物理科學的不斷進步正在創(chuàng)造新一代的半導體和磁性材料,以滿足人們對更高速度、更大容量、更低功耗和更高性能的需求。研究的初期階段開始于將樣品材料置于極低的低溫條件下(在絕對零度的幾度之內(nèi)),測量基本的電遷移特性。然而在進行這些測量時,具有磁特性的材料將同時暴露在高磁場中,因此,材料研發(fā)實驗室需要能夠體現(xiàn)這些極端采樣環(huán)境的測試與測量系統(tǒng)。
MeasureOne 優(yōu)勢
- 有保證的系統(tǒng)配置,可適應各種各樣的極端環(huán)境條件
- 經(jīng)過預先驗證的測試解決方案
- 提供了從開發(fā)研究到產(chǎn)品特性分析再到過程質(zhì)量控制的測試連續(xù)性
- 可提供安裝和服務支持
- 擁有可滿足未來要求的專業(yè)技術知識
解決方案組件
- Cascade 低溫探針臺,支持直徑達200 mm的產(chǎn)品,具有手動,半自動和全自動操作,可進行直流測試和太赫茲范圍內(nèi)的射頻測試。
審核編輯:符乾江
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
半導體
+關注
關注
334文章
27063瀏覽量
216501 -
磁性材料
+關注
關注
2文章
90瀏覽量
13297
發(fā)布評論請先 登錄
相關推薦
開爾文探針測試原理是什么
開爾文探針測試(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一種非接觸式表面電勢測量技術,廣泛應用于材料科學、表面科學、納米技術和生物醫(yī)學等領域。KPFM技術通過測量探針
分享:晶圓探針測試中探針臺的自動化控制
NSAT-1000射頻測試系統(tǒng)在ATECLOUD測試平臺基礎上開發(fā)而成,具有強大的兼容性,可以靈活快速接入設備,自動識別儀器,探針臺就是其中
案例 矢量網(wǎng)絡分析儀測試軟件與探針臺、網(wǎng)分通訊,測量晶圓芯片
北京某科技公司致力于射頻芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售,其產(chǎn)品廣泛應用于4G、5G移動終端和物聯(lián)網(wǎng)模組等領域。該公司與納米軟件合作,旨在通過矢量網(wǎng)絡分析儀軟件與探針臺、網(wǎng)分的通訊,完成晶圓芯片S參數(shù)的全自動化
射頻測試主要測試什么參數(shù)
射頻測試是無線通信系統(tǒng)中非常重要的一環(huán),它涉及到許多參數(shù)的測試。 射頻測試概述 射頻(Radio
示波器在射頻信號測試中的應用
隨著無線通信技術的快速發(fā)展,射頻信號測試在電子工程領域中的重要性日益凸顯。示波器作為電子測量領域的重要工具,其在射頻信號測試中的應用也越來越廣泛。本文將詳細介紹如何使用示波器
為什么要進行芯片測試?芯片測試在什么環(huán)節(jié)進行?
WAT需要標注出測試未通過的裸片(die),只需要封裝測試通過的die。
FT是測試已經(jīng)封裝好的芯片(chip),不合格品檢出。WAT和FT很多項目是重復的,F(xiàn)T多一些功能性測試
發(fā)表于 04-17 11:37
?743次閱讀
NSAT-1000測試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺對接,助力晶圓芯片批量自動化測試
在用NSAT-1000系統(tǒng)測試時,實現(xiàn)了測試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺和網(wǎng)絡分析儀之間的通訊,通過探針
電源模塊高低溫老化測試方法與步驟
為了檢測和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能,高低溫老化測試是不可或缺的測試步驟。高低溫老化測試是電子產(chǎn)品制造過程中的重要一環(huán),電
探針測試臺工作原理 探針測試臺為嘛測試會偏大?
探針測試臺是一種用于測試集成電路(IC)的設備,工作原理是將待測試的IC芯片安裝在測試座上,然后通過探針
CASCADE探針臺的應用場景 cascade探針臺用途
將詳細介紹其主要的幾個應用場景。 網(wǎng)絡性能監(jiān)測和故障排除 CASCADE探針臺可以在網(wǎng)絡中監(jiān)測和測量實時數(shù)據(jù)流量,例如帶寬利用率、延遲、丟包率等指標。通過分析這些數(shù)據(jù),網(wǎng)絡管理員可以快速識別網(wǎng)絡性能問題的根本原因并采取相應的措施
評論