在芯片驗證中，要想發(fā)現(xiàn)bug

需要激勵能夠覆蓋到特定場景

需要一系列的checker能夠發(fā)現(xiàn)DUT的錯誤

checker分為兩種類型：

典型的和驗證組件相對比較獨(dú)立的checker，這些checker通常與時序相關(guān)，例如檢查DUT中的狀態(tài)機(jī)是否永遠(yuǎn)不會進(jìn)入某個狀態(tài)，檢查接口上的vld-rdy時序符合協(xié)議。

另一種類型的檢查就是數(shù)據(jù)scoreboard。scoreboard用于檢查系統(tǒng)中數(shù)據(jù)的完整性。

本文我們先介紹時序的checker，即非scoreboard的checker

時序checker通常用于檢查隨時序變化的行為。時序checker通過時間表達(dá)式觸發(fā)以對某些條件進(jìn)行檢查，這個時序表達(dá)式可能像時鐘周期一樣簡單，也可能嵌套了很多非常復(fù)雜的時間表達(dá)式。

時序checker一般是比較白盒的，深入探索DUT中RTL中的一切預(yù)期行為：

A事件在條件a下一定發(fā)生

B事件一定不會發(fā)生

A事件發(fā)生后一定會發(fā)生B事件

舉個具體例子

在用例結(jié)束可以做一個驗證環(huán)境和DUT的final值check

檢查fifo不會讀空和寫滿

輸出接口不會違反AMBA協(xié)議

理論上，我們可以加入無限多的checker，我們甚至沒法判斷哪些checker是沒有價值的，最終導(dǎo)致checker指數(shù)級增長，從而降低仿真器的運(yùn)行效率。

也許，我們的隊員在會議中提出了很多很多的checker，聽起來都似乎有些道理。但事實上是否真的有價值，還是只是個雞肋般的checker？

審核編輯：劉清