日前,貝思科爾舉辦了《功率器件Power Cycling測試與數(shù)據(jù)后處理分析》線上直播活動(dòng)。
本次直播主要針對各種先進(jìn)封裝工藝的功率器件和模塊的快速發(fā)展,分析該領(lǐng)域功率器件模塊的Rth熱測試和PC可靠性測試需求和發(fā)展趨勢,分享Siemens MicRed Power Tester功率循環(huán)測試解決方案以及一些案例,并利用專業(yè)的數(shù)據(jù)后處理軟件對這些案例分析和總結(jié)。
主要內(nèi)容:
1,分析功率器件(單管,平面式IGBT模塊,SiC Mosfet模塊)測試需求;
2,Rth熱測試介紹與數(shù)據(jù)后處理分析;
3,PCs/min測試介紹與數(shù)據(jù)后處理分析。
部分講義截圖
貝思科爾(BasiCAE),專注于為國內(nèi)高科技電子、半導(dǎo)體、通信等行業(yè)提供先進(jìn)的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)、工程仿真分析(CAE)、半導(dǎo)體器件熱阻(Rth)及功率循環(huán)(Power Cycling)熱可靠性測試,以及研發(fā)數(shù)據(jù)信息化管理的解決方案和產(chǎn)品服務(wù)。
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原文標(biāo)題:【活動(dòng)回顧】功率器件Power Cycling測試與數(shù)據(jù)后處理分析
文章出處:【微信號:BasiCAE,微信公眾號:貝思科爾】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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