所謂邊沿檢測,就是檢測輸入信號即上升沿或者下降沿的檢測。邊沿檢測的電路很好實現(xiàn):上一時刻為低電平,而當(dāng)前時刻為高電平,此時就為上升沿;上一時刻為高電平,而當(dāng)前時刻為低電平,此時就為上升沿。通過邊沿采樣技術(shù)實現(xiàn)上升沿捕獲進(jìn)而實現(xiàn)外部信號的上升沿觸發(fā)。1、always @ (posedge signal)FPGA不便于處理此類觸發(fā)信號,除非外部輸入信號作為全局時鐘使用。另外眾所周知由于電路不能能避免抖動現(xiàn)象,所以用這個檢測方法是明顯不合理的。2、一級D觸發(fā)器實現(xiàn); 我們先看下代碼,always@(posedge clk or negedge rst_n) spi_cs_r0 <= spi_cs;? ? ? ??assign mcu_write_done = (~spi_cs_r0 & spi_cs) ? 1'b1 : 1'b0; //posedge正常工作,沒有復(fù)位的情況下,工作流程如下:(1)D觸發(fā)器經(jīng)過時鐘clk的觸發(fā),輸出spi_cs信號,保存了t0時刻的信號。(2)同時由spi_cs直接輸出到與門,保留了當(dāng)前時刻t1的觸發(fā)信號(3)經(jīng)過與門輸出信號pos_edge,neg_edgea) 只有t0時刻為高,且t1時候為低的時候,與門輸出高,此時為下降沿。b) 只有to時候為低,且t1時候為高的時候,與門輸出高,此時為上升沿。一級D觸發(fā)器在寄存器比較時,前一時刻通過D觸發(fā)器已經(jīng)統(tǒng)一到FPGA的時鐘域,而當(dāng)前時刻直接從外部輸入,與FPGA整體邏輯電路不在同一時鐘域,為提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性我們可以采用第三種方法即二級D觸發(fā)器。3、二級D觸發(fā)器;我們?nèi)匀幌瓤创a:reg spi_cs_r0, spi_cs_r1; always@(posedge clk or negedge rst_n) spi_cs_r0 <= 1; spi_cs_r1 <= 1; spi_cs_r0 <= spi_cs; spi_cs_r1 <= spi_cs_r0;assign mcu_write_done = (~spi_cs_r1 & spi_cs_r0) ? 1'b1 : 1'b0;正常工作,沒有復(fù)位的情況下,工作流程如下:
(1)一級D觸發(fā)器經(jīng)過時鐘clk的觸發(fā),輸出當(dāng)前spi_cs信號,保存了t0時刻的信號。送往與門。(2)二級D觸發(fā)器經(jīng)過時鐘clk的觸發(fā),輸出上一時刻spi_cs信號,保存了t1時刻的信號。通過非們送往與門。(3)經(jīng)過與門輸出信號pos_edge,neg_edgea) 只有t0時刻為高,且t1時候為低的時候,與門輸出高,此時為下降沿。b) 只有to時候為低,且t1時候為高的時候,與門輸出高,此時為上升沿。利用CLK打兩拍,實現(xiàn)了上一時刻信號和本時刻信號和FPGA整體邏輯電路統(tǒng)一到同一時鐘域。這里要加兩級的觸發(fā)器的另一個原因,因觸發(fā)器跳轉(zhuǎn)產(chǎn)生滯后信號只能在時鐘的上升沿,而被檢測信號tigger并不一定是在一級觸發(fā)器跳轉(zhuǎn)的時鐘上升沿到來,這樣一級觸發(fā)器所產(chǎn)生的滯后信號與tigger相差就達(dá)不到一個CLK周期,所以產(chǎn)生的脈沖信號就小于一個CLK周期了,不利于后面電路對其的應(yīng)用。(1)將時鐘邊沿使能轉(zhuǎn)換為邊沿檢測使能,使時鐘同步化。(2)捕獲信號的突變(UART,SPI等信號使能突變)(1)增大CLK信號可以增強(qiáng)邊沿檢測的效率,但不能濾去跳變的雜波。(2)減少CLK可以有效濾去跳變的雜波,但不能及時檢測到邊沿跳變。(3)增加DFF能更好的濾除雜波,寄存信號,但同時檢測延時大。
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