隨著全球蜂窩通信網絡運營商逐步采用LTE，滿足所有LTE要求的需求也在增長，其中包括衰落特性。第三代合作伙伴計劃(3GPP) 在其TS 36.521-1標準中規(guī)定了衰落的技術規(guī)格，用以測量LTE手機的衰落特性。

　　傳統(tǒng)衰落特性測試方法采用外部衰落模擬器和噪聲源，通過常規(guī)射頻測試設備修改信號。這種設備顯著增加了整個測試系統(tǒng)的成本，并且需要額外的軟件控制并協調各個儀器。本文將介紹一種創(chuàng)新的全數字衰落模擬方法，這種方法可極大減少增加貴重設備所產生的成本，同時提高測量精度并縮短測試時間。

　　模擬信號衰落

　　如圖1所示，實際系統(tǒng)環(huán)境下，發(fā)射機與接收機之間存在無數條路徑。顯然，不可能模擬所有路徑，但為了滿足測試目的，那些損耗明顯大于“最佳”路徑且對接收信號質量造成負面影響的路徑將，我們將其忽略。同樣，延遲較長的路徑，也會產生很高損耗，不需要進行模擬。根據具有相似延遲的一組路徑，以及多普勒頻移效果的統(tǒng)計可進一步簡化模擬。而 Aeroflex 等效于基帶信號的射頻(RF)轉換，也許是最簡單的一種方法。

　　如圖2(a)所示，射頻信道仿真一般采用兩種儀器進行測試，即衰落模擬器和加性高斯白噪聲(AWGN)源。衰落模擬器模仿基站與用戶設備之間隨時間變化的射頻路徑，AWGN信號源模仿其他小區(qū)或用戶產生干擾。

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　　除附加設備產生的成本外，這種傳統(tǒng)方法還存在以下局限：

　　· 信號電平不穩(wěn)，需要非常仔細的校準。

　　· 外部組件產生介入損耗和延遲。

　　· 不同測試需要手動改變連接。

　　· 獨立的衰落RF信道數量有限—— 難以滿足軟切換(UMTS)、天線分集和MIMO(多路輸入/多路輸出)環(huán)境的測試要求。

　　· 模擬組件降低信號質量。

　　· 難以或不可能進行精確的重復測試。

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　　基帶衰落模擬

　　相比之下，內置衰落模擬器選件的Aeroflex 7100射頻測試儀采用的測試方法如圖2(b)所示。7100 測試平臺(如圖3所示)衰落模擬功能滿足或優(yōu)于所有3GPP要求，并且可以根據LTE用戶設備空前靈活地分配小區(qū)和衰落路徑，不需要手動重新配置。內置衰落模擬器的7100測試儀可以進行完整的重復測試，包括模擬動態(tài)環(huán)境，可靠精確地測試MIMO系統(tǒng)。

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　　7100平臺中的每個基帶模塊是一種Micro-TCA卡，含有多種通用處理器(GPP)、DSP、FPGA和雙向高速數字鏈路。

　　基帶模塊生成一個或大量小區(qū)輸出的基帶樣本，可以是SISO(單路輸入，單路輸出)，也可以是MIMO。AWGN在信號到達RF模塊之前加入信號中，模擬其他干擾小區(qū)。這是一種全數字解決方案：增加衰落和噪聲不必采用任何 新的模擬器件。這樣可以消除校準問題，傳輸到模擬器件的信號可以完全重用。

　　每個基帶模塊中的多徑模擬器支持多達9個衰落路徑，每個路徑可在傳輸的信號中加入隨時間變化的獨立增益和延遲。

　　Aeroflex 7100 射頻測試平臺提供可擴展的基帶和射頻源。由于加入基帶模塊，而不是射頻通道，衰落也是一種可擴展的信號源。通過添加7100單元，只需對物理連接稍做調整，即可增加小區(qū)、天線或衰落路徑。

　　射頻工程師、系統(tǒng)集成人員和回歸測試工程師，需要隨時做好測試LTE新功能的準備。為滿足LTE未來需求，Aeroflex 7100衰落模擬器支持20 MHz 以下所有LTE帶寬，頻率范圍達6GHz。衰落模擬器支持所有3GPP衰落規(guī)格，便于用戶確定自己的設備是否符合3GPP測試技術要求。

　　結束語

　　Aeroflex 7100測試平臺的衰落模擬器和AWGN選件，專門用來克服傳統(tǒng)用戶設備測試方法在射頻通道中采用外部組件的局限性。此外，7100 測試儀還為滿足3GPP LTE的各種要求提供完整的測試解決方案，包括MIMO、天線分集和軟切換，相對于采購外部組件，可以極低的成本提供精確的、可重復的測試結果。

　　7100數字射頻測試儀采用 Aeroflex 經過驗證的 RF 和基帶技術，具有支持LTE 終端設備RF參數和協議測試的獨特功能。7100測試儀可從物理層到核心網絡IP基礎設施進行全面網絡模擬，以小型臺面測試儀為LTE移動設備提供完整的測試系統(tǒng)。