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如何操作{射頻探針臺}TS3000-SE

半導體在片測試 ? 來源:半導體在片測試 ? 2020-04-30 15:10 ? 次閱讀

一、準備本次測試的DUT和相應的探針與電纜,將相應的探針擺放完畢,佩戴相應的手套、防靜電手環等。

二、確認打開壓縮空氣、真空、電源等廠務后,按下白色電源鍵開機。待主機啟動完畢后預熱1-2分鐘,按下藍色的reset按鈕。

三、打開軟件進入操作界面。

四、初始化:選擇一種模式做初始化。

五、打開探針臺屏蔽室的艙門,放wafer:把wafer放在chuck上,然后點擊真空開關或點“start”按鈕自動選擇吸附wafer的尺寸。

六、設置扎針高度(contact值): 操縱面板上長按ENABLE Z-AXIS 然后按Z-up把chuck升到一定高度(做這個動作之前建議把探針調到最高防止撞針)。然后調節camera的Z軸和適應自己的顯微鏡倍率把圖像調節清晰(如果是電動顯微鏡支架,請在機臺面板上選擇顯微鏡后再調節Z軸高低)。

lw

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