EDI CON China(電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新大會)是一個由產(chǎn)業(yè)推動的會議和展覽,為設(shè)計(jì)工程師和系統(tǒng)集成商提供針對當(dāng)今通信、計(jì)算、RFID、無線、導(dǎo)航、航空航天及相關(guān)市場的最新射頻/微波和高速數(shù)字產(chǎn)品和技術(shù)信息。這項(xiàng)一年一度的盛事提供半導(dǎo)體、模塊、印刷電路板和系統(tǒng)級的實(shí)用設(shè)計(jì)解決方案,與會者可親身參與體驗(yàn)。EDI CON China匯集了中國創(chuàng)新前沿和世界領(lǐng)先跨國科技公司的設(shè)計(jì)師。
作為EDICON China2020的首席贊助商,是德科技將攜解決方案合作伙伴一起,在今年電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新大會展覽展位301和201上繼續(xù)為客戶提供行業(yè)前沿測試測量資訊,并將展示5G、車聯(lián)網(wǎng)、半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)中心、高頻應(yīng)用、物聯(lián)網(wǎng)、系統(tǒng)仿真、以及校準(zhǔn)服務(wù)等全方位的行業(yè)領(lǐng)先產(chǎn)品和測試測量解決方案。
是德科技受邀將在首日全體大會上做《5G/6G市場和技術(shù)概覽》的主旨報告,同時在為期兩天的大會期間,組織了公司資深技術(shù)工程師在大會會場的401會議室舉辦KeysightEducationForum,論壇涵蓋當(dāng)前最前沿的技術(shù)領(lǐng)域,是一場豐富而翔實(shí)的測試技術(shù)盛筵。
KEYSIGHT EDUCATION FORUM日程
10月13日
09:00 - 09:30 | Calibration Challenges in 5G / 5G中的校準(zhǔn)難題 |
09:30 - 10:00 | 學(xué)習(xí)如何設(shè)計(jì)5G/6G毫米波波束賦形系統(tǒng)Learn How to Design a 5G/6G mmWave Beamforming System |
10:00 - 10:30 | 開放射頻接入網(wǎng)的前行之路O-RAN - The Path Forward |
13:30 - 14:00 | 5G車聯(lián)網(wǎng)技術(shù)與測試5G V2X technologies and testing |
14:00 - 14:30 | 測試EV和EVSE充電接口的一致性和互操作性Conformance & InteroperabilityTesting of EV and EVSE Charging Interfaces |
15:00 - 15:30 | 為分析物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備高效捕獲波形Efficient Capture of Waveforms for IoT Device Analysis |
15:30 - 16:00 | 評估電-光-電連接系統(tǒng)的電氣性能Evaluate Electrical Performance in Electrical-Optical-Electrical Link Systems |
16:00 - 16:30 | 如何找到FPGA電源軌的瞬態(tài)的動態(tài)開關(guān)電流How to Find the Elusive Dynamic Switching Current of Your FPGA Power Rail |
16:30 - 17:00 | 調(diào)制失真PNA的殘留誤差矢量幅度Modulation Distortion: Residual Error Vector Magnitude with PNA |
10月14日
09:00 - 10:00 |
信號分析基礎(chǔ) Signal Analysis Fundamentals |
10:45 - 11:45 |
針對射頻和微波寬帶信號產(chǎn)生改進(jìn)測量完整性 Improve Measurement Integrity for RF and Microwave Wideband Signal Generation |
13:00 - 13:30 |
電磁干擾分析和故障查找 EMI Interference Analysis and Trouble Shooting |
13:30 - 14:30 |
網(wǎng)絡(luò)分析儀基礎(chǔ) Network Analyzer Fundamentals |
15:30 - 16:30 |
相位噪聲應(yīng)用與測量基礎(chǔ) Phase Noise Basics Applications & Measurements |
16:30 - 17:00 |
低損耗介電材料測量 Low Loss Dielectric Materials Measurement |
責(zé)任編輯:xj
原文標(biāo)題:是德科技將出席2020年電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新大會EDI CON China并做主題報告
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