界掃描擴(kuò)展卡

　　MERGE邊界掃描擴(kuò)展卡采用符合IEEE 1149.1邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)的可測試性設(shè)計方案，應(yīng)用5片XILINX公司的XC95144芯片構(gòu)建完整的從TDI至TDO的邊界掃描鏈路，其中掃描鏈路的上游電路及下游電路采用74ACQ244對信號進(jìn)行緩沖及整形，以增強(qiáng)上游電路的扇出能力，同時整板的邊緣連接器采用了牢固可靠、抗腐蝕的歐式Eurocard結(jié)構(gòu)形式的連接器，保證測試信號穩(wěn)定、可靠。原理圖如圖 3所示。

　　JTAG-Control-PCI-USB控制器

　　JTAG-Control-PCI-USB控制器是測試系統(tǒng)筆記本記算機(jī)與被測試單元(BUT)進(jìn)行信號控制的主要部件，實現(xiàn)工控機(jī)并行控制指令和數(shù)據(jù)向符合邊界掃描測試協(xié)議的串行指令和數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換。電路采用DSP+CPLD的電路設(shè)計模式，DSP芯片采用TI公司的TMS320LF2407A，運(yùn)行速度可高達(dá)40MIPS、具有至少544字的在片雙訪問存儲器DARAM、2K大小的在片單訪問存儲器SARAM，32K的片內(nèi)程序存儲器FLASH;CPLD選用ALTERA公司的MAX7000S系列的EPM71285，其集成度為600~5000可用門、有32~256個宏單元和36~155個用戶自定義I/O引腳、其3.3V的I/O電平與DSP芯片端口電平兼容、并可通過符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的I/O引腳JTAG接口實現(xiàn)在線編程及調(diào)試。JTAG-Control-PCI-USB控制器是PCI/IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)的主控單元，當(dāng)與BS Interface Pod結(jié)合使用時，控制IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)自適應(yīng)測試總線及與之相適應(yīng)的離散信號。同時，該控制器還可控制施加到測試總線上負(fù)責(zé)JTAG-Control-PCI-USB控制器與BS Interface Pod進(jìn)行通訊的低電壓差分信號(基于TIA /EIA-644及IEEE 1596.3標(biāo)準(zhǔn))。BS Interface Pod模塊

　　BS Interface Pod模塊，作為測試輸入/輸出信號傳輸?shù)闹虚g級模塊，主要實現(xiàn)JTAG-Control-PCI-USB控制器與BUT之間測試通道的擴(kuò)展和信號的同步與緩存。FPGA(Altera公司，EP20K160EBC365-1)是本電路設(shè)計的核心，其功能是將前級JTAG-Control-PCI-USB控制器發(fā)出的不同的控制信號轉(zhuǎn)換成UUT測試終端能夠識別的TAP控制信號，保證TDI、TCK、TMS、TRST準(zhǔn)確施加到UUT的測試端，同時將采集到的TDO信號返回給測試前端控制模塊。74LVC125(Buffer)則用來完成信號暫存，輸出級的74LVC125還可增強(qiáng)信號的扇出能力。整個BS Interface Pod模塊采用抗EMI(電磁干擾)屏蔽封裝，前面板預(yù)留4個20Pin的JTAG控制端口，另外設(shè)計了一個電源指示燈，用于上電確認(rèn)。

　　測試系統(tǒng)軟件設(shè)計

　　系統(tǒng)軟件在Windows XP環(huán)境下采用Visual C++6.0及National Instruments公司的LabWindows 6.0集成開發(fā)環(huán)境完成。Visual C++ 6.0能夠提供豐富的Windows程序開發(fā)功能，靈活性強(qiáng)、編程效率高;LabWindows 6.0提供了多種接口協(xié)議、豐富的控件及儀器驅(qū)動程序，其支持虛擬儀器技術(shù)的特性是其它開發(fā)環(huán)境無法比擬的，同時它提供了豐富的軟件包接口，為軟件開發(fā)提供了極大的方便。

　　軟件設(shè)計采取了軟件模塊化及自頂向下的設(shè)計原則，首先根據(jù)MERGE原則劃分電路模塊，將測試程序分割成不同的測試模塊，其次采用宏的方式構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)的測試模塊并優(yōu)化模塊接口，然后將其它待測模塊與該模塊接口進(jìn)行有效鏈接，再分別進(jìn)行編譯及調(diào)試，最后一起進(jìn)行合并構(gòu)建完整的測試體。在開發(fā)過程中，將該軟件分為若干模塊不但減少了軟件的工作量，而且對于函數(shù)的公共部分進(jìn)行了類的封裝，提高了模塊的復(fù)用性，同時提高了軟件本身的可測試性。

　　測試優(yōu)化

　　為減少ATE在故障診斷中誤判的概率，系統(tǒng)采用加權(quán)偽隨機(jī)向量關(guān)系生成、插入間隔刷新測試矢量優(yōu)化測試矢量和測試過程。

　　(1) 加權(quán)偽隨機(jī)測試矢量生成：加權(quán)偽隨機(jī)測試矢量生成能夠利用較短的測試碼長度(即較短的測試時間)達(dá)到較高的測試故障覆蓋率。為了縮短測試碼并改進(jìn)故障覆蓋率，這種測試矢量生成方式可以調(diào)節(jié)在輸入端產(chǎn)生0或1的概率，有效檢測到難檢測的故障。在偽隨機(jī)測試碼中，每個輸入端產(chǎn)生0或1的概率為50%。

　　(2) 插入式間隔刷新：由于數(shù)據(jù)線具有一定的電平保持特性，因此對于一組數(shù)據(jù)總線I/O而言，在BS-Cell處于讀狀態(tài)時(如處于Update狀態(tài))，Cell單元的Output Enable Control Cell處于有效狀態(tài)，測試矢量通過BS-Cell施加至I/O數(shù)據(jù)總線，如果下一個時鐘節(jié)拍，BS-Cell處于寫狀態(tài)(如處于Capture狀態(tài))，由于數(shù)據(jù)線的電平保持特性，則有可能在此時間，BS-Cell所Capture回讀的數(shù)據(jù)為上一個時鐘節(jié)拍的Update數(shù)據(jù)，造成測試不穩(wěn)定。解決的辦法是在每一次讀狀態(tài)結(jié)束后，系統(tǒng)根據(jù)讀狀態(tài)的間隔時間，隨機(jī)產(chǎn)生一組與上一組測試矢量不同的數(shù)據(jù)，命名為*data，對I/O總線進(jìn)行間隔刷新。

　　實驗結(jié)果及分析

　　現(xiàn)以某新型雷達(dá)點跡處理數(shù)字電路為例進(jìn)行系統(tǒng)功能驗證。整個電路采用DSP+FPGA的設(shè)計架構(gòu)，其主要芯片包括：5片DSP(ADSP21060)、2片F(xiàn)PGA(Atlera Flex EPF10K系列)、8片雙口RAM(QFP封裝)，其他E2PROM、HC244(SOP封裝)、HC245(SOP封裝)等。電路設(shè)計復(fù)雜，芯片多，PCB布局布線密度大，采用ICT、功能測試TPS開發(fā)難度大。

　　利用本邊界掃描自動測試系統(tǒng)，結(jié)合MERGE方法，對上述電路板進(jìn)行TPS開發(fā)實驗及故障診斷，測試結(jié)果如圖4所示。

　　插入模擬故障(U8-6 stuck to 0)，重新仿真：掃描鏈測試→PASS→B-Scan器件簇測試→PASS→NB-Scan器件簇測試→Failed (Report: Pin(s): U3-25，R26-2，U8-6，R26-1 possible stuck at low，the BS nodes is U31-21(R/W))。

　　上述仿真結(jié)果表明，融合MERGE方法所構(gòu)建的基于邊界掃描的板級自動測試系統(tǒng)，自動化程度高，故障隔離準(zhǔn)確有效。