以下是我們?cè)?CODE V 中的十大技巧，可幫助您設(shè)計(jì)出出色、更好的光學(xué)設(shè)計(jì)。

提示#1： 在設(shè)計(jì)過(guò)程中盡早明確需求。

擁有明確的工作目標(biāo)、設(shè)計(jì)要求和所需的時(shí)間表可確保您可以與負(fù)責(zé)項(xiàng)目各個(gè)方面的其他工程和系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員進(jìn)行充分規(guī)劃。此外，愿意擁有一定的靈活性也可以幫助您取得成功！機(jī)械和封裝限制、不斷變化的性能需求或不斷變化的成本目標(biāo)等不可預(yù)見(jiàn)的挑戰(zhàn)可能需要采用新方法。擁有靈活性將是使您能夠成為一名成功設(shè)計(jì)師的工具之一！一旦您有了明確的要求，在 CODE V 光學(xué)設(shè)計(jì)軟件中使用規(guī)范生成器是跟蹤它們的好方法：

提示#2：根據(jù)系統(tǒng)需求選擇一個(gè)有效的起點(diǎn)。

CODE V為滿足這一需求提供了大量的樣品和專利鏡頭庫(kù)（超過(guò)2，400種可用的起點(diǎn)設(shè)計(jì)，來(lái)自過(guò)期的專利）：

專利透鏡數(shù)據(jù)庫(kù)可以按應(yīng)用（例如，顯微鏡物鏡、相機(jī)或望遠(yuǎn)鏡物鏡）、光譜范圍或共軛物設(shè)置進(jìn)行排序。用于對(duì)起點(diǎn)進(jìn)行排序的其他工具處理系統(tǒng)數(shù)據(jù)的性能目標(biāo)（例如f/數(shù)字、縮放比率、放大倍率、元素?cái)?shù)或移動(dòng)組數(shù)）。

提示#3： 為了獲得最佳優(yōu)化成功（通常），請(qǐng)選擇對(duì)象側(cè)瞳孔定義，并允許足夠的自由度以滿足光學(xué)系統(tǒng)的約束。

提示#4：充分利用 CODE V 對(duì)拉格朗日（精確）約束的出色實(shí)現(xiàn)。

拉格朗日約束用于構(gòu)建圍欄，使優(yōu)化器遠(yuǎn)離解空間中的區(qū)域，在這些區(qū)域中，設(shè)計(jì)形式無(wú)法滿足這些非常重要的精確約束。CODE V具有在優(yōu)化過(guò)程中處理這些約束的出色方法，將為您的光學(xué)設(shè)計(jì)工作提供良好的服務(wù)。

提示#5：使用射線網(wǎng)格間距或 DEL 命令調(diào)整優(yōu)化光線網(wǎng)格設(shè)置，以滿足系統(tǒng)特定的設(shè)計(jì)需求。

查看射線網(wǎng)格間距的一個(gè)有用工具是 CODE V 提供的宏 autogrid.seq 或 autogridgq.seq，用于自動(dòng)設(shè)計(jì)的直線或高斯正交射線網(wǎng)格輸入。

自動(dòng)射線網(wǎng)格和自動(dòng)射線網(wǎng)格高斯正交

提示#6：另一個(gè)最佳實(shí)踐是在設(shè)計(jì)過(guò)程的早期添加一些約束，以使系統(tǒng)設(shè)計(jì)對(duì)制造和裝配錯(cuò)誤脫敏（公差脫敏）。

這允許 CODE V 查找受這些類型的制造錯(cuò)誤影響最小的表單。最流行的方法包括使用靈敏度構(gòu)建 （SAB） 誤差函數(shù)或 SN2 通用靈敏度約束。SAB 誤差函數(shù)是對(duì)整體誤差函數(shù)的單獨(dú)貢獻(xiàn)，表示系統(tǒng)對(duì)竣工性能的敏感性。SN2 約束可以應(yīng)用于設(shè)計(jì)中的每個(gè)光學(xué)表面，以降低單個(gè)表面靈敏度。

提示#7：使用靈敏度竣工誤差函數(shù) （SAB） 時(shí)，重復(fù)使用射線網(wǎng)格以及波前優(yōu)化以加快優(yōu)化運(yùn)行。

提示#8：對(duì)于高度非球面的表面，努力確保您的場(chǎng)覆蓋范圍足以完全填充非球面的可優(yōu)化部分。

這可確保優(yōu)化的表面在視場(chǎng)的所有部分都表現(xiàn)良好，并且不會(huì)因視場(chǎng)“中間”空間的性能不佳而讓您感到驚訝。

提示#9：嘗試在設(shè)計(jì)過(guò)程的早期納入包裝約束。

使用導(dǎo)入的 CAD 進(jìn)行可視化可以極大地幫助您完成此任務(wù)：

提示#10：最后但并非最不重要的一點(diǎn)是，盡早并經(jīng)常在設(shè)計(jì)過(guò)程中與您的供應(yīng)商溝通！

審核編輯：郭婷