編者注:在應(yīng)用示波器、網(wǎng)分這類電子設(shè)備測(cè)試產(chǎn)品的時(shí)候,都建議熱機(jī)和校準(zhǔn)。減少設(shè)備和環(huán)境引入的誤差。
即使再好的測(cè)試設(shè)備也會(huì)存在瑕疵,從而導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不太理想。這些導(dǎo)致測(cè)量誤差的缺陷中,有一些是隨著時(shí)間和溫度的變化而可重復(fù)和可預(yù)測(cè)的,并且可以消除,而另一些則是隨機(jī)的,無法消除。
誤差修正對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響非常顯著。下圖中,如果沒有誤差修正,帶通濾波器的測(cè)量結(jié)果顯示出相當(dāng)大的損耗和紋波。經(jīng)雙端口校準(zhǔn)后的跡線消除了系統(tǒng)誤差的影響而更加平滑,并且更準(zhǔn)確的表示了被測(cè)件(DUT) 的實(shí)際性能。
所有測(cè)量系統(tǒng),包括那些使用網(wǎng)絡(luò)分析儀的系統(tǒng),都可能受到三種測(cè)量誤差的困擾:
? 系統(tǒng)性誤差
? 隨機(jī)誤差
? 漂移誤差
系統(tǒng)誤差是由測(cè)試設(shè)備和測(cè)試設(shè)置的缺陷引起的。這些誤差不隨時(shí)間而變化,它們可以通過校準(zhǔn)來表征,并在測(cè)量過程中以數(shù)學(xué)方法來消除。網(wǎng)絡(luò)測(cè)量中遇到的系統(tǒng)誤差與信號(hào)泄漏、信號(hào)反射和頻率響應(yīng)有關(guān)。有六種類型的系統(tǒng)誤差:
?與信號(hào)泄漏有關(guān)的方向性和串?dāng)_誤差
?與反射有關(guān)的源和負(fù)載阻抗失配
?由測(cè)試接收機(jī)內(nèi)的反射和傳輸跟蹤引起的頻率響應(yīng)誤差
( 完整的兩端口誤差模型包括所有六個(gè)用于表示正向的誤差和另外的六個(gè)反向誤差,總共有十二個(gè)誤差項(xiàng)。這就是為什么經(jīng)常將兩端口校準(zhǔn)稱為十二項(xiàng)誤差修正)
隨機(jī)誤差隨時(shí)間而隨機(jī)變化。由于它們不可預(yù)測(cè),因此無法通過校準(zhǔn)將其移除。造成隨機(jī)誤差的主要因素包括儀器噪聲(例如IF本底噪聲)、開關(guān)可重復(fù)性和連接器可重復(fù)性等。使用網(wǎng)絡(luò)分析儀時(shí),通常可以通過提高源功率、減小IF帶寬或使用多次掃描的跡線平均等方法來降低噪聲誤差。
漂移誤差是指經(jīng)過校準(zhǔn)的測(cè)試系統(tǒng)的性能發(fā)生的變化。這主要是由溫度變化引起的,可以通過額外的校準(zhǔn)來消除。漂移率決定了需要額外校準(zhǔn)的頻率。但是,通過構(gòu)建環(huán)境溫度穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境,通常可以將漂移誤差降至最低。雖然可以指定測(cè)試設(shè)備在0°C 至+55°C 的溫度范圍內(nèi)運(yùn)行,而更可控的溫度范圍(例如 +25°C ± 5°C)可以通過最大限度地減少漂移誤差來提高測(cè)量精度,并減少或消除對(duì)定期重新校準(zhǔn)的依賴。
審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:為什么說VNA的校準(zhǔn)很重要?
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