AEC-Q系列認(rèn)證是公認(rèn)的車規(guī)元器件的通用測試標(biāo)準(zhǔn)。IC設(shè)計(jì)企業(yè)想要進(jìn)入汽車電子領(lǐng)域,進(jìn)入汽車電子零部件供應(yīng)鏈,AEC-Q系列是必須獲得的認(rèn)證之一。
車用電子主要依據(jù)國際汽車電子協(xié)會(huì)(Automotive Electronics Council,簡稱AEC)作為車規(guī)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn),包括AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103(傳感器)、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動(dòng)組件),其測試條件比消費(fèi)型芯片規(guī)范嚴(yán)苛。
01、進(jìn)入汽車領(lǐng)域的必經(jīng)之路
克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子協(xié)會(huì)(AEC)。AEC-Q系列認(rèn)證雖然不是強(qiáng)制性的認(rèn)證制度,但目前已成為公認(rèn)的車規(guī)元器件的通用測試標(biāo)準(zhǔn),是進(jìn)入汽車領(lǐng)域的必經(jīng)之路。
要進(jìn)入車輛領(lǐng)域,打入各一級(jí)(Tier1)汽車電子大廠供應(yīng)鏈,必須取得兩張門票,第一張是由北美汽車產(chǎn)業(yè)所推的AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103(傳感器)、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動(dòng)組件)可靠性標(biāo)準(zhǔn);第二張門票,則要符合零失效(Zero Defect)的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)ISO/IATF 16949規(guī)范(Quality Management System)。
02、不同半導(dǎo)體產(chǎn)品有不同的AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)
芯片設(shè)計(jì)企業(yè)需以產(chǎn)品分類選擇適宜的標(biāo)準(zhǔn),如AEC-Q100(IC芯片)、AEC-Q101(半導(dǎo)體分立器件)、AEC-102(光電器件)、AEC-Q103(傳感器)、AEC-Q104(多芯片模塊)和AEC-Q200(被動(dòng)元器件)。若想進(jìn)入汽車領(lǐng)域,則必須取得汽車電子協(xié)會(huì)的AEC-Q可靠度標(biāo)準(zhǔn),以及零失效(Zero Defect)的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)IATF16949規(guī)范。
03、AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)要求嚴(yán)格,認(rèn)證難度大
車規(guī)級(jí)的電子元件對(duì)環(huán)境要求、抗振動(dòng)沖擊、可靠性和一致性等方面要求嚴(yán)格,所以必須采用更先進(jìn)的技術(shù)和更苛刻的測試程序。
以AEC-Q100為例,規(guī)范了測試7大類別:
1)測試群組A(環(huán)境壓力加速測試)
2)測試群組B(使用壽命模擬測試)
3)測試群組C(封裝組裝整合測試)
4)測試群組D(芯片晶圓可靠度測試)
5)測試群組E(電氣特性確認(rèn)測試)
6)測試群組F(瑕疵篩選監(jiān)控測試)
7)測試群組G(封裝凹陷整合測試),
只有完全通過7大類別共41項(xiàng)測試后,才能獲得AEC-Q100認(rèn)證。AEC-Q系列認(rèn)證,完成全部測試,平均最低時(shí)間也需要大概6個(gè)月左右。
04、進(jìn)化中的AE-Q標(biāo)準(zhǔn)
AEC-Q100、AEC-Q101和AEC-Q200這三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)是最早制訂的、也最常被引用的AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)。在AEC網(wǎng)站上的“文檔”頁面列出了37個(gè)標(biāo)準(zhǔn)和子標(biāo)準(zhǔn),其中七個(gè)被列為“新New”或“初始版本Initial release”。所以說AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)是在不斷進(jìn)化的,特別是隨著高級(jí)駕駛輔助系統(tǒng)(ADAS)和自動(dòng)駕駛等新技術(shù)的發(fā)展,標(biāo)準(zhǔn)還將保持這種持續(xù)更新的狀態(tài),以適應(yīng)新技術(shù)和應(yīng)用的需求。比如,專門為光電半導(dǎo)體optoelectronics, MEMS傳感器, 以及模組multichip modules制定的標(biāo)準(zhǔn):
.AEC-Q102:汽車應(yīng)用的光電半導(dǎo)體應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)
.AEC-Q103:MEMS壓力傳感器應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)
.AEC-Q104:汽車應(yīng)用的多芯片模塊(MCM)應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)聲明:文章圖片等版權(quán)歸原作者享有如侵聯(lián)刪
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