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電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES的構(gòu)造

獨(dú)愛72H ? 來源:吉天儀器 ? 作者:吉天儀器 ? 2020-03-30 17:07 ? 次閱讀

(文章來源:吉天儀器)

ICP光譜儀是當(dāng)前光譜分析中最迅速最靈敏的一種儀器。

CP光譜儀三大主要部分:一是激光光譜的光源;二是光譜儀系統(tǒng),使不同波長(zhǎng)的光聚焦在儀器上的特定位置。三是用置于焦點(diǎn)上的探測(cè)器來量光的強(qiáng)度。近代的光譜儀大都采用微型計(jì)算機(jī)處理實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

它是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器。它密封在一個(gè)溫度穩(wěn)定的恒溫機(jī)箱里,設(shè)計(jì)小巧,操作簡(jiǎn)易,設(shè)備的搬運(yùn)和操作只要一個(gè)人就能完成。

它具有樣品用量少,應(yīng)用范圍廣且快速,靈敏和選擇性好等特點(diǎn)。

ICP光譜儀包括以下幾個(gè)主要部分:1、入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。2、準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻T摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。3、色散元件: 通常采用光柵,使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。

4、聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。5、探測(cè)器陣列:放置于焦平面,用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是ccd陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。

(責(zé)任編輯:fqj)

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