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芯片驗證需要圍繞DUT做什么?

冬至子 ? 來源:ICer消食片 ? 作者:ICer消食片 ? 2023-06-12 17:38 ? 次閱讀

TestBench即測試平臺,是為了檢驗待測設計(design under test, DUT )而搭建的驗證環境。有了這個環境,我們就可以對DUT輸入 定向或隨機的激勵 ,以保證DUT的正確性。故驗證要做的事分為以下幾步:

1、生成各種各樣的輸入激勵

2、將輸入激勵傳遞到DUT上

3、DUT響應輸入激勵并輸出

4、檢查輸出與預期結果差異

5、發現功能錯誤后修改DUT

6、重復上述步驟收集覆蓋率

做個不太恰當的比喻,testbench就像一個書桌,你買來了一個鍵盤(DUT),你想要驗證它是不是正常工作,你就開始敲鍵盤檢查。你的十個手指就是 激勵 ,數據線和屏幕相連,數據線為 接口 ,屏幕是 記分板 ,鍵盤使用說明書為 參考模型

首先你把26個字母都敲了一遍( 定向測試 ),發現屏幕上也出現了26個字母,每個鍵都能沒毛病,基本功能驗證了;但是還不夠,你又組合著敲了**“** guan zhu dian zan”隨機測試 ),屏幕上突然出現****“**** fen xiang zai kan ”**** ,這時你就發現bug了,趕緊找設計人員來修改代碼。

細心的同學發現,隨機測試豈不是邊界很大,甚至”永無止境“?因此就有了 受約束的隨機激勵 。使用定向測試和受約束的隨機測試,最終使得功能覆蓋率趨于要求值。最終,鍵盤驗證完沒問題了,再教給后面的人做物理設計,比如鍵程長短、工藝面積、功耗分析等等,一套流程下來沒問題就拿去廠子代工了。

說完了這個有點尬的比喻,我們理解了testbench就是模擬設計所在的環境,以檢查RTL代碼是否符合設計規范的玩意,其內部是分好幾個組件的。那testbench具體有哪些組件呢?請看下圖(PPT畫的,不是很專業):

圖片

generator :產生不同的輸入激勵來驅動DUT

產生有效的數據,并發送給driver。

interface :用于連接testbench和DUT

如果一個設計包含成百上千個端口信號,那么連接、維護和重復利用這些信號就會很麻煩。如果將這些輸入輸出端口放到一塊組成一個接口,那么連接變得更加簡潔而不易出錯,后續添加新的信號更簡便,接口也便于重用。

driver :將激勵驅動到DUT

monitor檢測DUT的輸出

scoreboard :用于比較輸出與預期值

scoreboard上有與DUT相應的參考模型,反映了DUT的預期行為。如果DUT的輸出和參考模型的輸出不匹配,則設計中存在功能缺陷。

environment :包含以上所有的組件,便于復用

test :可以包含不同配置的環境

因此,為了驗證DUT這份RTL代碼,驗證要做的事是:

1)了解 spec ,即代碼的規格說明書,有結構模型、功能描述、信號端口、寄存器定義等,它是設計和驗證對接工作的橋梁。

2)制定 testplan ,一個完整的驗證計劃需要考慮的東西有很多,它為后續工作的進行提供了方向。

3)構建 testbench ,根據具體驗證需求選擇相應的組件,搭建出盡量可重用的驗證環境。

4)編寫 testcase ,根據之前定制的驗證計劃,coding相應的測試用例, debug fail case ,把全部case調試至 pass

5)收集 coverage ,跑regression回歸,根據覆蓋率來決定是否加case,直到滿足RTL freeze要求。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
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