前言
MIL-STD-1553作為一個(gè)軍用串行總線標(biāo)準(zhǔn)于1973年由美國國防部發(fā)布,此標(biāo)準(zhǔn)定義了總線的機(jī)械特性、電氣特性和功能特性。1553總線首先被應(yīng)用在航空設(shè)備中,后來也被廣泛應(yīng)用在航天的數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)中。它作為命令/應(yīng)答方式的半雙工串行總線,采用雙冗余平衡傳輸線(屏蔽雙絞線),通過時(shí)分復(fù)用的方式,最多可以連接31個(gè)終端(RT)設(shè)備。由于采用了曼徹斯特編碼,MIL-STD-1553總線數(shù)據(jù)可以在采用變壓器隔離的傳輸線路中傳輸,從而可以將設(shè)備節(jié)點(diǎn)從總線系統(tǒng)中隔離出來,進(jìn)而提高了總線系統(tǒng)的可靠性。
鑒于特殊的總線結(jié)構(gòu)和苛刻的應(yīng)用環(huán)境,完善的總線測試手段無疑是保障MIL-STD-1553總線系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵。目前1553總線的測試大都是以MIL-HDBK-1553為參考,該測試標(biāo)準(zhǔn)的覆蓋面比較廣,涵蓋了電氣性能測試和協(xié)議測試,如果總線設(shè)備能通過標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的所有必要項(xiàng)目的測試,這個(gè)終端設(shè)備的可靠性便得到了根本的保障。但是MIL-HDBK-1553對(duì)測試設(shè)備的要求較高,一個(gè)綜合的MIL-STD-1553總線測試設(shè)備需要同時(shí)具有示波器功能、信號(hào)發(fā)生器功能和阻抗測量的功能,最關(guān)鍵的是要具有故障注入功能的1553總線仿真終端的功能。目前市面上能夠找到的大都是單功能的測試設(shè)備/儀器,如獨(dú)立的示波器、獨(dú)立的信號(hào)發(fā)生器和單獨(dú)的1553總線仿真卡等。如果采用這些獨(dú)立的設(shè)備來搭建總線測試系統(tǒng)的話,所組成的測試系統(tǒng)使用起來會(huì)很不方便,不僅造成測試效率不高,也同時(shí)也會(huì)因?yàn)槿斯そ槿胩啵瑢?dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。另外,目前市面上的總線仿真卡只能注入MIL-HDBK-1553所規(guī)定的部分故障,不能實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的所有故障注入功能,這樣就會(huì)將測試覆蓋率大大折扣,往往會(huì)在總線設(shè)備中埋下隱患。
AT15000是珠海矽微電子科技有限公司研發(fā)的多功能總線分析儀,集成了示波器、信號(hào)發(fā)生器、阻抗測試儀、時(shí)域反射計(jì)和1553總線仿真卡的功能,這些設(shè)備功能在AT15000中有機(jī)結(jié)合,協(xié)同工作,可以實(shí)現(xiàn)MIL-HDBK-1553規(guī)定的全部協(xié)議測試和電氣性能測試,具有很高的測試覆蓋率,大大降低了1553總線測試設(shè)備的難度。作為ATE,AT15000的大部分測試均可自動(dòng)進(jìn)行,用戶只需要進(jìn)行很少幾次人工干預(yù),就可完成一個(gè)非常完整的測試流程,同時(shí)AT15000還能自動(dòng)生成文本格式的測試報(bào)告,以便產(chǎn)品備案和測試跟蹤,大大提高了測試效率和測試質(zhì)量。
AT15000根據(jù)終端類型的不同,將測試分為三個(gè)部分:BC測試、BM測試和RT測試,又根據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)將電氣性能測試和協(xié)議測試分成了很多個(gè)測試子項(xiàng)目,用戶可以通過測試腳本來選擇測試子項(xiàng)目和定義測試順序,使得測試工作變得非常靈活,易于控制。
1. 終端電氣性能測試
終端的電氣性能測試包括輸入電氣性能測試和輸出電氣性能測試,一個(gè)可靠的終端設(shè)備要具有良好的輸入信號(hào)容忍度和完整的信號(hào)輸出特性。
輸出特性包括輸出信號(hào)的幅值、過零穩(wěn)定度、過沖、振鈴、上升/下降時(shí)間、輸出對(duì)稱性、輸出噪聲、兩個(gè)通道的輸出隔離度和電源的開關(guān)噪聲。這幾種性能測試中,除了過零穩(wěn)定度的測試外,其他幾種測試都需要示波器模塊的配合。AT15000采用硬件邏輯來實(shí)時(shí)測量總線上信號(hào)的過零穩(wěn)定度,并報(bào)告出每一個(gè)總線字的最大過零點(diǎn)偏差。
在編碼器編碼正常的情況下,輸出的過零穩(wěn)定度和系統(tǒng)的時(shí)鐘穩(wěn)定度有關(guān),如果系統(tǒng)時(shí)鐘的漂移較大的話,也會(huì)造成過零偏差較大,從而造成接收端的數(shù)據(jù)接收不正常。
在總線阻抗正確匹配的情況下,過沖和振鈴主要是因?yàn)槭軠y設(shè)備中的總線發(fā)送器引起的。如果受測設(shè)備的電源供電設(shè)計(jì)不合理,給發(fā)送器供電不足的話,往往會(huì)在總線上產(chǎn)生過沖和振鈴。
輸出對(duì)稱性是用來考察發(fā)送器和隔離變壓器的輸出是否對(duì)稱,在理想狀態(tài)下,當(dāng)發(fā)送器不發(fā)送信號(hào)時(shí),總線上的差分電平應(yīng)該為0伏,但是當(dāng)受測設(shè)備的輸出不對(duì)稱時(shí),在信號(hào)發(fā)送完畢的瞬間,總線上會(huì)有殘留電平。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,這個(gè)殘留電平需要維持在一個(gè)數(shù)值以內(nèi),否則總線設(shè)備的輸出對(duì)稱性就不合格。
一個(gè)理想的1553總線設(shè)備要具有較小的電源開關(guān)噪聲和輸出噪聲,這樣才不會(huì)影響總線上其它設(shè)備的正常工作。
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,1553總線設(shè)備需要具有隔離良好的互為備份的兩個(gè)通道,如果這兩個(gè)通道的隔離度不夠的,其中一個(gè)通道就會(huì)干擾另一個(gè)通道上的信號(hào),從而降低總線的可靠性。
輸入特性包括過零點(diǎn)穩(wěn)定度、可接受的信號(hào)幅值、輸入阻抗、共模抑制能力以及上升/下降時(shí)間。這幾種輸入特性中,過零點(diǎn)穩(wěn)定度的測試需要1553總線控制器故障注入邏輯的配合,用以在發(fā)送的總線字中,根據(jù)測試的需要注入響應(yīng)的過零點(diǎn)偏差。輸入阻抗的測試需要信號(hào)發(fā)生器注入激勵(lì)正弦波,并通過示波器模塊來采樣響應(yīng)信號(hào),并根據(jù)激勵(lì)信號(hào)和響應(yīng)信號(hào)的真有效值來計(jì)算受測設(shè)備的輸入阻抗。
過零點(diǎn)穩(wěn)定度用來測試曼徹斯特解碼器的解碼能力和終端設(shè)備時(shí)鐘的穩(wěn)定度的。如果設(shè)備的時(shí)鐘不穩(wěn)定,即使解碼器的解碼能力非常好,也會(huì)造成接收誤碼。
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的接收信號(hào)幅值為0.28~27V之間。當(dāng)總線信號(hào)的幅值在此范圍之內(nèi)時(shí),設(shè)備的解碼器須對(duì)總線數(shù)據(jù)正確解碼。
如果總線設(shè)備的輸入阻抗過低,往往會(huì)加大總線的負(fù)荷,從而降低總線信號(hào)的幅值,縮短其它總線設(shè)備的壽命。
共模抑制能力是用來考察總線終端設(shè)備隔離變壓器的隔離度的。在正常情況下,變壓器次級(jí)線圈上的共模噪聲是不會(huì)影響初級(jí)線圈上的差分信號(hào),否則共模噪聲將會(huì)在初級(jí)線圈接收的差分信號(hào)上疊加一個(gè)干擾,從而影響終端設(shè)備的信號(hào)接收。
AT15000對(duì)電氣特性的測量采用全自動(dòng)方式,其內(nèi)置的示波器模塊會(huì)自動(dòng)捕獲需要測量的總線信號(hào),并計(jì)算出相應(yīng)的特性參數(shù)。在測試過程中無需人工干預(yù),用戶只需在其測試腳本中加入需要測試的項(xiàng)目即可。針對(duì)BC和RT的測試,在每個(gè)測試項(xiàng)目完成后,AT15000會(huì)自動(dòng)將測試結(jié)果寫到測試報(bào)告中,為測試提供了極大方便。
2. 協(xié)議測試
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的協(xié)議測試分為常規(guī)測試和故障注入兩個(gè)部分,常規(guī)測試要求BC/RT能接收/發(fā)送MIL-STD-1553B總線規(guī)定的命令,要求BM能夠正確解析總線協(xié)議,故障注入要求測試儀能夠在總線上注入標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的各種故障。在進(jìn)行協(xié)議測試的時(shí)候,首先要完成常規(guī)的協(xié)議測試,否則故障注入測試無法完成。
為了滿足測試標(biāo)準(zhǔn)的要求,一個(gè)總線測試ATE除了要具備仿真器、信號(hào)發(fā)生器、總線仿真終端的功能外,還需要具備MIL-HDBK-1553規(guī)定的以下功能:
能夠注入最大不小于250ns的過零點(diǎn)偏差;
能夠在任意總線字上注入奇偶校驗(yàn)錯(cuò)誤;
能夠在不同的消息上注入任意消息長度錯(cuò)誤;
能夠在任意總線字上注入任意長度的字長錯(cuò)誤;
能夠在總線字的任意位上注入相位編碼錯(cuò)誤,并且可以在錯(cuò)誤位上輸出高電平或者低電平;
能夠在總線上注入數(shù)據(jù)連續(xù)錯(cuò)誤;
能夠在總線上注入替換命令;
RT的應(yīng)答時(shí)間在0微秒到14微秒之間可調(diào);
RT可以采用任意地址來應(yīng)答總線命令;
可以通過軟件關(guān)掉RT的應(yīng)答(數(shù)據(jù)要能正常接收);
可以在任意總線字上注入標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的5種同步頭錯(cuò)誤;
能夠產(chǎn)生總線切換命令;
能夠正確識(shí)別協(xié)議規(guī)定的所有模式命令;
能夠在總線上注入均方根為140mv(直接耦合方式200mv),頻率范圍為1K~4Mhz之間的高斯白噪聲。
如果采用市面上通用的MIL-STD-1553總線控制芯片,無法實(shí)現(xiàn)上述的總線故障注入功能,同時(shí)也沒有商用的帶有故障注入功能的總線控制芯片出售。所以為了能夠?qū)崿F(xiàn)上述功能,測試設(shè)備開發(fā)商需自行開發(fā)帶有故障注入功能的1553總線控制芯片。
基于上述考慮,矽微公司自行開發(fā)了總線測試設(shè)備專用的1553總線控制IP核,可以在ACTEL和ALTERA的多個(gè)系列的FPGA實(shí)現(xiàn)。用于采用硬邏輯的方式來注入故障,所以改IP核能夠?qū)崿F(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的全部故障注入功能。此IP核的功能框圖如表一:
如表一所示,控制器IP核中實(shí)現(xiàn)了一個(gè)BC、一個(gè)BM和兩個(gè)多功能RT,這些功能可以同時(shí)工作,并且可以同時(shí)仿真32個(gè)RT。IP核采用64M時(shí)鐘,可以以15.6ns的分辨率在總線上注入過零點(diǎn)偏差,大大提高了總線測試的精度。經(jīng)過矽微公司數(shù)個(gè)型號(hào)的總線測試設(shè)備的驗(yàn)證,證明這個(gè)IP核的設(shè)計(jì)是合理的,工作狀態(tài)是穩(wěn)定可靠的。
如果只實(shí)現(xiàn)1553控制器的IP核,還是無法實(shí)現(xiàn)總線的自動(dòng)測試的。除總線控制器外,還需實(shí)現(xiàn)示波器的采樣邏輯,信號(hào)發(fā)生器的邏輯以及時(shí)域反射計(jì)的邏輯。同時(shí)還要根據(jù)總線測試標(biāo)準(zhǔn)的要求,將這些邏輯組合起來,以方便總線電氣性能的測試。AT15000采用ALTERA公司的CYCLONEIII FPGA芯片,在FPGA中實(shí)現(xiàn)了上述幾種邏輯。其中的示波器邏輯可以由1553控制器的邏輯來觸發(fā),使得總線電氣特性的測試變得非常簡單。
作為ATE,總線測試設(shè)備需要具備較高的自動(dòng)化程度,盡量減少人工干預(yù)。所以在設(shè)計(jì)測試儀軟件的時(shí)候,需要仔細(xì)分析測試標(biāo)準(zhǔn),將測試項(xiàng)目分類并細(xì)化成若干個(gè)子測試項(xiàng)目,讓用戶可以自由選擇測試項(xiàng)目并定義測試順序,以使測試更加靈活,進(jìn)而滿足不同測試場合的需要。AT15000根據(jù)總線終端設(shè)備類型將測試分為RT測試、BM測試和BC測試三種,同時(shí)將每種測試分為很多個(gè)子測試項(xiàng)目,用戶可以通過腳本的形式來自由選擇測試項(xiàng)目和定義測試順序。在三種類型的測試中,除了RT的測試之外,BM和BC的測試需要受測設(shè)備的軟件配合,所以在測試BM和BC的時(shí)候,用戶需要編寫受測設(shè)備的軟件,用以配合測試儀的測試。
由于BM只具備總線監(jiān)聽的功能,所以測試儀無從知道BM當(dāng)前的協(xié)議接收狀態(tài)。AT15000根據(jù)用戶的腳本配置,依照測試標(biāo)準(zhǔn),將響應(yīng)的總線消息依次發(fā)送到總線上,并在消息發(fā)送完畢后,將所發(fā)送的總線消息寫到測試報(bào)告中。測試完畢后,用戶需要將受測設(shè)備接收到的消息導(dǎo)出至PC機(jī)上。AT15000的上位機(jī)軟件“TESTMASTER”會(huì)根據(jù)兩份測試報(bào)告來分析BM的測試結(jié)果是否正確。
在測試BC之前,用戶需要根據(jù)AT15000的BC測試手冊(cè)編寫B(tài)C測試程序,用以配合AT15000的測試。另外AT15000也不對(duì)測試結(jié)果作出判斷,受測設(shè)備需自行判斷測試結(jié)果,并通過總線將測試結(jié)果發(fā)送給AT15000。
針對(duì)RT的測試,AT15000采用全自動(dòng)方式,在發(fā)送相應(yīng)的測試數(shù)據(jù)的同時(shí),還會(huì)對(duì)測試結(jié)果作出正確與否的判斷。用戶只需在測試腳本中選擇所需要的測試項(xiàng)目,并定義好測試順序,同時(shí)給出AT15000要求的受測RT的參數(shù)(如RT地址、RT的合法接收命令、合法的發(fā)送命令等等)即可。
結(jié)論
鑒于MIL-STD-1553總線苛刻的應(yīng)用場合,所以1553總線設(shè)備的測試也得務(wù)求詳盡,這樣才能保證總線系統(tǒng)的可靠運(yùn)行,在測試中任何的疏忽和馬虎都會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的后果。
經(jīng)過先行者不斷地總結(jié)和歸納,1553總線的測試標(biāo)準(zhǔn)也日益嚴(yán)密,同時(shí)也給測試設(shè)備的研制帶來挑戰(zhàn)。研制出符合測試標(biāo)準(zhǔn)的測試設(shè)備是1553總線測試的前提,良好的測試設(shè)備不僅可以提高總線的測試效率,還能為總線設(shè)備的可靠性提供強(qiáng)有力的保障。
責(zé)任編輯:gt
評(píng)論
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