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如何縮短精密ADC信號鏈設(shè)計時間

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:ADI ? 作者:Abhilasha Kawle and W ? 2022-12-16 14:29 ? 次閱讀

作者:Abhilasha Kawle and Wasim Shaikh

精密信號鏈設(shè)計人員面臨的挑戰(zhàn)是滿足中等帶寬應(yīng)用中的噪聲性能要求,并且往往最終需要在噪聲性能和精度之間做出權(quán)衡。縮短上市時間并在第一時間完成正確的設(shè)計可能會增加進(jìn)一步的壓力。連續(xù)時間Σ-Δ(CTSD)ADC具有固有的架構(gòu)優(yōu)勢,并簡化了信號鏈設(shè)計,以減小解決方案尺寸,并幫助客戶加快最終產(chǎn)品的上市時間。在本系列文章中,我們將解釋CTSD ADC固有的架構(gòu)優(yōu)勢,以及它們?nèi)绾芜m應(yīng)各種精密中帶寬應(yīng)用。我們將深入探討信號鏈設(shè)計,讓設(shè)計人員了解CTSD技術(shù)的主要優(yōu)勢,并探索AD4134精密ADC的易用性設(shè)計特性。

介紹

在許多數(shù)字處理應(yīng)用和算法中,在過去二十年中,對所有轉(zhuǎn)換器技術(shù)具有更好分辨率和精度的需求有所增加。通過使用外部數(shù)字控制器,ADC的有限分辨率/精度得到了增強(qiáng),該控制器將使用平均和優(yōu)化濾波方案等軟件技術(shù)提取并提供更精確的結(jié)果。為了減少數(shù)字微控制器DSP的大量后處理,設(shè)計人員可以使用高性能精密ADC。這將減少數(shù)字端的優(yōu)化時間,并且還可以考慮使用成本更低的微控制器或DSP。精密ADC的應(yīng)用和市場非常廣泛:

工業(yè)儀器儀表:振動分析、溫度/壓力/應(yīng)變/流量測量、動態(tài)信號分析、聲學(xué)分析

醫(yī)療儀器:電生理學(xué)、血液分析、心電圖 (EKG/ECG)

國防應(yīng)用:聲納、遙測

測試和測量:音頻測試、硬件在環(huán)、電能質(zhì)量分析

ADC要處理的模擬輸入信號可以是具有電壓、電流輸出的傳感器信號,也可以是帶寬范圍為直流至幾百kHz的反饋控制環(huán)路信號。ADC數(shù)字輸出格式和速率取決于以下數(shù)字控制器所需的應(yīng)用和后處理。一般而言,信號鏈設(shè)計人員遵循奈奎斯特采樣定理,對數(shù)字控制器的ADC輸出數(shù)據(jù)速率(ODR)進(jìn)行編程,使其至少為輸入頻率的兩倍。大多數(shù)ADC都可以根據(jù)目標(biāo)信號頻帶靈活地調(diào)整輸出數(shù)據(jù)速率。

對于目前可用的ADC,在ADC與輸入信號交互之前,需要涉及多個信號調(diào)理級。具有嚴(yán)格要求的信號調(diào)理電路需要圍繞特定和單獨(dú)的ADC技術(shù)進(jìn)行設(shè)計和定制,以確保能夠?qū)崿F(xiàn)ADC數(shù)據(jù)手冊的性能。信號鏈設(shè)計人員的工作不會在選擇ADC后停止。設(shè)計和微調(diào)周圍的外圍通常需要大量的時間和精力。ADI公司以設(shè)計仿真工具和模型的形式提供高水平的技術(shù)支持,以克服大多數(shù)固有的設(shè)計挑戰(zhàn)。

新方法:利用 CTSD 架構(gòu)簡化設(shè)計之旅

CTSD架構(gòu)主要用于音頻和高速ADC,正在為精密應(yīng)用量身定制,以實(shí)現(xiàn)最高精度,同時利用其獨(dú)特的信號鏈簡化特性。這種架構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)消除了設(shè)計外圍設(shè)備所涉及的負(fù)擔(dān)。圖2顯示了如何使用這種新解決方案簡化當(dāng)前ADC信號鏈并將其縮小68%以實(shí)現(xiàn)高通道密度的一小部分。

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圖2.采用ADI公司新型易于使用的CTSD ADC的緊湊尺寸解決方案。

為了說明CTSD ADC技術(shù)為信號鏈帶來的簡化,本文重點(diǎn)介紹了一般應(yīng)用現(xiàn)有信號鏈設(shè)計所涉及的一些關(guān)鍵挑戰(zhàn),并展示了CTSD ADC如何緩解這些挑戰(zhàn)。

因此,讓我們從現(xiàn)有信號鏈中涉及的幾個設(shè)計步驟開始,首要任務(wù)是選擇合適的ADC,以最適合目標(biāo)應(yīng)用。

第 1 步:選擇 ADC

從各種可用的ADC中進(jìn)行選擇時,重要的考慮因素是分辨率和精度、信號帶寬、ODR、信號類型和要處理的范圍。通常,在大多數(shù)應(yīng)用中,數(shù)字控制器需要其算法來處理輸入信號的幅度、相位或頻率。

為了準(zhǔn)確測量上述任何因素,數(shù)字化過程中增加的誤差需要最小化。主要誤差及其相應(yīng)的測量術(shù)語詳見表1,并在《數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換基本指南》中進(jìn)行了更詳細(xì)的解釋。

模數(shù)轉(zhuǎn)換器誤差
數(shù)據(jù)表中的相關(guān)測量
1 熱噪聲和量化噪聲 信噪比 (SNR)、動態(tài)范圍 (DR)
2 失真 總諧波失真 (THD)、互調(diào)失真 (IMD)
3 干擾 串?dāng)_、混疊抑制、電源抑制比 (PSRR)、共模抑制比 (CMRR)
4 幅度和相位誤差 目標(biāo)頻率下的增益誤差、幅度和相位下降
5 從ADC輸入到最終數(shù)字輸出的延遲 延遲、建立時間

表1中的性能指標(biāo)與信號幅度和頻率有關(guān),通常稱為交流性能參數(shù)。

對于直流或近直流應(yīng)用,例如處理50 Hz至60 Hz輸入信號的功率計量,必須考慮ADC誤差,如失調(diào)、增益、INL和閃爍噪聲。這些直流性能參數(shù)還需要與應(yīng)用的預(yù)期用途相關(guān)的一定程度的溫度穩(wěn)定性。

ADI提供多種業(yè)界領(lǐng)先的高性能ADC,可滿足多種應(yīng)用的系統(tǒng)要求,無論是基于精度、基于速度還是基于有限的功率預(yù)算。僅僅將一組ADC規(guī)格與另一組ADC規(guī)格進(jìn)行比較并不是選擇ADC的方法。必須考慮整體系統(tǒng)性能和設(shè)計挑戰(zhàn),這就是選擇ADC技術(shù)或架構(gòu)的地方。傳統(tǒng)上首選的ADC架構(gòu)分為兩大類。最受歡迎的是逐次逼近寄存器(SAR)ADC,它遵循簡單的奈奎斯特定理。它指出,如果以兩倍的頻率采樣,則可以重建信號。SAR ADC 的優(yōu)勢在于出色的直流性能和小尺寸、低延遲和功耗隨 ODR 擴(kuò)展。

第二種技術(shù)選擇是離散時間Σ-Δ(DTSD)ADC,其工作原理是樣本數(shù)量越多,信息丟失越少。因此,采樣頻率遠(yuǎn)高于規(guī)定的奈奎斯特頻率,這種方案稱為過采樣。這種架構(gòu)的另一個優(yōu)點(diǎn)是,在目標(biāo)頻帶中,由于采樣而增加的誤差最小。因此,DTSD ADC具有出色的直流和交流性能,但延遲更高。

圖3顯示了SAR和DTSD ADC的典型模擬輸入帶寬,以及不同速度和分辨率的一些流行產(chǎn)品選擇。還可以參考精密快速搜索功能,以幫助您選擇ADC。

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圖3.精密ADC架構(gòu)定位。

此外,現(xiàn)在還提供一類新型精密ADC。它們基于與DTSD ADC性能相當(dāng)?shù)腃TSD ADC,但它們在簡化整個信號鏈設(shè)計過程方面是獨(dú)一無二的。現(xiàn)有信號鏈接下來幾個設(shè)計步驟中強(qiáng)調(diào)的挑戰(zhàn)可以通過這個新的ADC系列來解決。

第2步:將輸入連接至ADC

輸出由ADC處理的傳感器可能具有非常高的靈敏度。設(shè)計人員必須充分了解傳感器接口的ADC輸入結(jié)構(gòu),以確保ADC誤差不會掩蓋或扭曲實(shí)際傳感器信號。

在傳統(tǒng)的SAR、DTSD ADC中,輸入結(jié)構(gòu)稱為開關(guān)電容采樣保持電路,如圖4所示。在每個采樣時鐘邊沿,當(dāng)采樣開關(guān)改變其ON/OFF狀態(tài)時,需要支持有限的電流需求,以將保持電容充電或放電至新的采樣輸入值。這種電流需求需要由輸入源提供,在我們的討論中,輸入源是傳感器。此外,開關(guān)本身具有一些片上寄生電容,可將一些電荷注入回源,這稱為電荷注入反沖。傳感器也需要吸收這種增加的誤差源,以避免傳感器信號損壞。

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圖4.(a) 開關(guān)電容電荷注入反沖到傳感器中,以及 (b) 用輸入緩沖器隔離反沖效應(yīng)。

大多數(shù)傳感器無法提供如此大的電流,這表明它們無法直接驅(qū)動開關(guān)電路。在另一種情況下,假設(shè)即使傳感器可以支持這些電流需求,傳感器的有限阻抗也會增加ADC輸入端的誤差。電荷注入電流是輸入的函數(shù),該電流會導(dǎo)致傳感器阻抗兩端的輸入相關(guān)壓降。如圖4a所示,ADC的輸入出現(xiàn)錯誤。解決這些問題的一種解決方案是在傳感器和ADC之間放置一個驅(qū)動放大器,如圖4b所示。

現(xiàn)在我們需要為這個放大器設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)。首先,放大器應(yīng)支持充電電流并吸收電荷注入反沖。接下來,該放大器的輸出需要在采樣邊沿的末端完全建立,以便ADC對輸入進(jìn)行采樣而不會增加誤差。這意味著放大器應(yīng)能夠提供瞬時電流階躍,對應(yīng)于具有高壓擺率,并為這些瞬態(tài)事件提供快速建立響應(yīng),從而映射到具有高帶寬。隨著ADC采樣頻率和分辨率的提高,滿足這些要求變得至關(guān)重要。

設(shè)計人員(尤其是那些使用中等帶寬應(yīng)用的設(shè)計人員)面臨的最大挑戰(zhàn)是確定適合ADC的放大器。如前所述,ADI提供了一套仿真模型和精密ADC驅(qū)動器工具來簡化此步驟,但對于設(shè)計人員來說,這是實(shí)現(xiàn)ADC數(shù)據(jù)手冊性能的額外設(shè)計步驟。一些新時代的SAR和DTS DADC通過使用新穎的采樣技術(shù)來完全降低瞬態(tài)電流需求,或者通過集成放大器來緩解這一挑戰(zhàn)。但這兩種解決方案都會限制信號帶寬范圍或損害ADC性能。

CTSD ADC的優(yōu)勢: CTSD ADC通過提供易于驅(qū)動的阻性輸入而不是開關(guān)電容輸入來應(yīng)對這一挑戰(zhàn)。這表明對高帶寬、大壓擺率放大器沒有硬性要求。如果傳感器可以直接驅(qū)動該阻性負(fù)載,則可以直接連接到CTSD ADC;否則,任何低帶寬、低噪聲放大器都可以在傳感器和CTSD ADC之間接口。

步驟3:將基準(zhǔn)電壓源連接至ADC

與基準(zhǔn)電壓源接口所涉及的挑戰(zhàn)類似于輸入接口。傳統(tǒng)ADC的基準(zhǔn)輸入也是開關(guān)電容。在每個采樣時鐘邊沿,基準(zhǔn)電壓源都需要對內(nèi)部電容充電,因此需要大開關(guān)電流和良好的建立時間。

現(xiàn)有的基準(zhǔn)電壓源IC無法支持大開關(guān)電流需求,并且?guī)捰邢蕖5诙€接口挑戰(zhàn)是,與ADC的噪聲相比,這些基準(zhǔn)電壓源的噪聲很大。為了濾除這種噪聲,使用了一階RC電路。一方面,我們對噪聲基準(zhǔn)電壓源進(jìn)行頻帶限制,另一方面,我們要求快速建立時間。這是要滿足的兩個相反的要求。因此,使用低噪聲緩沖器來驅(qū)動ADC基準(zhǔn)引腳,如圖5b所示。根據(jù)ADC的采樣頻率和分辨率,決定該緩沖器的壓擺率和帶寬。

同樣,與我們的精密輸入驅(qū)動器工具一樣,ADI公司也提供用于仿真和選擇ADC正確基準(zhǔn)電壓緩沖器的工具。與輸入類似,一些新時代的SAR和DTSD ADC也可以選擇集成基準(zhǔn)電壓緩沖器,但它們具有性能和帶寬限制。

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圖5.(a) 開關(guān)電容電荷注入反沖到基準(zhǔn) IC,以及 (b) 用基準(zhǔn)緩沖器隔離反沖效應(yīng)。

CTSD ADC的優(yōu)勢: 使用CTSD ADC可以完全跳過此設(shè)計步驟,因?yàn)樗鼮轵?qū)動電阻負(fù)載提供了一種新的簡單選項(xiàng),不需要如此高帶寬、大壓擺率緩沖器。帶有低通濾波器的基準(zhǔn)電壓源IC可以直接連接到基準(zhǔn)引腳。

第4步:使信號鏈不受干擾

對連續(xù)信號進(jìn)行采樣和數(shù)字化會導(dǎo)致信息丟失,這稱為量化噪聲。采樣頻率和位數(shù)決定了ADC架構(gòu)的性能限制。在解決了基準(zhǔn)電壓源和輸入的性能和接口挑戰(zhàn)之后,接下來的難題是解決高頻(HF)干擾源/噪聲折疊到目標(biāo)低頻帶寬中的問題。這稱為混疊或折回。這些HF或帶外干擾源反射到目標(biāo)帶寬中的圖像會導(dǎo)致信噪比(SNR)下降。引用采樣定理,采樣頻率周圍的任何音調(diào)都會在帶內(nèi)折返,如圖6所示,這會導(dǎo)致目標(biāo)頻帶中出現(xiàn)不需要的信息或誤差。有關(guān)混疊的更多詳細(xì)信息,請參閱教程 MT-002:奈奎斯特準(zhǔn)則對抽樣數(shù)據(jù)系統(tǒng)設(shè)計的意義。

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圖6.由于采樣,帶外干擾源混疊/折返到目標(biāo)頻帶。

減輕折返影響的一種解決方案是使用一種稱為抗混疊濾波器(AAF)的低通濾波器來衰減不需要的干擾源的幅度,以便當(dāng)該衰減干擾源折回帶內(nèi)時,保持所需的SNR。該低通濾波器通常集成一個驅(qū)動放大器,如圖7所示。

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圖7.使用抗混疊濾波器來減輕混疊對帶內(nèi)性能的影響。

在設(shè)計該放大器時,最大的挑戰(zhàn)是在更快的建立和低通濾波要求之間找到平衡。另一個挑戰(zhàn)是,此解決方案需要針對每個應(yīng)用程序要求進(jìn)行微調(diào),這限制了跨各種應(yīng)用程序采用單一平臺設(shè)計。ADI提供多種抗混疊濾波器工具設(shè)計,幫助設(shè)計人員克服這一挑戰(zhàn)。

CTSD ADC的優(yōu)勢: CTSD ADC本身固有的混疊抑制特性解決了這種抗干擾性,這是CTSD ADC獨(dú)有的特性。采用該技術(shù)的 ADC 不需要 AAF。因此,我們離直接將CTSD ADC連接到傳感器又近了一步,而無需付出太多努力。

步驟5:選擇ADC時鐘頻率和輸出數(shù)據(jù)速率

接下來,我們來討論一下我們討論過的兩類傳統(tǒng)ADC的時鐘要求。DTSD是一個過采樣ADC,這意味著ADC的采樣速率高于奈奎斯特采樣率。但是,將ADC過采樣數(shù)據(jù)直接提供給外部數(shù)字控制器意味著我們使其過載,使其具有大量冗余信息。在過采樣系統(tǒng)中,內(nèi)核ADC輸出使用片內(nèi)數(shù)字濾波器進(jìn)行抽取,使最終ADC數(shù)字輸出具有較低的數(shù)據(jù)速率,通常是信號頻率的兩倍。

對于DTSD ADC,設(shè)計人員需要規(guī)劃為內(nèi)核ADC提供高頻采樣時鐘,并對所需的輸出數(shù)據(jù)速率進(jìn)行編程。ADC將在此所需ODR和ODR時鐘下提供最終數(shù)字輸出。數(shù)字控制器使用此ODR時鐘來輸入數(shù)據(jù)。

接下來,我們將討論SAR ADC的時鐘要求,該ADC通常遵循奈奎斯特定理。這里,ADC的采樣時鐘由數(shù)字控制器提供,時鐘也充當(dāng)ODR。但是,由于需要很好地控制采樣保持時序才能從ADC獲得最佳性能,因此該時鐘的時序靈活性較低,這也表明數(shù)字輸出的時序需要與這些要求保持一致。

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圖8.(a) DTSD ADC 和 (b) SAR ADC 中的時鐘要求。

在了解這兩種架構(gòu)的時鐘要求時,我們發(fā)現(xiàn)ODR耦合到ADC的采樣時鐘,這是許多系統(tǒng)的限制,在這些系統(tǒng)中,ODR可能會動態(tài)漂移或變化,或者需要調(diào)諧到模擬輸入信號頻率。

CTSD ADC的優(yōu)勢: CTSD ADC 與新型異步采樣速率轉(zhuǎn)換器 (ASRC) 耦合,后者可在任何所需的 ODR 下對內(nèi)核 ADC 數(shù)據(jù)進(jìn)行重采樣。ASRC還使設(shè)計人員能夠在任何頻率下精細(xì)地設(shè)置ODR,并超越將ODR限制為采樣頻率倍數(shù)的古老限制。ODR的頻率和時序要求現(xiàn)在純粹是數(shù)字接口的功能,與ADC采樣頻率完全解耦。該特性簡化了信號鏈設(shè)計人員的數(shù)字隔離設(shè)計。

第 6 步:與外部數(shù)字控制器接口

傳統(tǒng)上,ADC有兩種類型的數(shù)據(jù)接口模式與數(shù)字控制器通信。一個涉及ADC充當(dāng)主機(jī),提供數(shù)字/ODR時鐘,并決定時鐘的邊沿,以便數(shù)字控制器輸入ADC數(shù)據(jù)。另一種類型是托管模式(接收器模式),其中數(shù)字控制器是主機(jī),提供ODR時鐘,并決定ADC數(shù)據(jù)時鐘的時鐘邊沿。

從步驟5繼續(xù),如果設(shè)計人員選擇DTSD ADC,則ADC充當(dāng)以下數(shù)字控制器的主機(jī),因?yàn)锳DC提供ODR時鐘。如果選擇了SAR ADC,則數(shù)字控制器需要提供ODR時鐘,這意味著SAR ADC始終配置為托管外設(shè)。因此,明顯的限制是,一旦選擇了ADC架構(gòu),數(shù)字接口就只能處于主機(jī)模式或托管模式。目前,無論采用何種ADC架構(gòu),在選擇接口時都無法靈活選擇。

CTSD ADC的優(yōu)勢: 與CTSD ADC耦合的新型ASRC使設(shè)計人員能夠獨(dú)立配置ADC數(shù)據(jù)接口模式。這為高性能ADC可以在適合應(yīng)用數(shù)字控制器的任何模式下配置的應(yīng)用開辟了一個全新的機(jī)會,而不管ADC架構(gòu)如何。

將一切整合在一起

圖9顯示了傳統(tǒng)信號鏈的構(gòu)建模塊,其模擬前端(AFE)由ADC輸入驅(qū)動器、混疊抑制濾波器和基準(zhǔn)電壓緩沖器組成,CTSD ADC可大幅簡化。圖10a所示為采用DTSD ADC的示例信號鏈,該信號鏈需要大量的設(shè)計工作來微調(diào)和推導(dǎo)ADC的數(shù)據(jù)手冊性能。為了簡化客戶旅程,ADI提供了參考設(shè)計,可以重復(fù)使用或重新調(diào)整這些ADC的各種應(yīng)用。

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圖9.采用傳統(tǒng)精密ADC與CTSD ADC的信號鏈構(gòu)建模塊。

圖10b顯示了帶有CTSD ADC及其簡化模擬輸入前端(AFE)的信號鏈,因?yàn)槠銩DC內(nèi)核在輸入和基準(zhǔn)電壓源上沒有開關(guān)電容采樣器。開關(guān)采樣器移至ADC內(nèi)核的后期,使信號輸入和基準(zhǔn)輸入純阻性。這導(dǎo)致ADC幾乎無采樣,形成了自己的一類。此外,這類ADC的信號傳遞函數(shù)模擬抗混疊濾波器響應(yīng),這意味著它固有地衰減噪聲干擾源。借助CTSD技術(shù),ADC簡化為簡單的即插即用組件。

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圖 10.使用(a)DTSD技術(shù)與(b)CTSD技術(shù)的信號鏈?zhǔn)纠?/strong>

總之,CTSD ADC簡化了信號鏈設(shè)計,同時實(shí)現(xiàn)了與傳統(tǒng)ADC信號鏈具有相同性能水平的系統(tǒng)解決方案,同時具有以下優(yōu)勢:

提供無混疊、低延遲信號鏈,具有出色的通道間相位匹配

簡化模擬前端,無需增加高帶寬輸入和基準(zhǔn)電壓源驅(qū)動器緩沖器的選擇和微調(diào)步驟,從而實(shí)現(xiàn)更高的通道密度

打破作為采樣時鐘函數(shù)的ODR障礙

為外部數(shù)字控制器提供獨(dú)立接口控制

提高信號鏈可靠性等級,這是外圍元件減少的直接結(jié)果

減小尺寸,減少 68% 的 BOM,從而加快客戶的上市時間

本系列接下來的幾篇文章將更詳細(xì)地解釋CTSD ADC和ASRC的概念,重點(diǎn)介紹信號鏈的優(yōu)勢,最后將利用新型AD7134的特性。

審核編輯:郭婷

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    CTSD <b class='flag-5'>ADC</b>:如何改進(jìn)<b class='flag-5'>精密</b><b class='flag-5'>ADC</b><b class='flag-5'>信號</b><b class='flag-5'>鏈</b>設(shè)計

    如何使用連續(xù)時間Σ-ΔADC,簡化信號來解決采樣問題

    作者:Wasim Shaikh 和 Srikanth Nittala 本文介紹連續(xù)時間Σ-Δ ADC,通過簡化信號來有效解決采樣問題。采用這種方法無需使用抗混疊濾波器和緩沖器,并可解
    的頭像 發(fā)表于 12-30 17:06 ?4282次閱讀
    如何使用連續(xù)<b class='flag-5'>時間</b>Σ-Δ<b class='flag-5'>ADC</b>,簡化<b class='flag-5'>信號</b><b class='flag-5'>鏈</b>來解決采樣問題

    精密數(shù)據(jù)采集信號的噪聲分析探討

    在很多應(yīng)用中,模擬前端接收單端或差分信號,并執(zhí)行所需的增益或衰減、抗混疊濾波及電平轉(zhuǎn)換,之后在滿量程電平下驅(qū)動 ADC 輸入端。今天,我們就深入探討下精密數(shù)據(jù)采集信號
    發(fā)表于 10-24 10:25

    怎么實(shí)現(xiàn)PCB高的布通率以及縮短設(shè)計時間

    PCB尺寸要求越來越小,器件密度越來越高,PCB設(shè)計的難度并不小。如何實(shí)現(xiàn)PCB高的布通率以及縮短設(shè)計時間呢?現(xiàn)在PCB設(shè)計的時間越來越短,越來越小的電路板空間,越來越高的器件密度,極其苛刻的布局
    發(fā)表于 05-18 16:12

    精密數(shù)據(jù)采集信號噪聲研究

    在很多應(yīng)用中,模擬前端接收單端或差分信號,并執(zhí)行所需的增益或衰減、抗混疊濾波及電平轉(zhuǎn)換,之后在滿量程電平下驅(qū)動 ADC 輸入端。今天,我們就深入探討下精密數(shù)據(jù)采集信號
    發(fā)表于 07-16 07:12

    精密數(shù)據(jù)采集信號的噪聲有什么意義?

    在很多應(yīng)用中,模擬前端接收單端或差分信號,并執(zhí)行所需的 增益或衰減、抗混疊濾波及電平轉(zhuǎn)換,之后在滿量程電平下驅(qū) 動ADC輸入端。今天我們探討下精密數(shù)據(jù)采集信號
    發(fā)表于 07-31 07:09

    精密數(shù)據(jù)采集信號的噪聲分析

    在很多應(yīng)用中,模擬前端接收單端或差分信號,并執(zhí)行所需的增益或衰減、抗混疊濾波及電平轉(zhuǎn)換,之后在滿量程電平下驅(qū)動 ADC 輸入端。今天,我們就深入探討下精密數(shù)據(jù)采集信號
    發(fā)表于 03-27 06:30

    SIMPLE SWITCHER電源模塊大幅縮短設(shè)計時間

    SIMPLE SWITCHER電源模塊大幅縮短設(shè)計時間  美國國家半導(dǎo)體公司 (National Semiconductor Corporation)宣布推出全新 SIMPLE SWITCHER電源模塊系列的前三款產(chǎn)品。該系列全新的高集成
    發(fā)表于 01-26 16:23 ?937次閱讀

    如何利用PADS Layout和布線功能縮短設(shè)計時間

    參加本研討會可了解,PADS 強(qiáng)大的 Layout 和布線功能可如何縮短設(shè)計時間,并改進(jìn) PCB 的可制造性。我們將討論如何通過合理的布局來減少層數(shù)、過孔和走線長度,以及如何大幅縮短布線電路板所花的
    的頭像 發(fā)表于 05-16 06:20 ?4418次閱讀
    如何利用PADS Layout和布線功能<b class='flag-5'>縮短</b>設(shè)<b class='flag-5'>計時間</b>

    PADS如何通過物理設(shè)計復(fù)用縮短PCB設(shè)計時間

    參加本研討會可了解 PADS 如何通過物理設(shè)計復(fù)用 (PDR) 來縮短 PCB 設(shè)計時間。我們將討論 PDR 的多種用途,說明使用經(jīng)驗(yàn)證的電路對縮短設(shè)計時間的積極影響,并且重點(diǎn)介紹 P
    的頭像 發(fā)表于 05-13 06:30 ?4585次閱讀
    PADS如何通過物理設(shè)計復(fù)用<b class='flag-5'>縮短</b>PCB設(shè)<b class='flag-5'>計時間</b>

    深入分析信號設(shè)計,助你了解CTSD技術(shù)的關(guān)鍵優(yōu)勢

    精密信號設(shè)計人員面臨著滿足中等帶寬應(yīng)用中噪聲性能要求的挑戰(zhàn),最后往往要在噪聲性能和精度之間做出權(quán)衡。縮短上市時間并在第一時間完成正確的設(shè)計
    的頭像 發(fā)表于 04-18 21:35 ?955次閱讀

    CTSD精密ADC:輕松驅(qū)動ADC輸入和基準(zhǔn)電壓源,簡化信號設(shè)計

    本文重點(diǎn)介紹新型連續(xù)時間Sigma-Delta (CTSD)精密ADC最重要的架構(gòu)特性之一:輕松驅(qū)動阻性輸入和基準(zhǔn)電壓源。實(shí)現(xiàn)最佳信號性能
    的頭像 發(fā)表于 06-16 10:24 ?1511次閱讀
    CTSD<b class='flag-5'>精密</b><b class='flag-5'>ADC</b>:輕松驅(qū)動<b class='flag-5'>ADC</b>輸入和基準(zhǔn)電壓源,簡化<b class='flag-5'>信號</b><b class='flag-5'>鏈</b>設(shè)計

    如何改進(jìn)精密ADC信號設(shè)計

    精密ADC信號設(shè)計是現(xiàn)代電子系統(tǒng)中非常重要的一部分,它能夠?qū)⒛M信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號,以便在數(shù)字
    的頭像 發(fā)表于 06-18 09:33 ?895次閱讀