在存儲器密度低、性能緩慢且需要昂貴的硅空間的時代。然后我快進到未來,當內存技術已經發(fā)展到支持巨大的密度,超快的速度,同時保持低功耗,所有這些都在非常小的幾何結構中。
我概述了各種內存技術及其支持的細分市場。為了跟上這種內存技術發(fā)展的步伐,設計和驗證工具以及創(chuàng)建和產品化這些技術的方法也得到了發(fā)展。
這種存儲器的演變給驗證工程師帶來了一系列全新的挑戰(zhàn)。為了取得成功,驗證必須在設計周期的早期發(fā)展為徹底、高效和有效。此外,它必須依賴于對SystemVerilog的本機支持,利用最先進的驗證技術進行測試平臺創(chuàng)建和定制,以及調試和覆蓋率收斂。
需要更快、經過驗證且最先進的前端內存驗證基礎設施來解決最新內存創(chuàng)新帶來的復雜性。利用行業(yè)標準的通用驗證方法 (UVM),支持高級協議級調試,以及具有內置覆蓋范圍和計劃的加速驗證收斂,驗證工程師可以在短時間內自信地驗證內存技術。
審核編輯:郭婷
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