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Moku:Pro為軟件定義精密測試測量儀器帶來突破性創新

2yMZ_BasiCAE ? 來源:貝思科爾 ? 作者:貝思科爾 ? 2021-12-21 11:07 ? 次閱讀

Moku:Pro 為軟件定義精密測試測量儀器帶來了突破性的創新,它兼具了性能和儀器多功能性,提供高度整合的測試測量與控制一體化解決方案。 Moku:Pro 硬件采用高性能的 Xilinx Ultrascale+ FPGA 與高帶寬模擬前端,并結合了強大的網絡連接和存儲能力。通過軟件定義實現多種測試測量功能從而支持高速數據采集、處理和可視化、波形生成和實時控制等應用場景。 此外,Moku:Pro 前端設計還創造性地采用了先進的混合信號技術,執行來自多個 ADC 的頻率相關信號混合,從而實現從聲頻到射頻的卓越噪聲性能。

9個專業儀器功能

? 任意波形發生器

? 數據記錄器

? 頻率響應分析儀

? 鎖相放大器

? 示波器

? 相位表

? PID控制器

? 頻譜分析儀

? 波形發生器

硬件亮點

? 卓越的低頻噪聲性能:全輸入帶寬下的噪聲500 μV RMS

? 120 GB 高速 SSD

? 板載高穩定時鐘 0.3 ppm

? 輸入到輸出延遲 < 650 ns

技術規格

四個模擬輸入

? 采樣率5 GSa/s(單通道),1.25GSa/s(四通道)

? 10位和18位ADC,具備隨頻率變化的信號混合功能

? 可選 300 MHz 或 600 MHz 模擬帶寬

? ACDC耦合,50Ω 或 1MΩ 輸入阻抗

? 400 mVpp、4 Vpp 或 40 Vpp 輸入范圍

四個模擬輸出

? 16位,1.25 GSa/s DACs

? 輸出 ± 1 V 高達 500 MHz,± 5 V 高達100 MHz

額外的I/O 端口

? 專用的觸發輸入

? 10 MHz 同步輸入和輸出

? 板載 Wi-Fi以太網USB-C

? 120 GB 高速 SSD

應用軟件和開發工具

? 強大的多點觸控用戶操作界面

? 支持 PythonMATLAB API

典型應用

? 高速數據采集

? 自動化測試序列

? 系統原型設計和仿真

? 閉環控制設計

? 光學計量和光譜學

? 用于光學、成像和其他定制系統

? 量子計算

高速數據采集

Moku:Pro兼具了高速數據采集設計,數據記錄器能夠將四個模擬輸入的數據連續寫入120GB的高速固態硬盤,每個通道的速度高達10MSa/s。使用示波器可以以高達5 GSa/s的速度拍攝較短的快照。除了直接的模擬輸入外,用戶還可以在 PID 控制器、鎖相放大器和相位表等儀器中通過內置的探測點直接調用示波器和數據記錄器的功能。板載數據記錄能最大限度地將額外的數據采集設備所帶來的成本和噪音降到最低。

600 MHz 鎖相放大器

Moku:Pro 數字鎖相放大器支持從 DC 到 600 MHz 的雙相解調 (XY/Rθ),動態儲備優于120 dB。本機振蕩器可由其板載波形發生器產生或從外部設備輸入。四個高速模擬輸出可分配給輸出 X、Y、R、θ 和本地振蕩器以驅動外部設備。混合 ADC 技術可在整個 600MHz 輸入帶寬內提供低本底噪聲。用戶可以通過內置探測點在數字信號處理各個階段監測和記錄信號。內置可選用 PID 控制器用于閉環控制和鎖相環應用。借助多功能 I/O 選項和 API 支持,您可以將鎖相放大器變成儀器的中央控制中心

混合型ADC

Moku:Pro 配備了一個 10 MSa/s、18位的 ADC和一個高速 5 GSa/s的10位 ADC。借助強大的FPGA,該系統結合了來自 ADC 的信息,在整個600 MHz 帶寬內提供行業領先的低輸入噪聲性能。我們的創新混合算法確保在所有傅里葉頻率上優化信噪比,而不影響延遲或信號帶寬。

Moku:Pro多儀器并行模式

通過Moku:Pro 多儀器并行模式用戶可將儀器放置在四個虛擬“插槽”中,動態添加或刪除 Moku:Pro 儀器到任何插槽。每個插槽都能夠連接至模擬輸入和輸出,讓您可以在單個 Moku:Pro 上運行整套儀器。在此模式下運行的儀器可通過低延遲、實時 30 Gb/s 信號路徑相互連接以構建復雜的信號處理流程。模擬輸入、模擬輸出和相鄰儀器的連接能夠實現運行時配置。結合 Moku 云編譯和多儀器并行模式,Moku:Pro 重新定義了測試儀器的靈活性。

可配置儀器

? 任意波形發生器

? 頻率響應分析儀

? 鎖相放大器

? 示波器

? PID控制器

? 頻譜分析儀

? 波形發生器

硬件亮點

? 卓越的低頻噪聲性能:全輸入帶寬下的噪聲500 μV RMS

? 板載高穩定時鐘 0.3 ppm

? 輸入到輸出延遲 < 650 ns

模擬前端

四個模擬輸入

? 10位和18位ADC,具備隨頻率變化的信號混合功能

? 1.25 GSa/s 采樣率

? 輸入噪聲: 30 nV/√Hz @ 100 Hz

? 可選 300 MHz 或 600 MHz 模擬帶寬

? AC 或 DC耦合,50Ω 或 1MΩ 輸入阻抗

? 400 mVpp、4 Vpp 或 40 Vpp 輸入范圍

四個模擬輸出

? 16位,1.25 GSa/s DACs

? 輸出2 Vpp 高達 500 MHz, 10 Vpp 高達100 MHz

典型應用

? 自動化測試序列

? 系統原型設計和仿真

? 閉環控制設計

? 光學計量學和光譜學

? 光學、成像和其他定制系統控制中心

? 量子計算

應用亮點低延遲閉環控制設計和表征

Moku:Pro 的 PID 控制器提供亞微秒的輸入至輸出延遲,非常適合高速閉環控制器應用。通過多儀器并行模式,可以實時PID控制器和頻率響應分析儀并行以觀察和測量控制器的傳遞函數和脈沖響應。還可以使用示波器和頻譜分析儀在時域和頻域中測量系統響應。控制器中的調整都會實時反映在監控儀器中。

生成任意調制的信號

通過結合任意波形發生器與多個波形發生器,Moku:Pro能夠輸出高穩定性的復雜波形。任意波形可以連接至波形發生器的輸入端作為調制源。頻率、相位和幅度調制也可以同時添加到信號中。這消除了查找表計算步驟并能更好的控制調制和輸出信號。示波器或頻譜分析儀可添加到其它插槽中測量信號。

多諧波鎖相放大器

Moku:Pro的多儀器并行模式能夠同時運行高達四個鎖相放大器。每一個鎖相放大器能在基波、二次或更高次諧波進行解調。測量出的 R/θ 或 X/Y 分量也可以在最終儀器插槽中的示波器中進行比較或輸出至模擬輸出端口。

更多業務咨詢,請聯系

電話:15521163312

郵箱:michael_rao@basicae.com

原文標題:【產品介紹】Moku:Pro 終極性能測量與控制解決方案

文章出處:【微信公眾號:貝思科爾】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
審核編輯:湯梓紅

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原文標題:【產品介紹】Moku:Pro 終極性能測量與控制解決方案

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