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測試點對高速信號質(zhì)量的影響

嵌入式應(yīng)用開發(fā) ? 來源:嵌入式應(yīng)用開發(fā) ? 作者:嵌入式應(yīng)用開發(fā) ? 2022-09-16 08:55 ? 次閱讀

至于會不會影響信號質(zhì)量就要看加測試點的方式和信號到底多快而定。基本上外加的測試點(不用在線既有的穿孔(via or DIP pin)當(dāng)測試點)能加在在線或是從在線拉一小段線出來。前者相當(dāng)于是加上一個很小的電容在在線,后者則是多了一段分支。

這兩個情況都會對高速信號多多少少會有點影響,影響的程度就跟信號的頻率速度和信號緣變化率(edge rate)有關(guān),影響大小可透過仿真得知。原則上測試點越小越好(當(dāng)然還要滿足測試機具的要求)分支越短越好。

在高速PCB設(shè)計中,“信號”始終是工程師無法繞開的一個知識點。不管是在設(shè)計環(huán)節(jié),還是在測試環(huán)節(jié),信號質(zhì)量都值得關(guān)注。在本文中,我們主要來了解下影響信號質(zhì)量的5大問題。

根據(jù)目前工作的結(jié)論,信號質(zhì)量常見的問題主要表現(xiàn)在五個方面:過沖,回沖,毛刺,邊沿,電平。

1)過沖

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▲過沖圖

過沖帶來的問題是容易造成器件損壞,過沖過大也容易對周圍的信號造成串?dāng)_。造成過沖大的原因是不匹配,消除的方法有始端串電阻或末端并阻抗(或電阻)。

2)毛刺

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▲毛刺圖

毛刺作用在高速器件上,容易造成誤觸發(fā)、控制信號控制錯誤或時鐘信號相位發(fā)生錯誤等問題,毛刺脈沖帶來的問題多發(fā)生在單板工作不穩(wěn)定或器件替代后出現(xiàn)問題。造成毛刺的原因很多,比如邏輯冒險,串?dāng)_、地線反彈等,其消除的方法也不盡相同。

3)邊沿

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▲邊沿圖

邊沿速度緩慢發(fā)生在信號線上時,會造成數(shù)據(jù)采樣錯誤。其產(chǎn)生原因通常是輸出端容性負載過大(負載數(shù)量過多),輸出是三態(tài)時充(放)電電流小等原因。

4)回沖

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▲回沖圖

回沖產(chǎn)生的原因是信號線不匹配或多負載等原因,消除的方法是加匹配電阻或調(diào)整總線的拓撲結(jié)構(gòu)。

5)電平

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▲電平圖

輸入電平幅度不符合要求時,會造成器件輸出錯誤。導(dǎo)致電平異常的原因主要有:輸出過載,電平不匹配,三態(tài)總線、總線沖突等原因。

工程師在進行信號質(zhì)量測試時,應(yīng)該具備以下三方面的知識:

1)對測量工具(示波器)有清楚的了解,要了解示波器的性能,掌握示波器及其探頭的使用,清楚信號質(zhì)量異常的測試與示波器菜單設(shè)置間的配合關(guān)系。

2)對異常的信號形式有全面和清楚的認(rèn)識,對異常信號的異常指標(biāo)有了解。

3)對被測單板的原理電路有一定的認(rèn)識和了解,要求能夠?qū)π盘栠M行分類,了解板上的關(guān)鍵器件、關(guān)鍵總線、關(guān)鍵信號的信號質(zhì)量要求和相關(guān)時序參數(shù)

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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