可以用萬用表測量一下測量一下OSC_IN， OSC_OUT腳的電壓，如果晶振起振，可以用直流檔測到2-3V左右的電壓。

如果測出的直流電壓不在此范圍內，說明晶振沒有起振。

判斷

一個晶振電路的好壞，主要有兩個衡量因素：

1）振蕩波形的幅度是否滿足邏輯電平的要求

2）振蕩波形的頻偏是否滿足要求

3）可靠性（包括環境溫度，老化等各種情況的穩定性）

采用示波器測試振蕩波形的幅度以及頻率。

如果條件允許，對于》1MHz的高頻的振蕩波形，需要選用高帶寬、高采樣率、高存儲深度的示波器進行測量，比如大幾萬的安捷倫示波器。并且采用專門的高頻探頭進行測量，否則示波器的探頭可能會影響振蕩條件。導致頻率以及幅度與實際的不符。

波形的頻偏和幅度跟負載電容有很多的關系，需要根據晶振規格書要求選擇合適的容值。并且用品牌廠家的電容，一般晶振的規格書中會推薦電容廠家，優先列表中選擇合適的廠家。Microchip的PIC處理器還需要通過配置字設置激勵強度。

我們N年前的一款產品，1MHz-4MHz推薦使用中激勵模式，》4MHz推薦高激勵模式，我們在使用4MHz的晶振時，配置成中激勵模式，導致少數幾個產品在高溫條件下時，其幅度只有3Vp-p，幅度不滿足要求，單片機不工作，導致了批量返工。

在全工作溫度范圍內（0-85度）一般石英晶體的頻率精度可以達到100ppm左右，如果用這個信號做為RTC時鐘的時鐘源，一年累積下來，時間大概會有1個小時的誤差。如果是異步時鐘的通信，對時鐘的頻率精度也有一定的要求。比如UART通信，為了避免bit位之間的錯位，時鐘的頻率精度在全工作溫、濕度范圍內至少可以通過單片機的PWM功能，將晶振產生的振蕩信號通過單片機PLL功能倍頻之后再分頻，比如分頻到1Hz的信號，通過IO口輸出，通過普通的單片機測量周期，測量其頻偏。可以通過另一個常溫下工作的單片機自動測量周期，將待測單片機放入高低溫箱中，自動長時間測量1Hz的輸出信號，對測試數據進行統計分析，判斷工作狀況。