《044_Coupler之七：微帶耦合器改善定向性措施45》所述：端口回波損耗指標嚴重影響微帶窄邊耦合器的定向性指標。

或者反過來，《045_Coupler之八：微帶耦合器應用》提到的駐波檢測電路中，如果用定向性指標不佳的耦合器去測試主信號線回波損耗，也是測不準的。

一句話：耦合器回損、定向性互相影響。

在VNA測試時，如果測試夾具本身的回波損耗指標不佳，會影響耦合器的回損測試結果，所以需要校準掉測試夾具本身的影響。

SLOT或TRL校準面

SMA接口的SLOT校準件，包含Short、Load、Open、Through，校準過程太復雜。

因此又有了的電子校準件Ecal：

校準過程簡單。

關于這兩種件的校準原理，可在網上找到相關資料。本文只談談幾種校準方式的校準面，SLOT和Ecal的校準面如下圖（圖片來自于電巢學員實際仿真設計的樣品）紅色虛線所示：

顯然測試的回波損耗包含了SMA與PCB轉換結構的阻抗失配特征。

即使如此，耦合器測試指標還是不錯的，電巢學員學到了真本事。

但是，如果想精確測試此耦合器指標，期望的校準面如上圖綠色實線框所示，要將測試夾具本身的SMA與PCB轉換結構的阻抗失配也校準掉，怎么辦？這就引出了TRL自制校準件和端口延伸（或推擠）方案。

TRL自制校準件

TRL校準面如下圖所示綠色虛線：

自制TRL校準面與期望符合，適用于測試高定向性微帶耦合器。

關于TRL校準件的原理和設計，可參閱網上文章，網上圖片不清晰，且Load校準件圖片不嚴瑾，會誤導大家，所以本文做了重繪，圖片如上。持續關注電巢App或本公眾號，后期會講到這個Load校準件有啥問題？

網上這篇文章的SMA采用了螺釘安裝的表面貼SMA，指標極佳，值得贊賞。

端口延伸（或推擠）

關于端口延伸（或推擠）網上文章也很多，例如：http://www.doc88.com/p-6042926255788.html，對于無源微帶器件（尤其是高定向性耦合器）的測試來說，其中的一句話（前提假設）特別重要：

“假設轉接頭的微帶線及測試電纜可以滿足阻抗匹配的條件，或者阻抗失配帶來的反射，相對被測件反射較小“

這句話對于常規射頻芯片或連接器測試，一般都是能滿足的。

但對于高定向性的耦合器來說，不滿足了，本公眾號第44篇文章已經有推論：如果定向性指標要求25dB，則理論上回波損耗指標至少要求30dB。

三種校準方式的校準面如下圖所示：

總結

SLOT和Ecal不能校準掉SMA與PCB轉換結構的阻抗失配和PCB布線本身的插入損耗和相位；

端口延伸（或推擠）只能校準掉PCB布線本身的插入損耗和相位（時延），不能校準掉SMA與PCB轉換結構的阻抗失配；

自制TRL能校準掉SMA與PCB轉換結構的阻抗失配、PCB布線本身的插入損耗和相位（時延），適合于測試高定向性耦合器；

審核編輯：劉清