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78% 的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致

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78% 的硬件失效由于焊接問題導(dǎo)致??

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78%的硬件失效罪魁禍?zhǔn)资鞘裁矗?/a>

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2022-02-10 09:49:0618

BGA焊接可靠性評價指引方案

日常分析中,經(jīng)常出現(xiàn)由于BGA焊接可靠性導(dǎo)致的工程、市場失效問題,或檢出存在焊接可靠性風(fēng)險(xiǎn)的問題。鑒于BGA焊接的隱蔽性,造成失效對象品的風(fēng)險(xiǎn)較難預(yù)測,因此需要從源頭便開始科學(xué)有效地評價,這也利于
2022-06-13 14:33:581667

MLCC的失效原因分析

MLCC由陶瓷介質(zhì)、端電極、金屬電極三種材料構(gòu)成。由于陶瓷的特性一般比較脆,所以會因?yàn)閼?yīng)力或溫度導(dǎo)致破裂或與金屬電極錯位是MLCC失效的主要原因。陶瓷電容也同樣會應(yīng)為電應(yīng)力過大導(dǎo)致失效。MLCC
2022-11-28 15:40:573988

淺談連接器端子焊接技術(shù)熱失效問題

焊接是更傳統(tǒng)和最經(jīng)濟(jì)的連接器端接方法,它是將鉛、錫、黃銅或銀的合金熔化并冷卻到焊料杯中,以將導(dǎo)體粘合到連接器的觸點(diǎn)上。 淺談連接器端子焊接技術(shù)熱失效問題 連接器使用焊接技術(shù),而不是需要
2022-12-29 14:21:40334

芯片底部焊接不良失效分析

No.1 案例背景 當(dāng)芯片底部出現(xiàn)焊接不良的問題時,我們可以怎么進(jìn)行失效分析呢? 本篇案例運(yùn)用X-ray檢測——斷面檢測——焊錫高度檢測——SEM檢測的方法,推斷出芯片底部出現(xiàn)焊接不良的失效原因
2023-02-14 15:57:421160

UPD78F802x, 78F803x Microcontrollers 用戶手冊: 硬件

UPD78F802x, 78F803x Microcontrollers 用戶手冊: 硬件
2023-04-04 19:15:070

78K0/Kx2-C 用戶手冊: 硬件(R01UH0014EJ0201_78K0KX2C)

78K0/Kx2-C 用戶手冊: 硬件 (R01UH0014EJ0201_78K0KX2C)
2023-04-13 19:15:500

78K0R/Kx3-C 用戶手冊: 硬件(R01UH0072EJ0200_78K0RKX3C)

78K0R/Kx3-C 用戶手冊: 硬件 (R01UH0072EJ0200_78K0RKX3C)
2023-04-13 19:16:350

UPD78F0730 用戶手冊:硬件(R01UH0308EJ0300_78K0USB)

UPD78F0730 用戶手冊:硬件 (R01UH0308EJ0300_78K0USB)
2023-04-13 19:21:320

78K0/Kx2-A 用戶手冊: 硬件(R01UH0227EJ0300_78K0KX2A)

78K0/Kx2-A 用戶手冊: 硬件 (R01UH0227EJ0300_78K0KX2A)
2023-04-17 18:46:150

78K0R/Kx3-L 用戶手冊: 硬件(R01UH0106EJ0400_78K0RKX3L)

78K0R/Kx3-L 用戶手冊: 硬件 (R01UH0106EJ0400_78K0RKX3L)
2023-04-17 19:23:390

78K0/Lx3 用戶手冊 for 硬件(R01UH0180EJ0200_78K0LX3)

78K0/Lx3 用戶手冊 for 硬件 (R01UH0180EJ0200_78K0LX3)
2023-04-17 19:38:360

78K0/Dx2用戶手冊: 硬件(R01UH0009EJ0300_78K0DX2)

78K0/Dx2 用戶手冊: 硬件 (R01UH0009EJ0300_78K0DX2)
2023-04-18 18:37:450

78K0/Lx3-M 用戶手冊: 硬件(R01UH0020EJ0200_78K0Lx3M)

78K0/Lx3-M 用戶手冊: 硬件 (R01UH0020EJ0200_78K0Lx3M)
2023-04-18 18:51:360

UPD78F8040, 78F8041, 78F8042, 78F8043 用戶手冊: 硬件(R01UH0119EJ0300_78K0RASSP)

UPD78F8040, 78F8041, 78F8042, 78F8043 用戶手冊: 硬件 (R01UH0119EJ0300_78K0RASSP)
2023-04-18 18:53:520

78K0/Kx2-L 用戶手冊: 硬件(R01UH0028EJ0400_78K0KX2L)

78K0/Kx2-L 用戶手冊: 硬件 (R01UH0028EJ0400_78K0KX2L)
2023-04-18 18:54:220

78K0/Kx2用戶手冊: 硬件(R01UH0008EJ0401_78K0Kx2)

78K0/Kx2 用戶手冊: 硬件 (R01UH0008EJ0401_78K0Kx2)
2023-04-18 19:35:040

78K0R/Kx3-A 用戶手冊: 硬件(R01UH0003EJ0200_78K0RKx3A)

78K0R/Kx3-A 用戶手冊: 硬件 (R01UH0003EJ0200_78K0RKx3A)
2023-04-18 19:55:550

壓接型與焊接式IGBT的失效模式與失效機(jī)理

失效率是可靠性最重要的評價標(biāo)準(zhǔn),所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041119

錫膏放置時間過久會影響焊接質(zhì)量嗎?

可能會分解失效。助焊劑是提高焊接質(zhì)量的重要成分,如果助焊劑失效,就會導(dǎo)致焊點(diǎn)質(zhì)量下降,可能出現(xiàn)焊點(diǎn)發(fā)黑、焊接無法成型的問題。同時,失效的助焊劑還會釋放出有害氣體,對
2023-04-19 17:47:301129

導(dǎo)致半導(dǎo)體制冷片失效的四個主要原因

通過實(shí)際經(jīng)驗(yàn)及測試發(fā)現(xiàn),導(dǎo)致制冷片失效的原因主要有以下4個方面:1、熱應(yīng)力:失效機(jī)理:半導(dǎo)體致冷器工作時一面吸熱、一面放熱,兩面工作在不同的溫度上。因?yàn)榘雽?dǎo)體材料和其他部件(導(dǎo)銅和瓷片)的熱膨脹
2023-04-28 17:54:362789

電蜂分享高壓連接器端子焊接失效

高壓連接器端子焊接不牢固是指在焊接過程中,端子與焊接件之間的焊接點(diǎn)未能充分熔合,導(dǎo)致高壓連接器在正常使用時出現(xiàn)接觸不良、信號傳輸失效等問題。
2023-06-20 17:28:06422

UPD78F802x, 78F803x Microcontrollers 用戶手冊: 硬件

UPD78F802x, 78F803x Microcontrollers 用戶手冊: 硬件
2023-07-14 18:48:520

78K0R/Fx3 用戶手冊: 硬件

78K0R/Fx3 用戶手冊: 硬件
2023-07-14 19:07:020

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析

失效包括硬件失效和軟件失效硬件失效由于電路板需要長時間運(yùn)行而導(dǎo)致的,而軟件失效由于軟件設(shè)計(jì)的缺陷或者系統(tǒng)運(yùn)行的安裝過程中的問題引起的。 硬件失效由于多種原因引起的。這些原因包括質(zhì)量問題、環(huán)境變化、基礎(chǔ)材料
2023-08-29 16:29:112805

78K0/Kx2-C 用戶手冊: 硬件(R01UH0014EJ0201_78K0KX2C)

78K0/Kx2-C 用戶手冊: 硬件 (R01UH0014EJ0201_78K0KX2C)
2023-08-31 18:31:020

78K0R/Kx3-C 用戶手冊: 硬件(R01UH0072EJ0200_78K0RKX3C)

78K0R/Kx3-C 用戶手冊: 硬件 (R01UH0072EJ0200_78K0RKX3C)
2023-09-01 18:30:250

UPD78F0730 用戶手冊:硬件(R01UH0308EJ0300_78K0USB)

UPD78F0730 用戶手冊:硬件 (R01UH0308EJ0300_78K0USB)
2023-09-06 18:30:140

共模電感因正負(fù)通流不平衡導(dǎo)致飽和失效案例

共模電感因正負(fù)通流不平衡導(dǎo)致飽和失效案例
2023-09-09 08:19:12768

案例分享:手工焊接導(dǎo)致IC和外圍元器件受損

案例分享:手工焊接導(dǎo)致IC和外圍元器件受損
2023-10-17 18:04:29372

LGA封裝芯片焊接失效

樣品LGA焊接未發(fā)現(xiàn)明顯異常。 #2 染色分析 測試結(jié)果:樣品1將LGA染色試驗(yàn)剝離后,發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)多數(shù)存在錫量較少的現(xiàn)象,焊接面積小;少數(shù)呈現(xiàn)為無焊錫結(jié)合,可以確認(rèn)為虛焊不良。 #3 斷面分析 錫少導(dǎo)致的未焊錫 僅有部分焊接 ? 測試結(jié)果:樣品2進(jìn)行斷面分析,LGA多處虛焊不良與
2023-09-28 11:42:21399

78K0/Kx2-A 用戶手冊: 硬件(R01UH0227EJ0300_78K0KX2A)

78K0/Kx2-A 用戶手冊: 硬件 (R01UH0227EJ0300_78K0KX2A)
2023-11-02 18:31:030

LGA器件焊接失效分析及對策

介紹LGA器件焊接失效分析及對策
2023-11-15 09:22:14349

案例分享:手工焊接導(dǎo)致IC和外圍元器件受損

案例分享:手工焊接導(dǎo)致IC和外圍元器件受損
2023-12-05 10:13:51220

IGBT的失效模式與失效機(jī)理分析探討及功率模塊技術(shù)現(xiàn)狀未來展望

壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同,如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ),尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07724

導(dǎo)致PCB失效原因有哪些

隨著電子信息產(chǎn)品的小型化以及無鉛無鹵化的環(huán)保要求,PCB也向高密度高Tg以及環(huán)保的方向發(fā)展。但是由于成本以及技術(shù)的原因,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中出現(xiàn)了大量的失效問題,并因此引發(fā)了許多的質(zhì)量糾紛。
2023-12-12 16:48:31128

導(dǎo)致SMT焊接錫珠的常見因素有哪些?

SMT焊接是一種電子元器件的表面貼裝技術(shù)。SMT焊接通過在電路板表面安裝元器件,然后用錫膏和熱源將其焊接到板上。然而,在SMT焊接過程中,錫珠經(jīng)常出現(xiàn)。那么導(dǎo)致SMT焊接錫珠的因素有哪些呢?下面
2023-12-18 16:33:11204

導(dǎo)致MySQL索引失效的情況以及相應(yīng)的解決方法

導(dǎo)致MySQL索引失效的情況以及相應(yīng)的解決方法? MySQL索引的目的是提高查詢效率,但有些情況下索引可能會失效導(dǎo)致查詢變慢或效果不如預(yù)期。下面將詳細(xì)介紹導(dǎo)致MySQL索引失效的情況以及相應(yīng)
2023-12-28 10:01:18235

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