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Buck變換器MOSFET開關過程分析與損耗計算

CHANBAEK ? 來源:開關電源應用筆記 ? 作者:憶若楓之塔 ? 2023-06-23 09:16 ? 次閱讀

前言:為了方便理解MOSFET的開關過程及其損耗,以Buck變換器為研究對象進行說明(注:僅限于對MOSFET及其驅動進行分析,不涉及二極管反向恢復等損耗。)

1Buck Converter

圖1所示為Buck變換器拓撲,其中Cin用于減小主功率電路的AC Loop,實際使用視Layout情況決定是否需要添加。

poYBAGSNBq6Ab2xYAALdb2lfvEI060.png

圖1 Buck變換器拓撲

2MOSFET開關時序

圖2所示為MOSFET的開關時序及相應VGS,IGS,VDS和IDS波形,其中:

QGS1:VDS下降之前MOSFET開始導通所需的電荷量。

QGS2:VDS下降之前MOSFET的柵極電壓從閾值電壓VGS(th)升到Miller平臺電壓VGS(miller)所需的電荷量。

QGD:VDS開始下降階段為MOSFET反饋電容CGD充電所需電荷量。
QSW:VGS從到達閾值電壓VGS(th)開始直到Miller平臺結束時柵極電容中的電荷量。

輸入電容:Ciss=CGS+CGD(CDS=0);

輸出電容:Coss=CGD+CDS(CGS=0);

反饋電容(反向傳輸電容):Crss=CGD。

CGS和CGD主要由柵極結構決定,CDS由垂直PN結的電容決定。




pYYBAGSNBsaAYuXMAAs-WiEAgb0163.png

圖2 MOSFET開關時序

3驅動電路等效框圖

圖3所示為MOSFET驅動電路的等效框圖,在每個開關周期中,所需的柵極電荷均會通過驅動器輸出阻抗(RGHO和RGLO)、外部柵極電阻RG以及MOSFET內部柵極網狀電阻RGHI。柵極電阻功率損耗與通過電阻傳輸電荷速度的快慢無關。

主要結合圖2和圖3將MOSFET開通和關斷過程各分為4個階段進行分析并計算相關損耗。

pYYBAGSNBtaAFsqrAAQ3jFAjd8c737.png

圖3 驅動電路等效框圖

1.開通過程。

第①階段:0~t0。此階段VGS電平從0開始上升至閾值電壓VGS(th),柵極電流IG主要給MOSFET的QGS1充電,極少部分流經QGD。此過程中VDS和IDS維持上個狀態(VDS==Vin,IDS=0)不變,故可稱為為開通延時。

第②階段:t0~t1。當t=t0時,MOSFET開始通流。IG持續流入QGS2和QGD中,VGS電壓逐漸升高直至t1時刻達到Miller平臺電壓VGS(miller)。與之伴隨的是IDS也逐漸增大至最高,但VDS依舊為高電平。因為IDS與VGS成正相關,所以此階段為MOSFET的線性區。

將第②階段中IG、VDS和IDS波形進行線性近似,則柵極驅動電流IG_②和所需時間T②=t1-t0分別為:

pYYBAGSNBweAUccGAABUVwcampA954.png

與此對應的開通所耗能量E②為:

pYYBAGSNBwqAPj8JAAAxa8ENsm0234.png

第③階段:t1~t2。此階段為Miller平臺的維持時間段,柵極電荷持續被充電使得VGS電壓穩定保持在VGS(miller),因此其具有足夠的能量使MOSFET承載完整的通態電流。在此階段大量的IG被轉移給QGD充電,使VDS快速下降。柵極驅動電流IG_③和所需時間T③=t2-t1分別為:

pYYBAGSNBx-AGSZmAABIVTQZZBo119.png

與此對應的開通所耗能量E③為:

pYYBAGSNByqAIImeAAAyKj3Bq5w681.png

以上可得整個開關周期的開關損耗PSW約為:

poYBAGSNBzWARBrVAAAqPTbVuAM847.png

注:MOSFET的開通或關斷需要對Ciss進行充電或放電,當電容上的電壓發生變化時,與之反映的是電荷數量的轉移,柵極電壓和所需電荷數量的關系一般可由datasheet中的柵極電荷與柵源電壓曲線獲得。柵極電荷是柵極驅動電壓的函數,VDS最高電壓會影響Miller平臺電荷,從而影響整個開關周期內所需的總柵極電荷。

第④階段:t2~t4。此階段中柵極電流IG通過對CGS和CGD充電(兩者分流),使得VGS從Miller平臺電壓逐漸上升至最終驅動電壓VGS(actual),其最終電平決定了開通期間的最終導通電阻RDS(on)。此階段ID依然保持恒定,但是由于RDS(on)的下降,VDS略有降低(VDS=IDS*RDS(on))。RDS(on)與驅動電壓和溫度關系如圖4所示。

可得開通階段的驅動器損耗PDRV_ON為:

poYBAGSNB1GAREEBAAAmuzYwNKk344.png

Buck變換器的MOSFET IDS(RMS)為:

pYYBAGSNB2WAHgQaAAAnijZ-bwE628.png

則通態PCON損耗為:


pYYBAGSNB3WAE34TAAA9V5Sc18k732.png

poYBAGSNB4CAdocRAAHVM-buhwE975.png

圖4RDS(on)曲線圖

2.關斷過程。

第①階段:t5~t7。Ciss電容放電,使得VGS電平從驅動電壓VGS(actual)降至Miller平臺電壓VGS(miller)。此階段柵極電流IG由Ciss自身提供,而非驅動器提供。IG流經CGS和CGD回到驅動器。隨著驅動電壓降低,RDS(on)增大,VDS略有上升,IDS保持不變。

第②階段:t7~t8。此階段與Miller平臺階段所對應,柵極電流IG為CGD的充電電流,因此VGS是保持恒定的。柵極電流由功率級旁路電容提供,并從IDS中減去,總IDS仍然等于負載電流。VDS從IDS*RDS(on)上升到最大電壓Vin。

第③階段:t8~t9。柵極電壓繼續從Miller平臺電壓VGS(miller)下降到閾值電壓VGS(th),絕大部分柵極電流IG來自于CGS,因為CGD在前一個階段就被反向充滿電了。此階段結束時,MOSFET又處在線性區,VGS下降導致IDS減小接近于0。

第④階段:t9~t10。此階段對Ciss完全放電,VGS進一步下降直至為0。與前一階段類似,柵極電流的大部分電流由CGS提供。MOSFET的VDS和IDS保持不變。

可得關斷階段的驅動器損耗為:

poYBAGSNB6-ANpdhAAApvJmGLFw540.png

以上可得整個開關周期的驅動器損耗PDRV約為:

pYYBAGSNB72AJYneAAA2gif5jCw231.png

需要強調的是,柵極驅動器的最重要特性在于處在Miller平臺區時的拉電流及灌電流能力。

此外,MOSFET的輸出電容損耗PCoss為:

poYBAGSNB9GAOpAfAAAVBMMWJxI297.png

至此,MOSFET在整個開關周期內相關損耗Ploss為:

pYYBAGSNB96AN3rZAAATOICEt9c573.png

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