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半導體工藝 臭氧化去離子水去除最終拋光晶片上的顆粒

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2022-03-10 14:45:082

兆聲清洗晶片過程中去除力的分析

半導體器件的制造過程中,兆聲波已經被廣泛用于從硅晶片去除污染物顆粒。在這個過程中,平面硅片被浸入水基溶液中,并受到頻率在600千赫-1兆赫范圍內的聲能束的作用。聲波通常沿著平行于晶片/流體界面
2022-03-15 11:28:22460

采用化學機械拋光(CMP)工藝去除機理

采用化學機械拋光(CMP)工藝,在半導體工業中已被廣泛接受氧化物電介質和金屬層平面化。使用它以確保多層芯片之間的互連是實現了介質材料的可靠和厚度是一致且充分的。在CMP過程中,晶圓是當被載體
2022-03-23 14:17:511643

利用臭氧去離子水開發成本低的新型清洗工藝

本研究利用臭氧去離子水(DIO3)開發了擁有成本低的新型清洗工藝(氧化亞鈷),臭氧濃度為40ppm,用于去除有機蠟膜和顆粒,僅經過商業除蠟處理后,蠟渣仍超過200A。
2022-03-24 14:54:45329

通過臭氧微氣泡進行半導體晶圓的光刻膠去除實驗

半導體的清洗在制造工序中也是非常重要的。特別是光刻膠的去除是最困難的,一般使用硫酸和過氧化氫混合的溶液(SPM)等。但是,這些廢液的處理是極其困難的,與環境污染有很大的關系,因此希望引進環保的清洗技術。因此,作為環保的清洗技術之一,以蒸餾水、臭氧為基礎,利用微氣泡的清洗法受到關注。
2022-03-24 16:02:56733

濕臺清洗中顆粒去除的新概念

面損傷有負面影響。近年來,它已被修改為加入更稀的溶液,以減少由氫氧化銨引起的表面微觀粗糙度。在本文中,提出了一種新思路,即使用去離子水快速傾倒沖洗 (QDR) 模式從對話設置轉變為改進模式。使用 DIW 進行修改的修改配方可以在加工過程中完全去除顆粒
2022-03-30 14:29:42311

半導體制造過程中的硅晶片清洗工藝

在許多半導體器件的制造中,硅是最有趣和最有用的半導體材料。 在半導體器件制造中,各種加工步驟可分為四大類,即沉積、去除、圖形化和電性能的修改。 在每一步中,晶片清洗都是開發半導體電子器件的首要和基本步驟。 清洗過程是在不改變或損壞晶圓表面或基片的情況下去除化學物質和顆粒雜質。
2022-04-01 14:25:332949

濕法和顆粒去除工藝的簡要概述

過程的內在能力和局限性。已經確定了三種顆粒去除過程——能夠去除所有顆粒尺寸和類型的通用過程,甚至來自圖案晶片,具有相同理論能力但實際上受到粒子可及性的限制,最后是無法去除所有顆粒尺寸的清洗。 通過計算施加給細顆粒
2022-04-08 17:22:531231

濕法和顆粒去除工藝詳解

能力和局限性。已經確定了三種顆粒去除過程——能夠去除所有顆粒尺寸和類型的通用過程,甚至來自圖案晶片,具有相同理論能力但實際上受到粒子可及性的限制,最后是無法去除所有顆粒尺寸的清洗。
2022-04-11 16:48:42520

半導體制造工藝中澆口蝕刻后的感光膜去除方法

通過使半導體制造工藝中澆口蝕刻后生成的聚合物去除順暢,可以簡化后處理序列,從而縮短前工藝處理時間,上述感光膜去除方法是:在工藝室內晶片被抬起的情況下,用CF4+O2等離子去除聚合物的步驟;將晶片安放在板上,然后用O2等離子去除感光膜的步驟;和RCA清洗步驟。
2022-04-11 17:02:43783

一種澆口蝕刻后的感光膜去除方法

本發明涉及一種感光膜去除方法,通過使半導體制造工藝中澆口蝕刻后生成的聚合物去除順暢,可以簡化后處理序列,從而縮短前工藝處理時間,上述感光膜去除方法是:在工藝室內晶片被抬起的情況下,用CF4+O2等離子去除聚合物的步驟; 將晶片安放在板上,然后用O2等離子去除感光膜的步驟; 和RCA清洗步驟。
2022-04-12 16:30:26356

晶片的蝕刻預處理方法包括哪些

晶片的蝕刻預處理方法包括:對角度聚合的硅晶片進行最終聚合處理,對上述最終聚合的硅晶片進行超聲波清洗后用去離子水沖洗,對上述清洗和沖洗的硅晶片進行SC-1清洗后用去離子水沖洗,對上述清洗和沖洗的硅晶片進行佛山清洗后用去離子水沖洗的步驟,對所有種類的硅晶片進行蝕刻預處理,特別是P(111)。
2022-04-13 13:35:46852

一種半導體制造用光刻膠去除方法

本發明涉及一種去除光刻膠的方法,更詳細地說,是一種半導體制造用光刻膠去除方法,該方法適合于在半導體裝置的制造過程中進行吹掃以去除光刻膠。在半導體裝置的制造工藝中,將殘留在晶片上的光刻膠,在H2O
2022-04-13 13:56:42872

半導體濕法中臭氧溶液去除有機/無機污染

本研究利用臭氧去離子水(DIO3)開發了擁有低成本的新型清洗工藝(氧化亞鈷),臭氧濃度為40ppm,用于去除有機蠟膜和顆粒,僅經過商業除蠟處理后,蠟渣仍超過200A。 DIO3代替脫蠟劑在8000a
2022-05-05 16:38:33834

一種臭氧氧化和硅蝕刻技術

本文章提出了一種新的半導體超鹵素深度分析方法,在通過臭氧氧化去除一些硅原子層,然后用氫氟酸蝕刻氧化物后重復測量,確定了成分和表面電位的深度分布,因此這種分析技術提供了優于0.5納米的深度分辨率,通過
2022-05-06 15:50:39366

采用臨界粒子雷諾數方法去除晶圓表面的粘附顆粒

化學機械平面化后的葉片清洗,特別是刷子擦洗,是半導體器件制造的一個關鍵步驟,尚未得到充分了解。臨界粒子雷諾數方法用于評估在刷擦洗過程中去除晶圓表面的粘附顆粒,或者是否必須發生刷-粒子接觸。考慮了直徑
2022-05-07 15:48:381575

開發一種低成本的臭氧去離子水清洗工藝

摘要 本研究開發了一種低擁有成本的臭氧去離子水清洗工藝。室溫下40 ppm的臭氧濃度用于去除有機蠟膜和顆粒。僅經過商業脫蠟處理后,仍殘留有厚度超過200的蠟殘留物。由于臭氧的擴散限制反應,代替脫蠟
2022-05-07 15:49:26920

銅在去離子水中的蝕刻研究

引言 我們華林科納描述了一種與去離子水中銅的蝕刻相關的新的成品率損失機制。在預金屬化濕法清洗過程中,含有高濃度溶解氧的水會蝕刻通孔底部的銅。蝕刻在金屬化后殘留的Cu中產生空隙,導致受影響的陣列電路
2022-06-16 16:51:101809

碳化硅襯底和MEMS晶圓的研磨拋光技術

半導體和LED的制造中,需要研磨以使晶片的厚度變薄,以及拋光以使表面成為鏡面。在半導體器件的制造中,半導體制造 工藝包括:(1)從晶體生長開始切割和拋光硅等,并將其加工成晶片形狀的工藝晶片制造
2023-02-20 16:13:411

半導體原材料到拋光晶片的基本工藝流程

 半導體材料和半導體器件在世界電子工業發展扮演的角色我們前幾天已經聊過了。而往往身為使用者的我們都不太會去關注它成品之前的過程,接下來我們就聊聊其工藝流程。今天我們來聊聊如何從原材料到拋光晶片的那些事兒。
2023-04-14 14:37:502035

用于制造半導體晶體的脫氣室和使用其的脫氣工藝

本文涉及一種用于制造半導體元件的滴氣室及利用其的滴氣工藝晶片內側加載的腔室,安裝在艙內側,包括通過加熱晶片激活晶片上殘存雜質的加熱手段、通過將晶片上激活的雜質吸入真空以使晶片上激活的雜質排出外部的真空吸入部、以及通過向通過加熱手段加熱的艙提供氫氣以去除晶片上金屬氧化膜的氫氣供給部
2023-04-23 10:22:02337

碳化硅晶片的超精密拋光工藝

使用化學機械拋光(CMP)方法對碳化硅晶片進行了超精密拋光試驗,探究了滴液速率、拋光頭轉 速、拋光壓力、拋光時長及晶片吸附方式等工藝參數對晶片表面粗糙度的影響,并對工藝參數進行了優化,最終 得到了表面粗糙度低于0.1 nm的原子級光滑碳化硅晶片
2023-05-31 10:30:062215

臭氧清洗系統的制備及其在硅晶片清洗中的應用

半導體和太陽能電池制造過程中,清洗晶圓的技術的提升是為了制造高質量產品。目前已經有多種濕法清洗晶圓的技術,如離子水清洗、超聲波清洗、低壓等離子和機械方法。由于濕法工藝一般需要使用含有有害化學物質的酸和堿溶液,會產生大量廢水,因此存在廢物處理成本和環境監管等問題。
2023-06-02 13:33:211021

針對去離子水晶片表面處理的應用的研究

隨著半導體科技的發展,在固態微電子器件制造中,人們對清潔基底表面越來越重視。濕法清洗一般使用無機酸、堿和氧化劑,以達到去除光阻劑、顆粒、輕有機物、金屬污染物以及硅片表面上的天然氧化物的目的。然而,隨著硅電路和器件結構規模的不斷減小,英思特仍在專注于探索有效可靠的清潔方法以實現更好的清潔晶圓表面。
2023-06-05 17:18:50437

漲知識!半導體材料的分類

根據制造工藝分類,半導體硅片主要可以分為拋光片、外延片與以SOI硅片為代表的高端硅基材料。單晶硅錠經過切割、研磨和拋光處理后得到拋光片。拋光片經過外延生長形成外延片,拋光片經過氧化、鍵合或離子注入等工藝處理后形成SOI硅片。
2023-06-27 14:34:383731

什么是臭氧去離子水工藝

臭氧-去離子水 (O3 -DI) 工藝可以集成到臭氧 (O3) 具有工藝優勢的各種水性應用中。 溶解在水中的臭氧也可用作 HCl 過氧化物混合物中過氧化氫的替代品,從而降低所用化學品的成本,同時
2023-07-07 17:25:07163

紫外線TOC純水處理技術助力半導體產業“芯”發展

超純水是經過深度純化的水,除去水中所有礦物質、顆粒、細菌、微生物和溶解的氣體。在芯片制造中也被稱為去離子水(DI Water),但實際上超純水和去離子水的標準并不完全相同,超純水是具有更高純度標準的去離子水
2023-08-02 15:01:46801

[半導體前端工藝:第二篇] 半導體制程工藝概覽與氧化

[半導體前端工藝:第二篇] 半導體制程工藝概覽與氧化
2023-11-29 15:14:34541

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