芯片一般是不會壞的,如果壞的話最常見的也是擊穿損壞,你可以用萬用表測量一下芯片的供電端對地的電阻或電壓,一般如果在幾十歐姆之內(nèi)或供電電壓比正常值低,大部分可以視為擊穿損壞了,可以斷開供電端,單獨測量一下供電是否正常。如果測得的電阻較大,那很可能是其他端口損壞,也可以逐一測量一下其他端口。看是否有對地短路的端口。
首先,由于IC是基礎電子元件的集成,所以不能簡單的像測試晶體管那樣來判斷它的好壞,如果不熟悉IC的功能和引腳定義,就要借助IC手冊;否則,只能根據(jù)IC在電路中的應用,測試其除開供電引腳外的其他引腳是否對電源開路或擊穿、引腳間是否相互擊穿等方法,來初略的判斷IC是否損壞;
其次,用萬用表測試集成電路,一般只能是小型IC,如厚膜、DIP、PCDIP、SOP等封裝的,如果是大規(guī)模的數(shù)字集成電路,如PGA、BGA等封裝的,用萬用表是勝任不了的; 再次,如果是對靜電敏感的IC,最好不要在無靜電防護措施的情況下,簡單的用萬用表測試,以防止損壞電路。
如果是通電的情況,可根據(jù)外接元件或線路推斷是輸入還輸出。一般情況下可用直流電阻法測量各引腳對應于接地腳間的正反向電阻值,并和完好集成電路進行比較,也可以采用替換法把可疑的集成電路插到正常設備同型號集成電路的位置上來確定其好壞。
在線檢查判斷
1. 電壓測量法
主要是測出各引腳對地的直流工作電壓值;然后與標稱值相比較,依此來判斷集成電路的好壞。用電壓測量法來判斷集成電路的好壞是檢修中最常采用的方法之一,但要注意區(qū)別非故障性的電壓誤差。測量集成電路各引腳的直流工作電壓時,如遇到個別引腳的電壓與原理圖或維修技術資料中所標電壓值不符,不要急于斷定集成電路已損壞,應該先排除以下幾個因素后再確定。 1. 所提供的標稱電壓是否可靠,因為有一些說明書,原理圖等資料上所標的數(shù)值與實際電壓有較大差別,有時甚至是錯誤的。此時,應多找一些有關資料進行對照,必要時分析內(nèi)部原理圖與外圍電路再進行理論上的計算或估算來證明電壓是否有誤。
2. 要區(qū)別所提供的標稱電壓的性質(zhì),其電壓是屬哪種工作狀態(tài)的電壓。因為集成塊的個別引腳隨著注入信號的不同而明顯變化,所以此時可改變波段或錄放開關的位置,再觀察電壓是否正常。如后者為正常,則說明標稱電壓屬某種工作電壓,而這工作電壓又是指在某一特定的條件下而言,即測試的工作狀態(tài)不同,所測電壓也不一樣。
3. 要注意由于外圍電路可變元件引起的引腳電壓變化。當測量出的電壓與標稱電壓不符時可能因為個別引腳或與該引腳相關的外圍電路,連接的是一個阻值可變的電位器或者是開關(如音量電位器、亮度、對比度、錄像、快進、快倒、錄放開關、音頻調(diào)幅開關等)。這些電位器和開關所處的位置不同,引腳電壓會有明顯不同,所以當出現(xiàn)某一引腳電壓不符時,要考慮引腳或與該引腳相關聯(lián)的電位器和開關的位置變化,可旋動或拔動開頭看引腳電壓能否在標稱值附近。
4. 要防止由于測量造成的誤差。由于萬用表表頭內(nèi)阻不同或不同直流電壓檔會造成誤差。一般原理上所標的直流電壓都以測試儀表的內(nèi)阻大于20KΩ/V進行測試的。內(nèi)阻小于20KΩ/V的萬用表進行測試時,將會使被測結果低于原來所標的電壓。另外,還應注意不同電壓檔上所測的電壓會有差別,尤其用大量程檔,讀數(shù)偏差影響更顯著。
5. 當測得某一引腳電壓與正常值不符時,應根據(jù)該引腳電壓對IC正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進行分析,才能判斷IC的好壞。
6. 若IC各引腳電壓正常,則一般認為IC正常;若IC部分引腳電壓異常,則應從偏離正常值最大處入手,檢查外圍元件有無故障,若無故障,則IC很可能損壞。
7. 對于動態(tài)接收裝置,如電視機,在有無信號時,IC各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大,該隨信號大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化,就可確定IC損壞。
8. 對于多種工作方式的裝置,如錄像機,在不同工作方式下,IC各引腳電壓也是不同的。
以上幾點就是在集成塊沒有故障的情況下,由于某種原因而使所測結果與標稱值不同,所以總的來說,在進行集成塊直流電壓或直流電阻測試時要規(guī)定一個測試條件,尤其是要作為實測經(jīng)驗數(shù)據(jù)記錄時更要注意這一點。通常把各電位器旋到機械中間位置,信號源采用一定場強下的標準信號,當然,如能再記錄各功能開關位置,那就更有代表性。如果排除以上幾個因素后,所測的個別引腳電壓還是不符標稱值時,需進一步分析原因,但不外乎兩種可能。一是集成電路本身故障引起;二是集成塊外圍電路造成。分辨出這兩種故障源,也是修理集成電路家電設備的關鍵。
除了直流電壓測量法外,還可以采用交流工作電壓測量法:為了掌握IC交流信號的變化情況,可以用帶有dB插孔的萬用表對IC的交流工作電壓進行近似測量。檢測時萬用表置于交流電壓擋,正表筆插入dB插孔;對于無dB插孔的萬用表,需要在正表筆串接一只0.1~0.5uF隔直電容。該法適用于工作頻率比較低的IC,如電視機的視頻放大級、場掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同,波形不同,所以所測的數(shù)據(jù)是近似值,或者作為有無信號的鑒別。
2. 在線直流電阻普測法
這一方法是在發(fā)現(xiàn)引腳電壓異常后,通過測試集成電路的外圍元器件好壞來判定集成電路是否損壞。。由于是斷電情況下測定阻值,所以比較安全,并可以在沒有資料和數(shù)據(jù)而且不必要了解其工作原理的情況下,對集成電路的外圍電路進行在線檢查,在相關的外圍電路中,以快速的方法對外圍元器件進行一次測量,以確定是否存在較明顯的故障。具體操作是先用萬用表R×10Ω檔分別測量二極管和三極管的正反向電阻值。此時由于歐姆檔位定得很低,外電路對測量數(shù)據(jù)的影響較小,可很明顯地看出二極管、三極管的正反向電阻,尤其是PN 結的正向電阻增大或短路更容易發(fā)現(xiàn)。其次可對電感是否開路進行普測,正常時電感兩端阻值較大,那么即可斷定電感開路。繼而根據(jù)外圍電路元件參數(shù)的不同,采用不同的歐姆檔位測量電容和電阻,檢查有否較為明顯的短路和開路性故障,從而排除由于外圍電路引起個別引腳的電壓變化。
3. 電流流向跟蹤電壓測量法
此方法是根據(jù)集成電路內(nèi)部的外圍元件所構成的電路,并參考供電電壓,即主要測試點的已知電壓進行各點電位的計算或估算,然后對照所測電壓電否符合,來判斷集成塊的好壞,本方法必須具備完整的集成塊內(nèi)部電路圖和外圍電路原理圖。
4. 在線直流電阻測量對比法
此方法是利用萬用表測量待查集成電路各引腳對地正反向直流電阻值與正常數(shù)據(jù)進行對照來判斷好壞。這一方法需要積累同一機型同型號集成電路的正常可靠數(shù)據(jù),以便和待查數(shù)據(jù)相對比。 測量時要注意以下三點:
a.測量前要先斷開電源,以免測試時損壞電表和元件。
b.萬用表電阻擋的內(nèi)部電壓不得大于6V,量程最好用R×100或R×1k擋。
c.測量IC引腳參數(shù)時,要注意測量條件,如被測機型、與IC相關的電位器的滑動臂位置等,還要考慮外圍電路元件的好壞。
5. 非在線數(shù)據(jù)與在線數(shù)據(jù)對比法
所謂非在線數(shù)據(jù)是指集成電路未與外圍電路連接時,所測得的各引腳對應于地腳的正反向電阻值。非有線數(shù)據(jù)通用性強,可以對不同機型、不同電路、集成電路型號相同的電路作對比。具體測量對比方法如下:首先應把被查集成電路的接地腳用空心針頭和鉻鐵使之與印刷電路板脫離,再對應于某一懷疑引腳進行測量對比。如果被懷疑引腳有較小阻值電阻連接于地或電源之間,為了不影響被測數(shù)據(jù),該引腳也可與印刷板開路。直至外電路的阻值不影響被測集成電路的電阻值為止。但要注意一點,直流電阻測量對比法對于不同批次同一型號的集成電路,有一定的誤差和差異,對這種情況,要在了解內(nèi)部結構的基礎上,進行分析、判斷。
6. 替換法
用替換法判斷集成電路的好壞確是一種干凈利索的事,可以減少許多檢查分析的麻煩。但必須注意如下幾點:
1. 盡量選用同型號的集成電路或可以直接代換的其它型號,這樣可不改變原機電路的引線,簡便易行,容易恢復原機的性能指標。
2. 更換拆焊原機上的集成電路時,不要急躁,不能亂拔、亂撬引腳,用所具備的條件選擇最適合拆卸集成電路的方法。
3. 在還沒有判斷外圍電路是否有故障,以及未經(jīng)確認原集成電路已損壞之前,不要輕易替換集成電路,否則換上去的集成電路有可能再次報廢。
4. 有些集成電路,雖然其型號相同,但還要考慮其型號后綴不同。例如M5115P與M5115RP,二者引腳功能排列順序相反等。
5. 有時采用試探性替換,此時最好先裝一專用集成電路插座,或用細導線臨時連接,這樣好壞對比方便。另外,在通電前電源Vcc回路里最好再串接一直流電流表,降壓電阻阻值由大到小觀察集成電路總電流的變化是否正常。對于功放電路一定要按規(guī)定裝好散熱片。
6. 在選用同功能但不同型號和不同引腳排列的集成電路代換時,還應注意以下幾點。
a. 盡量選用功能、引腳、電特性相近的集成電路。
b. 改變引腳連線時,應盡量利用印刷板上的孔位和線路,連線要整齊,信號線的前后段不要交叉,以免電路產(chǎn)生自激。
c. 集成電路的供電電壓應與集成電路的電源電壓Vcc的典型值相符。
d. 集成電路的各信號輸入、輸出阻抗要與原電路相匹配,連接好的集成電路在通電前應作最后一次的檢查,確認電路無誤后再接通電源。 7.總電流測量法
該法是通過檢測IC電源進線的總電流,來判斷IC好壞的一種方法。由于IC內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合,IC損壞時(如某一個PN結擊穿或開路)會引起后級飽和與截止,使總電流發(fā)生變化。所以通過測量總電流的方法可以判斷IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降,用歐姆定律計算出總電流值。
編輯:黃飛
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