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IC驗證和DFT哪個更有前景

jf_GctfwYN7 ? 來源:IC修真院 ? 作者:IC修真院 ? 2022-12-01 10:09 ? 次閱讀

在前端設(shè)計和功能驗證之間做對比的情況是很常見的,但隨著IC設(shè)計業(yè)的發(fā)展,很多初入行的ICer對其他崗位之間的異同點也很好奇。比如驗證和DFT。

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對一顆芯片來說,驗證會讓芯片正確地實現(xiàn)規(guī)格書所定義的功能;DFT會讓芯片的制造測試、開發(fā)和應(yīng)用變得更加高效、容易且便宜。

功能驗證是檢查芯片設(shè)計錯誤/失誤的重要環(huán)節(jié),工程師需要在驗證過程中發(fā)現(xiàn)性能不滿足、設(shè)計代碼功能bug等問題,并且盡可能提升驗證覆蓋率。

簡而言之,就是確保設(shè)計符合其設(shè)計規(guī)范和所期望的功能。

閱讀design spec,編寫verification spec,制定test plan。

搭建驗證環(huán)境 (C/C++,systemC,systemverilog)。

創(chuàng)建test cases。

監(jiān)測regression和提升coverage。

support其他工程師。

DFT可測性設(shè)計是在設(shè)計電路時為了達(dá)到故障檢測目的所做的輔助性設(shè)計,也就是在電路設(shè)計之初就考慮測試的問題,主要用來檢測生產(chǎn)故障。

說得再簡單一些,就是在設(shè)計芯片的時候進(jìn)行一些“埋點”操作,等芯片生產(chǎn)出來之后,可以通過外面的端口看到內(nèi)部的情況。

參與芯片DFT架構(gòu)定義和設(shè)計。

完成DFT電路設(shè)計,包括Scan、Mbist、Bscan等。

協(xié)助后端團隊處理DFT相關(guān)的時序分析和timing收斂工作。

使用EDA工具生成測試向量,并且進(jìn)行仿真驗證。

參與ATE,debug 測試failure。

這兩個崗位在整個芯片設(shè)計流程中分管的是不同的部分,負(fù)責(zé)的內(nèi)容也各不相同。

有的公司將DFT劃分在RTL代碼設(shè)計環(huán)節(jié),屬于前端設(shè)計的一部分;有的公司把他劃分在網(wǎng)表上做,屬于后端設(shè)計的一部分。

驗證就不用多說了,在前端設(shè)計之后,后端設(shè)計之前。

如果非要說這兩個崗位一些共通之處的話,他們和設(shè)計端其他崗位一樣——都要確保芯片的性能高、功能、功耗符合Spec要求。

在驗證和DFT中該如何做選擇呢?

首先需要明確一下兩個崗位的入行門檻和難度。它們對學(xué)歷門檻(本科及以上,碩士優(yōu)先)和專業(yè)要求(理工科,微電子/電子類優(yōu)先)是差不太多的。

如果考慮市場需求。

現(xiàn)在芯片的集成度極高,且數(shù)字類芯片迭代較快,每款芯片都必然要進(jìn)行完備的驗證流程,所以業(yè)界所傳(前端)設(shè)計與驗證1:3也不是空穴來風(fēng),只是很多公司目前并不能達(dá)到這個理想配比而已。就客觀情況來說,驗證崗的整體需求量大于DFT。

如果考慮崗位容量。

因為需求量大、門檻相對較低、薪資水平可觀等優(yōu)點,驗證崗位自然吸納了一批理工科人才,其中也不乏一些大佬級選手,不去卷大廠和ssp的話其實問題也不大。但相較之下,DFT競爭情況就稍微好一些。

如果考慮薪資待遇。

相信現(xiàn)在大家都比較清楚,數(shù)字IC設(shè)計端的幾個崗位薪資待遇其實都差不太多。以今年秋招舉例(Base上海+學(xué)歷211碩士),某集團旗下的公司給前端設(shè)計崗基本在35W+,某GPU廠商給功能驗證崗30-35W左右,某IP授權(quán)類廠商給DFT崗30W+股票的待遇。當(dāng)然,不同公司、不同學(xué)歷背景薪資之間還是有差異的,整體來看今年秋招薪資分布比較密集的區(qū)間是30-45W。

如果考慮長期發(fā)展。

正常情況下,一家IC設(shè)計公司的驗證團隊是最龐大的。所以如果未來想要帶團隊的話,還是驗證崗的可能性更大。

DFT是一個越在大廠越重要的角色(一些小公司是沒有專門的DFT團隊的)。DFT工程師需要懂設(shè)計、懂測試、懂電路,但前些年我們對DFT并不算重視,近些年才逐漸進(jìn)入高端線,所以現(xiàn)在的DFT工程師極其稀缺。 畢竟人才以稀為貴,前景也是很光明的。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標(biāo)題:IC驗證和DFT哪個更好,更有前景?

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