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硬件測試-噪聲的測試分析(2)

冬至子 ? 來源:硬件工程師技術小站 ? 作者:硬件測試攻城獅一 ? 2023-05-29 15:21 ? 次閱讀

4、噪聲測試方案

4、1無源探頭測量方案

大部分無源探頭X1檔的帶寬僅1M,對于噪聲來說帶寬太低。X10檔的帶寬為10M,但是X10會放大誤差,造成測量值不準確。所以不建議使用無源探頭進行噪聲測量。

4、2 同軸線測量方案

4、2、1 同軸線AC耦合方式測量

使用AC耦合方式測量時,需要將示波器輸入阻抗設置為50Ω。同時在同軸線中串入一個50Ω電阻。如下圖所示:

圖片

但是某些低帶寬的示波器中AC耦合只有1MΩ,這樣與前面的50Ω同軸線阻抗不匹配,因此需要在示波器的BNC端口在并接50Ω電阻用于阻抗匹配,如下圖所示:

圖片

1.jpg

4、2、2 同軸線DC耦合方式測量

使用DC耦合方式同樣設置示波器的輸入阻抗為50Ω,連接方式如下:

圖片

1.jpg

如上面所說,在DC50歐時有的示波器不支持設置很大的offset,為了獲得更大的示波器動態電壓范圍,可以添加隔直電容,利用電容的“隔直通交”特性濾除直流分量,就不再需要示波器設置offset。

圖片

電容的大小決定著低頻截止范圍,等效電路模型如下圖所示,C為隔直電容,R為示波器輸入阻抗,Vi為輸入信號,Vo為輸出阻抗。此時構成了高通濾波器,又稱低截止濾波器,只允許高于某一截止頻率的頻率通過,而大大衰減低頻的一種濾波器。

圖片

圖:加隔直電容后的高通濾波器等效電路

截止頻率:

圖片

假設 f 為輸入信號頻率,則有:

當f >> fL時,A ~VL ~ ≈1 ,表示信號經過濾波器可以無衰減進行傳遞;

當f << fL時,A VL ~ ≈ f/ fL~ ,表示信號經過濾波器后按照十倍頻的斜率衰減;

當f = f~L ~時,A VL = 0.707 ,表示信號經過濾波器后衰減0.707倍;

當 f /f ~L ~ =7時,A ~VL ~ = 0.99,表示信號經過濾波器后衰減0.01倍,即測試誤差為1%;

表 不同隔直電容對應的頻點

1.jpg

隔直電容可能不方便串入同軸線中,可以做一個隔直電容PCB,上面焊接電容,pcb的兩端分別連接同軸線和示波器。

1.jpg

4、3總結

圖片

4、測試條件設置

4、1 測試點的選擇

通常我們噪聲的測量點會選擇在受電端的濾波電容上,盡量選擇最靠近受電芯片的電容。

4、2 測試條件的選擇

盡量測試受電芯片在不同狀態下的噪聲,具體就是模擬出受電端在不同工作狀態下的sink電流變化。

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