簡(jiǎn)介
使用當(dāng)今的計(jì)算機(jī)和商業(yè)CAD軟件包,現(xiàn)在可以在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的初始設(shè)計(jì)和優(yōu)化階段全面解決制造參數(shù)問(wèn)題。這一突破的一些明顯好處是:
- 我們?cè)O(shè)計(jì)了一種更具可制造性的產(chǎn)品
- 我們消除(或至少減少)設(shè)計(jì)和制造之間昂貴的迭代周期
- 我們的設(shè)計(jì)可靠性
制造過(guò)程中遇到兩種類型的故障:
- 災(zāi)難性故障 - 由于設(shè)備中的物理問(wèn)題導(dǎo)致的故障,例如焊點(diǎn)不良和材料故障。
- 參數(shù)故障 - 由于在制造或使用壽命期間遇到參數(shù)變化而導(dǎo)致故障。
當(dāng)前設(shè)計(jì)
典型的當(dāng)前設(shè)計(jì)過(guò)程如圖1所示。制造業(yè)的特點(diǎn)是參數(shù)值不確定,可以產(chǎn)生測(cè)試時(shí)單元中的參數(shù)故障。
圖1 - 當(dāng)前設(shè)計(jì)
過(guò)程中參數(shù)故障太多 - 制造測(cè)試需要重新設(shè)計(jì)和另一次制造嘗試。
制造設(shè)計(jì)(DFM)
使用DFM(也稱為統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)),我們?yōu)樵O(shè)計(jì)工程師配備測(cè)試和制造環(huán)境模型(圖2)。結(jié)合使用這些模型的專業(yè)CAD工具,設(shè)計(jì)工程師可以更好地將設(shè)計(jì)融入制造過(guò)程中遇到的參數(shù)環(huán)境中,在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的設(shè)計(jì)階段。
圖2 - 制造設(shè)計(jì)
統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)技術(shù)和CAD軟件可以對(duì)敏感的射頻和微波設(shè)計(jì)進(jìn)行表征和減敏,并將其集中在他們的制造環(huán)境。
統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)
可制造的設(shè)計(jì)在整個(gè)范圍內(nèi)提供可接受的性能,并在制造過(guò)程中遇到參數(shù)值的組合。
統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)的方法如圖3所示。在這種方法中有四個(gè)主要步驟:
- 步驟1 - 開(kāi)發(fā)和單點(diǎn)優(yōu)化設(shè)計(jì)
- 步驟2 - 執(zhí)行統(tǒng)計(jì)分析以確定性能統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
- 步驟3 - 確定性能統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)是否可接受并獲取統(tǒng)計(jì)變量之間的任何統(tǒng)計(jì)敏感度
- 步驟4 - 如有必要,統(tǒng)計(jì)優(yōu)化并重新分析產(chǎn)量
在第2步中,我們將統(tǒng)計(jì)變量(統(tǒng)計(jì)模型)分配給在制造過(guò)程中會(huì)發(fā)生變化的所有參數(shù)。然后,CAD軟件包通過(guò)估計(jì)由于參數(shù)變化(統(tǒng)計(jì)模型)引起的性能變化(性能統(tǒng)計(jì))來(lái)執(zhí)行統(tǒng)計(jì)分析。第3步,評(píng)估設(shè)計(jì)的統(tǒng)計(jì)性能,是本文的重點(diǎn)。
圖3 - 制造設(shè)計(jì)
統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)優(yōu)化了設(shè)計(jì)的性能統(tǒng)計(jì)。
可制造性措施
有許多統(tǒng)計(jì)指標(biāo)可以表征制造業(yè)績(jī)?cè)O(shè)計(jì),包括性能均值,標(biāo)準(zhǔn)差和方差,以及像Tagucci S/N這樣的更復(fù)雜的測(cè)量。但是在統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)中最有用的通用度量是收益率。產(chǎn)量定義為:
我們現(xiàn)在將討論用于評(píng)估設(shè)計(jì)統(tǒng)計(jì)性能的三個(gè)重要統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示。所有這些都可以在今天的CAD軟件包中找到。
測(cè)量直方圖,MH
測(cè)量直方圖是數(shù)字的直方圖(或百分比)測(cè)量值的出現(xiàn)與測(cè)量值的百分比。測(cè)量直方圖給出了在統(tǒng)計(jì)分析期間遇到的測(cè)量值的擴(kuò)展。圖4給出了一個(gè)例子。
圖4 - 測(cè)量直方圖
MH可以幫助您設(shè)置設(shè)計(jì)規(guī)格獲得可接受的屈服值。只需將規(guī)格設(shè)置為包含所需的測(cè)量百分比即可。這可能在產(chǎn)量?jī)?yōu)化開(kāi)始時(shí)是必要的。
統(tǒng)計(jì)響應(yīng)圖,SRP
統(tǒng)計(jì)響應(yīng)圖是統(tǒng)計(jì)模擬期間遇到的所有響應(yīng)的圖。通常將響應(yīng)相對(duì)于自變量繪制,例如S11與頻率。 SRP給出了由于定義的統(tǒng)計(jì)參數(shù)變化而發(fā)生的響應(yīng)變化的度量。統(tǒng)計(jì)響應(yīng)圖的一個(gè)例子如圖5所示。
圖5 - 統(tǒng)計(jì)響應(yīng)圖
統(tǒng)計(jì)響應(yīng)圖顯示可能的測(cè)量變化類型,因?yàn)榻o出了單位參數(shù)的統(tǒng)計(jì)變化。
屈服靈敏度直方圖,YSH
屈服靈敏度直方圖是垂直軸上的屈服“圖”,而橫軸是電路參數(shù)的(階梯式)值。
在所有統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示中,YSH是通常最有用的是因?yàn)樗@示哪些參數(shù)會(huì)影響設(shè)計(jì)的產(chǎn)量以及如何可能更改參數(shù)以提高產(chǎn)量。
屈服靈敏度直方圖可以指示設(shè)計(jì)是否處于最大產(chǎn)量(a 居中設(shè)計(jì))或設(shè)計(jì)是否需要進(jìn)行產(chǎn)量?jī)?yōu)化(未中心設(shè)計(jì)。)屈服靈敏度直方圖還告訴設(shè)計(jì)師de中的哪些參數(shù)符號(hào)影響設(shè)計(jì)產(chǎn)量,需要包含在產(chǎn)量?jī)?yōu)化中。
示例YSH如下圖6所示。垂直軸(0-100)是以百分比表示的屈服,水平軸(30-42)是給定組件的參數(shù)值范圍。
圖6 - A產(chǎn)量靈敏度直方圖
解釋產(chǎn)量靈敏度直方圖
YSH是產(chǎn)量與您的設(shè)計(jì)參數(shù)值之間的關(guān)系圖。繪制的參數(shù)值不被認(rèn)為是統(tǒng)計(jì)變量,但是允許所有其他參數(shù)根據(jù)其指定的統(tǒng)計(jì)分布而變化。當(dāng)參數(shù)在其允許的變化范圍內(nèi)步進(jìn)時(shí),計(jì)算每個(gè)步驟的產(chǎn)量。
YSH是估計(jì)產(chǎn)量與每個(gè)階梯參數(shù)值的關(guān)系圖。例如,參見(jiàn)圖6,當(dāng)curVar(一個(gè)元件,如電容或電感)固定在32時(shí),估計(jì)的電路良率約為95%。當(dāng)curVar固定為40時(shí),估計(jì)產(chǎn)率為44%。
YSH繪圖軸上使用的下限和上限是統(tǒng)計(jì)參數(shù)的上限和下限。
如果YSH基本上是平坦的,則參數(shù)在較低的范圍內(nèi)限制(LL)到上限(UL)不會(huì)影響設(shè)計(jì)的產(chǎn)量。如圖7(d)所示。在這種情況下,我們說(shuō)參數(shù)居中。
可能沒(méi)有必要在yield yield中包含此參數(shù),因?yàn)榇藚?shù)(在其當(dāng)前范圍內(nèi))對(duì)yield沒(méi)有影響。也可以在不降低產(chǎn)量的情況下增加該參數(shù)的容差。
圖7 - 如何使用屈服靈敏度柱狀圖
如果YSH傾斜,如圖7(a)和(b)所示,參數(shù)會(huì)影響屈服值,我們說(shuō)參數(shù)不居中。將參數(shù)的標(biāo)稱值移動(dòng)到更高的產(chǎn)量值可能會(huì)增加設(shè)計(jì)的總產(chǎn)量。
YSH中的每個(gè)矩形稱為bin。每個(gè)箱的高度是使用來(lái)自模擬試驗(yàn)的測(cè)量值的產(chǎn)量估計(jì),其中參數(shù)值在箱底部所覆蓋的區(qū)間內(nèi)。應(yīng)計(jì)算每個(gè)箱高的置信區(qū)間。
如果YSH在中心位置較高而在極端處較低,如圖7.3(c)所示,則需要上限和下限(UL和LL)待調(diào)整。參數(shù)變化的程度是其容差,在這種情況下,參數(shù)容差應(yīng)該減小。
統(tǒng)計(jì)敏感度
看著在圖8中的屈服靈敏度直方圖中,統(tǒng)計(jì)靈敏度是直方圖的斜率。 YSH具有較大斜率的參數(shù),如圖8所示,被認(rèn)為是一個(gè)統(tǒng)計(jì)上敏感的參數(shù)。
圖8 - 統(tǒng)計(jì)靈敏度
因?yàn)槊總€(gè)箱高代表一個(gè)產(chǎn)量估算,所以使用少量試驗(yàn)的YSH可能粗糙且不穩(wěn)定。這是由于數(shù)值估計(jì)誤差造成的。真實(shí)的產(chǎn)量與參數(shù)圖總是平滑的函數(shù)。
統(tǒng)計(jì)靈敏度降低
圖9顯示了統(tǒng)計(jì)靈敏度降低的概念,這是設(shè)計(jì)居中的本質(zhì)。
圖9— (a)設(shè)計(jì)居中前的YSH,(b)設(shè)計(jì)居中后的YSH
從圖9(a)中我們看到參數(shù)標(biāo)稱值(YSH的中心)為35Ω并且當(dāng)參數(shù)值高于36Ω收益率為零。隨著參數(shù)值從35&#937減小,產(chǎn)量增加。從這個(gè)YSH的斜率,我們看到對(duì)該參數(shù)值有很大的統(tǒng)計(jì)敏感性。
統(tǒng)計(jì)優(yōu)化后,該參數(shù)的YSH如圖9(b)所示。在產(chǎn)量?jī)?yōu)化(設(shè)計(jì)中心)之后,我們看到這個(gè)參數(shù)的YSH在任一方向都沒(méi)有主導(dǎo)斜率,我們說(shuō)這個(gè)參數(shù)是居中。(從9(b)可以看出YSH減少了在28和#937;的標(biāo)稱值的兩個(gè)方向上。因此,減小該參數(shù)的公差將增加產(chǎn)量。)對(duì)應(yīng)于9.5(a)的估計(jì)產(chǎn)量約為25%,而對(duì)應(yīng)于9.5(b)的估計(jì)產(chǎn)量約為86%。
歸一化統(tǒng)計(jì)敏感度(NSS)定義為:
對(duì)于圖中的YSH 8,NSS是:
因此,參數(shù)值增加(NSS為正)1%會(huì)增加產(chǎn)量減少2.5%。您需要了解設(shè)計(jì)中每個(gè)統(tǒng)計(jì)參數(shù)的統(tǒng)計(jì)靈敏度。
示例:低噪聲放大器
電路和初始單點(diǎn)設(shè)計(jì)和優(yōu)化來(lái)自ADS 2001功率放大器設(shè)計(jì)指南示例部分(LNA_prj)。一個(gè)晶體管電路如圖10所示。
圖10—突出顯示匹配電路的LNA示例電路
該電路的初始設(shè)計(jì)和優(yōu)化規(guī)范如下:
- 3 V電源,2mA集電極電流
- 2 GHz時(shí)噪聲系數(shù)盡可能低
- 2 GHz時(shí)S21> 10 dB
- S11和S22 <-10 =“”db =“”at =“” 2 =“”ghz =“”>
- 無(wú)條件穩(wěn)定
- 選擇晶體管
- 設(shè)計(jì)偏置網(wǎng)絡(luò),確定穩(wěn)定性
- 添加穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)
- 確定晶體管的輸入和輸出阻抗
- 設(shè)計(jì)輸入匹配電路
- 設(shè)計(jì)輸出匹配電路
- 模擬響應(yīng)
- 單點(diǎn)優(yōu)化設(shè)計(jì)
LNA的統(tǒng)計(jì)分析
按照?qǐng)D3中給出的統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)步驟,我們進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析,然后優(yōu)化此設(shè)計(jì)。
1。選擇統(tǒng)計(jì)參數(shù)。選擇輸入和輸出匹配結(jié)構(gòu)以具有統(tǒng)計(jì)變量。匹配結(jié)構(gòu)在圖10中突出顯示。
2。分配參數(shù)統(tǒng)計(jì)信息。統(tǒng)一+/- 10%分布分配給每個(gè)匹配的組件參數(shù)。統(tǒng)計(jì)模型的選擇直接影響估計(jì)的屈服值。但統(tǒng)計(jì)敏感度并不受統(tǒng)計(jì)模型選擇的強(qiáng)烈影響。因此,這個(gè)簡(jiǎn)單的模型將有效識(shí)別和降低該電路的統(tǒng)計(jì)靈敏度。
3。設(shè)置良品率規(guī)格。產(chǎn)量規(guī)格設(shè)定為:
- 3 V電源,2mA集電極電流
- S21> 2 GHz時(shí)8 dB
-
S11和S22 <-6.5 =“”db =“”at =“”1.8ghz =“”>
<2.2 =“”ghz =“”> - 無(wú)條件穩(wěn)定
4。計(jì)算產(chǎn)量。使用500次試驗(yàn)計(jì)算得到的收率為91%。
5。檢查YSH的所有統(tǒng)計(jì)參數(shù)。圖11和圖12顯示輸入和輸出匹配組件參數(shù)(C2,L2(輸入)和C3,L3(輸出))的YSH。
圖11&#151;輸入匹配的統(tǒng)計(jì)分析,YSH
圖12&#151;輸出匹配的統(tǒng)計(jì)分析,YSH
很容易看出,描述輸入組件C2和L2的參數(shù)是居中的,而描述輸出組件C3和L3的參數(shù)不是居中的。
6。估計(jì)統(tǒng)計(jì)敏感度。從圖11和12中得到的歸一化統(tǒng)計(jì)靈敏度在表1中給出。
7。執(zhí)行產(chǎn)量?jī)?yōu)化。由于在輸出匹配參數(shù)中檢測(cè)到統(tǒng)計(jì)靈敏度,因此執(zhí)行了產(chǎn)量?jī)?yōu)化。此外,使用ADS2001,現(xiàn)在可以進(jìn)行編程優(yōu)化。這里首先對(duì)輸入進(jìn)行良率優(yōu)化,然后對(duì)輸出進(jìn)行優(yōu)化,然后對(duì)整個(gè)電路進(jìn)行整體最終良率優(yōu)化。
8。執(zhí)行產(chǎn)量分析,驗(yàn)證優(yōu)化結(jié)果。輸出匹配的結(jié)果如圖13所示。得到的收益率為100%。此時(shí),可以收緊屈服規(guī)格,以確定這種以設(shè)計(jì)為中心的設(shè)計(jì)中的任何其他靈敏度。
測(cè)量直方圖(MH)將幫助您查看此設(shè)計(jì)的新統(tǒng)計(jì)性能,并將根據(jù)需要幫助您設(shè)置新規(guī)格。產(chǎn)量?jī)?yōu)化前后的參數(shù)值如表2所示。
圖13 - 產(chǎn)量?jī)?yōu)化后的YSH圖
表2 - 設(shè)計(jì)居中之前和之后的參數(shù)值
LNA示例討論
我們從一組針對(duì)一組參數(shù)值的性能進(jìn)行優(yōu)化的設(shè)計(jì)開(kāi)始:?jiǎn)吸c(diǎn)優(yōu)化設(shè)計(jì)。我們看到這種設(shè)計(jì)雖然性能高,但產(chǎn)量并不高。通常就是這種情況。
單點(diǎn)優(yōu)化設(shè)計(jì)通常不是高產(chǎn)量設(shè)計(jì)。統(tǒng)計(jì)分析和設(shè)計(jì)對(duì)于優(yōu)化產(chǎn)量等統(tǒng)計(jì)性能是必要的。
使用當(dāng)前的CAD軟件可以很容易地完成圖3中給出的統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)步驟。
結(jié)論
當(dāng)今CAD軟件的突破使設(shè)計(jì)工程師能夠輕松有效地將制造的參數(shù)變化納入初始設(shè)計(jì)過(guò)程。這里提出的關(guān)鍵點(diǎn)是:
- 統(tǒng)計(jì)分析,包括最小化統(tǒng)計(jì)敏感性,將導(dǎo)致更可制造的設(shè)計(jì)。
- 單點(diǎn)優(yōu)化可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)計(jì)中出現(xiàn)不必要的統(tǒng)計(jì)敏感度。小心!
- 產(chǎn)量靈敏度直方圖顯示設(shè)計(jì)中的統(tǒng)計(jì)靈敏度,有助于確定是否需要產(chǎn)量?jī)?yōu)化。
- 歸一化統(tǒng)計(jì)靈敏度可量化參數(shù)的統(tǒng)計(jì)靈敏度。
- 產(chǎn)量?jī)?yōu)化可提高產(chǎn)量并最大限度地降低統(tǒng)計(jì)敏感度。
- 統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)工具目前可在商業(yè)設(shè)計(jì)平臺(tái)上使用。
組件 - 電路元件,如R,L或傳輸線。
參數(shù) - 定義組件值的數(shù)字:對(duì)于電容器,如57pF。單位 - 像放大器或振蕩器一樣的設(shè)計(jì)目標(biāo)。
性能 - 單位的計(jì)算或測(cè)量響應(yīng),如S11,S22,S21和群延遲的組合。
可制造性 - 單位性能對(duì)制造過(guò)程中遇到的統(tǒng)計(jì)參數(shù)變化的敏感性。標(biāo)稱參數(shù)值 - 用于描述組件的單個(gè)參數(shù)值,如果參數(shù)是統(tǒng)計(jì)變量,通常是參數(shù)平均值。容差 - 制造過(guò)程中參數(shù)變化的程度。單點(diǎn)設(shè)計(jì) - 最大化單個(gè)參數(shù)值的單位性能。
統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì) - 通過(guò)參數(shù)最大化性能統(tǒng)計(jì)統(tǒng)計(jì)模型 - 分配給a的概率分布參數(shù),數(shù)學(xué)上或一組測(cè)量值。
CAD - 計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)。
參考文獻(xiàn)
ADS 2001功率放大器設(shè)計(jì)指南參考手冊(cè),第9章.M。 Meehan和J. Purviance,微波電路和系統(tǒng)設(shè)計(jì)的產(chǎn)量和可靠性,Artech House,1993。 Purviance,蒙特卡羅統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)方法,IEEE MTT-S 2001.國(guó)際微波研討會(huì)研討會(huì)和短期課程,WMB:微波CAD的統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)和建模技術(shù)。 Purviance和M. Meehan,“用于提高產(chǎn)量的靈敏度圖”,IEEE Trans。微波理論與技術(shù),Vol。 1988年2月36日第2期,第413-417頁(yè)。
博士。 John Purviance,行業(yè)顧問(wèn),幫助他的客戶理解和使用CAD產(chǎn)量分析和優(yōu)化工具來(lái)設(shè)計(jì)高產(chǎn)量微波和高速數(shù)字電路。他在高收益設(shè)計(jì),統(tǒng)計(jì)靈敏度降低和統(tǒng)計(jì)建模方面擁有20年CAD經(jīng)驗(yàn),并在高產(chǎn)量設(shè)計(jì)領(lǐng)域撰寫(xiě)了30多篇技術(shù)論文。可以通過(guò)purviancej@galacticomm.org與他聯(lián)系。
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