案例背景
PCBA組裝后功能測試不良,初步判斷為電感剝離導致失效。
分析過程
· 外觀分析
電感旁的電容一端與焊盤剝離圖
電容本體棱角位置損傷圖
電容損傷位置放大圖
NOTE:對樣品進行外觀分析,電感旁邊電容與焊盤剝離,電容本體棱角位置損傷,從損傷的狀態分析為受外力導致。
電感本體棱角位置損傷圖
電感損傷部位放大圖
NOTE:對樣品進行外觀分析,電感端子與焊盤焊錫完全剝離。
NOTE:對樣品進行外觀分析,剝離的PCB側焊盤表面未發現沾臟、異物。
電感本體端子
電感本體端子放大圖
NOTE:對樣品進行外觀分析,電感本體端子表面未發現沾臟、異物。
NOTE:對樣品進行外力剝離后外觀對比分析,兩個焊盤剝離后,焊錫斷面極其相似。
· SEM分析
PCB焊盤表面
NOTE:對樣品進行SEM檢測,PCB側焊盤表面未發現異物、沾臟 ,電感從錫層剝離。
電感端子表面
NOTE:對樣品進行SEM分析,電感端子表面未發現異物、沾臟 。
· EDS分析
PCB側焊盤主要元素為Sn占55.85%,Cu占23.68%。
電感端子主要元素為Sn占47.11%,Cu占31.03%。
NOTE:對樣品進行EDS檢測,電感端子和PCB焊盤主要元素均為Sn、Cu,未發現異常元素 。
· 單品外觀分析
單品外觀分析表
說明: 對10pcs單品樣品進行外觀分析,端子未發現有漏底材、沾臟、異物的現象。
· 浸錫試驗
單品浸錫表
錫爐溫度250℃,浸錫時間3±1s,檢查電感端子的上錫狀況。
NOTE:對5pcs單品樣品進行浸錫試驗,端子上錫狀態良好,未發現有不上錫、漏底材的現象。
分析結果
綜合上記檢測信息,通過外觀局部放大分析、SEM、EDS分析,判斷引起電感剝離失效的原因為——
①發現電感所在那一側的端子與焊盤焊錫完全剝離;
② 剝離的電感旁發現電容與焊盤剝離,其中電容和電感本體棱角位置均發現明顯的損傷,且從損傷的狀態分析為受到外力導致;
③ SEM分析剝離的PCB側焊盤、端子表面未發現沾臟、異物。
綜上所述此次電感剝離不良為受外力導致。
新陽檢測中心有話說:
本篇文章介紹了電感剝離失效分析。如需轉載本篇文章,后臺私信獲取授權即可。若未經授權轉載,我們將依法維護法定權利。原創不易,感謝支持!
審核編輯 黃昊宇
-
電感
+關注
關注
54文章
6111瀏覽量
102152 -
失效分析
+關注
關注
18文章
208瀏覽量
66377
發布評論請先 登錄
相關推薦
評論