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s8254系列內置高精度電壓檢測電路和延遲電路，是用于3節或4節串聯鋰離子/鋰聚合物可充電電池保護的IC。通過SEL端子的切換，可用來保護3節或4節串聯電池。
數據總線緩沖器
數據總線緩沖器是一個三態、雙向8位寄存器主要作用是與cpu進行數據交換，8位數據線D7～D0與CPU的系統數據總線連接，構成CPU和8254之間信息傳送的通道，CPU通過數據總線緩沖器向8254寫入控制命令、計數初始值或讀取計數值。
s8254內部結構圖
s8254應用電路
在SEL端子=VDD電位時選擇4節電池的情況下的S-8254A系列的測定方法。在SEL端子=VSS電位時，要選擇3節電池的情況下，請將電源V4短路。
1. 工作時消耗電流、休眠時消耗電流
1.1 工作時消耗電流（IOPE）
在V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V、VVMP = VDD時，VSS端子的電流即為消耗電流 （IOPE）。
1.2 休眠時消耗電流 （IPDN）
在V1 = V2 = V3 = V4 = 1.5 V、VVMP = VSS時，VSS端子的電流即為休眠時的消耗電流 （IPDN）。
2. 過充電檢測電壓、過充電解除電壓、過放電檢測電壓、過放電解除電壓、過電流檢測電壓1、過電流檢測電壓2、過電流檢測電壓3、CTL輸入電壓“H”、CTL輸入電壓“L”、SEL輸入電壓“H”、SEL輸入電壓 “L”
在VVMP = VSEL = VDD、VINI = VCTL = VSS、CDT端子=“開路”、V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V的前提下，請確認COP端子以及DOP端子為“L” （VDD × 0.1 V以下的電壓） （以下記載為初始狀態）。
2.1 過充電檢測電壓 （VCU1）、過充電解除電壓 （VCL1）
從初始狀態開始緩慢提升V1的電壓，COP端子的電壓變為“H” （VDD × 0.9 V以上的電壓）時V1的電壓即為過充電檢測電壓 （VCU1）。之后，緩慢降低V1的電壓，COP端子的電壓變為“L”時V1的電壓即為過充電解除電壓 （VCL1）。
2.2 過放電檢測電壓 （VDL1）、過放電解除電壓 （VDU1）
從初始狀態開始緩慢降低V1的電壓，DOP端子的電壓變為“H”時V1的電壓即為過放電檢測電壓 （VDL1）。之后，緩慢提升V1的電壓，DOP端子的電壓變為“L”時V1的電壓即為過放電解除電壓 （VDU1）。只要使Vn （n = 2 ~ 4）的電壓產生變化，也與n = 1的情況相同可以計算出過充電檢測電壓 （VCUn）、過充電解除電壓（VCLn）、過放電檢測電壓 （VDLn） 以及過放電解除電壓 （VDUn）。
2.3 過電流檢測電壓1 （VIOV1）
從初始狀態開始緩慢提升VINI端子的電壓，DOP端子的電壓變為“H”時VINI端子的電壓即為過電流檢測電壓1 （VIOV1）。
2.4 過電流檢測電壓2 （VIOV2）
從初始狀態開始設置CDT端子的電壓為VSS之后，緩慢提升VINI端子的電壓，DOP端子的電壓變為“H” 時VINI端子的電壓即為過電流檢測電壓2 （VIOV2）。
2.5 過電流檢測電壓3 （VIOV3）
從初始狀態開始緩慢降低VMP端子的電壓，DOP端子的電壓變為“H”時VDD與VVMP的電壓差（VDD ? VVMP） 即為過電流檢測電壓3 （VIOV3）。
2.6 CTL輸入電壓“H” （VCTLH）、CTL輸入電壓“L” （VCTLL）
從初始狀態開始緩慢提升CTL端子的電壓，COP端子以及DOP端子的電壓變為“H”時CTL端子的電壓即為CTL輸入H電壓 （VCTLH）。之后，緩慢降低CTL端子的電壓，COP端子以及DOP端子的電壓變為“L” 時CTL端子的電壓即為CTL輸入L電壓 （VCTLL）。
2.7 SEL輸入電壓“H” （VSELH）、SEL輸入電壓“L” （VSELL）
從初始狀態開始設置V4 = 0V，確認DOP端子為“H”。之后，緩慢降低SEL端子的電壓，DOP端子的電壓變為“L”時SEL端子的電壓即為SEL輸入L電壓 （VSELL）。之后，緩慢提升SEL端子的電壓，DOP 端子的電壓變為“H”時SEL端子的電壓即為SEL輸入H電壓 （VSELH）。
3. 過充電檢測延遲時間、過放電檢測延遲時間、過電流檢測延遲時間1、過電流檢測延遲時間2、過電流檢測延遲時間3
在VVMP = VDD、VINI = VSS、V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V的前提下，請確認COP端子以及DOP端子為“L”（以下記載為初始狀態）。
3.1 過充電檢測延遲時間 （tCU）
過充電檢測延遲時間 （tCU） 是從初始狀態開始，使V1的電壓在瞬間變化為4.5 V之后，COP端子的電壓從“L”變為“H”為止的時間。
3.2 過放電檢測延遲時間 （tDL）
過放電檢測延遲時間 （tDL） 是從初始狀態開始，使V1的電壓在瞬間變化為1.5 V之后，DOP端子的電壓從“L”變為“H”為止的時間。
3.3 過電流檢測延遲時間1 （tIOV1）
過電流檢測延遲時間1 （tIOV1） 是從初始狀態開始，使VINI端子的電壓在瞬間變化為0.4 V之后，DOP 端子的電壓從“L”變為“H”為止的時間。
3.4 過電流檢測延遲時間2 （tIOV2）
過電流檢測延遲時間2 （tIOV2） 是從初始狀態開始，使VINI端子的電壓在瞬間變化為VIOV2最大值+ 0.2 V 之后，DOP端子的電壓從“L”變為“H”為止的時間。
3.5 過電流檢測延遲時間3 （tIOV3）
過電流檢測延遲時間3 （tIOV3） 是從初始狀態開始，使VMP端子的電壓在瞬間變化為VIOV3最小值? 0.2 V 之后，DOP端子的電壓從“L”變為“H”為止的時間。
4. 向0 V電池充電開始充電器電壓（向0 V電池充電功能“可能”的產品）、向0 V電池充電禁止電池電壓（向0 V電池充電功能“禁止”的產品）
針對0 V電池，可以通過充電功能的選擇，向0 V充電開始充電器電壓或者向0 V充電禁止電池電壓的一方適用于各類產品。
4.1 向0 V電池充電開始充電器電壓 （V0CHA）（向0 V電池充電功能“可能”的產品）
向0 V充電開始充電器電壓的情況下，在V1 = V2 = V3 = V4 = 0 V、VVMP = V0CHA最大值時，COP端子的電壓比V0CHA 最大值? 1 V小。
4.2 向0 V電池充電禁止電池電壓 （V0INH）（向0 V電池充電功能“禁止”的產品）
向0 V充電禁止電池電壓的情況下，在V1 = V2 = V3 = V4 = V0INH最小值、VVMP = 24 V時，COP端子的電壓比VVMP ? 1 V高。
5. VMP?VDD間電阻、VMP?VSS間電阻、VC1端子電流、VC2端子電流、VC3端子電流、VC4端子電流、 CTL端子電流“H”、CTL端子電流“L”、SEL端子電流“H”、SEL端子電流“L”、COP端子泄漏電流、 COP端子吸收電流、DOP端子源極電流、DOP端子吸收電流
在VVMP = VSEL = VDD、VINI = VCTL = VSS、V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V、其他為“開”的前提下（以下記載為初始狀態）。
5.1 VMP?VDD間電阻 （RVMD）
VMP?VDD間電阻 （RVMD）是從初始狀態開始，利用VVMP = VSS時的VMP端子的電流 （IVMD），可以從 RVMD = VDD / IVMD計算出。
5.2 VMP?VSS間電阻 （RVMS）
VMP?VSS間電阻 （RVMS）是從初始狀態開始，利用在V1 = V2 = V3 = V4 = 1.8 V時的VMP端子的電流 （IVMS），可以從RVMS = VDD / IVMS計算出。
5.3 VC1端子電流 （IVC1）、VC2端子電流 （IVC2）、VC3端子電流 （IVC3）、VC4端子電流 （IVC4）
在初始狀態下，流經VC1端子的電流為VC1端子電流 （IVC1），流經VC2端子的電流為VC2端子電流 （IVC2），流經VC3端子的電流為VC3端子電流 （IVC3），流經VC4端子的電流為VC4端子電流 （IVC4）。
5.4 CTL端子電流“H” （ICTLH）、CTL端子電流“L” （ICTLL）
在初始狀態下，流經CTL端子的電流為CTL端子電流“L” （ICTLL），之后，在VCTL = VDD時流經CTL端子的電流為CTL端子電流“H” （ICTLH）。
5.5 SEL端子電流“L”、 SEL端子電流“L” （ISELL）
在初始狀態下，流經SEL端子的電流為SEL端子電流“H” （ISELH），之后，在VSEL = VSS時流經SEL端子的電流為SEL端子電流“L” （ISELL）。
5.6 COP端子吸收電流 （ICOL）、COP端子泄漏電流 （ICOH）
從初始狀態開始，在VCOP = VSS + 0.5 V時，流經COP端子的電流為COP端子吸收電流 （ICOL）。之后，在V1 = V2 = V3 = V4 = 6 V、VCOP = VDD時流經COP端子的電流為COP端子泄漏電流 （ICOH）。
5.7 DOP端子吸收電流 （IDOL） 、DOP端子源極電流 （IDOH）
從初始狀態開始，在VDOP = VSS + 0.5 V時，流經DOP端子的電流為DOP端子吸收電流 （IDOL）。之后，在VVMP = VDD ? 2 V、VDOP = VDD ? 0.5 V時流經DOP端子的電流為DOP端子源極電流 （IDOH）。
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