邏輯電平測(cè)試器的原理
由圖1可知,邏輯信號(hào)電平測(cè)試器電路由五部分組成:輸入電路、邏輯狀態(tài)判斷電路、音響電路、發(fā)音電路和電源。
電路如下圖所示,這種邏輯探測(cè)器,可探測(cè)TTL、CMOS高低電平及不確定電平。D1亮表示高電平,D2亮表示低電平,D3亮表示不確定電平(TTL在0.8V~2.0V之間,CMOS在3.5V~1.5V之間),D4亮表示探測(cè)點(diǎn)電壓變化。電路如下圖所示。IC1是電壓比較器,通過(guò)開(kāi)關(guān)K設(shè)置不同的電壓基準(zhǔn),a處為T(mén)TL,b處為CMOS。T1、T2、T3用來(lái)驅(qū)動(dòng)D1、D2、D3,使之點(diǎn)亮。IC2組成一個(gè)單穩(wěn)態(tài)電路,以使T4驅(qū)動(dòng)D4。該探測(cè)器的輸入阻抗為330kΩ。
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