在過去的 20 年里,遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)顯微鏡已經(jīng)跨越了以阿貝衍射極限為代表的一度難以逾越的分辨率障礙 ,開發(fā)多種成功的方法,如受激發(fā)射損耗(STED) 、單分子定位方法(PALM 和 STORM) ,結(jié)構(gòu)照明顯微術(shù)(SIM)和超分辨率光學(xué)波動(dòng)成像(SOFI),這要?dú)w功于圖像傳感器技術(shù)的改進(jìn)以及單分子光譜學(xué)的巨大進(jìn)步。
在這里,我們提出了一種新的顯微技術(shù),它利用 SPAD23陣列探測(cè)器的超高時(shí)間分辨率來測(cè)量熒光波動(dòng)引起的相關(guān)性。在 ISM 架構(gòu)中測(cè)量的這種相關(guān)性,然后被用作具有高達(dá) 4 倍增強(qiáng)橫向分辨率和增強(qiáng)軸向分辨率的超分辨率圖像的對(duì)比度。僅用幾毫秒的像素駐留時(shí)間就可以獲得高信噪比的超分辨率圖像。
單光子探測(cè)器陣列SPAD23技術(shù)源于代爾夫特理工大學(xué)和洛桑聯(lián)邦理工學(xué)院 7 年的研究工作和 6 項(xiàng)獨(dú)特技術(shù)。它是由23個(gè)六角形封裝的單光子雪崩二極管組成的探測(cè)器陣列(SPADs),具有更高的靈敏度和更低的噪聲。昊量光電這款單光子探測(cè)器陣列SPAD23在其寬探測(cè)譜段內(nèi)擁有>50%的探測(cè)效率,<100cps的暗計(jì)數(shù)水平,且因其獨(dú)特的半導(dǎo)體工藝及設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了前所未有的填充因子>80%。單光子探測(cè)器陣列SPAD23帶有時(shí)間標(biāo)記功能(Time Tagging)整體尺寸只有信用卡大小,是熒光顯微和量子信息領(lǐng)域的理想探測(cè)工具。
參數(shù) | 條件 | 代表 |
峰值檢測(cè)概率 | Vop=32V | 55%@520nm |
PDP>35%的波長(zhǎng)窗口 | Vop=32V | 440-660nm |
填充因子 | 平行光 | >80% |
暗計(jì)數(shù) | Vop=32V ;T=20℃ | <100cps |
DCR>1kcps的噪聲像素?cái)?shù) | Vop=32V | 1 |
死時(shí)間 | Vop=32V ;Vq=0.8V | 50ns |
時(shí)間抖動(dòng) | Vop=32V | 120ps |
后脈沖 | Vop=32V ;Vq=0.8V | 0.1% |
串?dāng)_ | Vop=32V | 0.14% |
每像素最大計(jì)數(shù)率 | 7.8Mcps | |
Time-tagging精度 | 20ps |
得益于SPAD23單光子陣列探測(cè)器的優(yōu)異性能,在與共聚焦顯微鏡搭配使用的過程中,增加了光的收集,最終獲得了更清晰、更明亮的圖像,其中還包含有關(guān)潛在分子功能、相互作用和環(huán)境的功能信息。
下圖提出了一種超分辨光學(xué)起伏圖像掃描顯微術(shù)的方案;設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)共焦顯微鏡的圖像平面中的針孔和單像素檢測(cè)器被替換為 23 像素的 SPAD 陣列,SPAD23單光子陣列探測(cè)器,增加了光線收集,提高了成像速度,減少了背景噪音,能夠在共聚焦顯微鏡中實(shí)現(xiàn)波動(dòng)對(duì)比度的超分辨率。當(dāng)掃描樣品臺(tái)時(shí),每個(gè)光子的檢測(cè)時(shí)間記錄在相連的 FPGA 電路中,并以數(shù)字形式存儲(chǔ)。然后分析該數(shù)據(jù),為陣列中的每個(gè)像素對(duì)產(chǎn)生第二個(gè)相關(guān)圖像,產(chǎn)生 232個(gè)分辨率增強(qiáng)為 2 的相關(guān)圖像。如下圖b所示分辨率的提高可歸因于兩個(gè)因素。首先,如在 ISM 中一樣,每個(gè)小探測(cè)器的點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)(PSF)是激發(fā)和其探測(cè) PSF 的乘積。此外,從兩個(gè)這樣的 ISM PSFs 相乘得到的相關(guān)對(duì)比度實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步的變窄。在對(duì)圖像進(jìn)行適當(dāng)?shù)囊苿?dòng)以使其相互重疊之后,這一過程被稱為像素重新分配,我們?cè)诳臻g頻率域中應(yīng)用傅立葉重新加權(quán)濾波的最后階段。理論上,最終 SOFISM 圖像的 PSF 具有超過衍射極限 4 倍的橫向分辨率增強(qiáng)。
圖C 展示了 SOFISM,對(duì)相對(duì)稀疏的單個(gè) CdSe/CdS/ZnS核/殼/殼量子點(diǎn)(QDs)的樣品進(jìn)行成像。除了由于衍射造成的模糊之外,標(biāo)準(zhǔn)的共焦圖像(CLSM)包含大量的噪聲,這是由于量子點(diǎn)的發(fā)射強(qiáng)度在亮和暗狀態(tài)(閃爍)之間的波動(dòng)造成的。生成標(biāo)準(zhǔn) ISM 圖像的分辨率提高了 2 倍,同時(shí)噪聲水平明顯降低,通過像素重新分配達(dá)到平均水平。或者,通過計(jì)算熒光信號(hào)的二階相關(guān)矩陣,然后重復(fù) ISM 過程的剩余部分(像素重新分配和傅立葉重新加權(quán)),產(chǎn)生分辨率提高 2.5 倍的更清晰的圖像。我們注意到,這個(gè)數(shù)字低于理論預(yù)測(cè)的數(shù)字,可能是由于探測(cè)器的有限尺寸、樣品振動(dòng)和其他技術(shù)方面的原因。
最后,還可以生成互相關(guān)階數(shù)高于 2 的 SOFISM 圖像;上圖C 展示了來自相同場(chǎng)景的 4 階相關(guān)圖像,產(chǎn)生橫向分辨率的 4倍增強(qiáng)。在類似的實(shí)驗(yàn)條件下,盡管檢測(cè)方案有些麻煩,SOFISM 已經(jīng)被證明在軸向分辨率上提供了 2 倍的改進(jìn),雖然一些成熟的超分辨率技術(shù)已經(jīng)被生命科學(xué)研究團(tuán)體采用并取得了巨大成功,但是 SPAD 陣列技術(shù)的最新進(jìn)展為可以針對(duì)特定需求提供超分辨率解決方案。SOFISM 可以提供一種實(shí)驗(yàn)上簡(jiǎn)單的方法,在合理的曝光時(shí)間內(nèi)提供顯著的 3D 分辨率增強(qiáng),并且沒有顯著的實(shí)驗(yàn)復(fù)雜性。
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