現在有如下圖所示的這樣一個需求，希望使用STM32芯片來實現。

橫軸表示時間，縱軸表示電壓【3.3v為限】，不同時刻的電壓輸出不一樣、持續(xù)時間也不盡相同。

此問題源于某高校STM32學習時的習題，這里拿出來一起交流探討下。方法不是唯一的，尤其基于不同STM32系列。這里盡量使用通用、常規(guī)的方法，算是拋磚引玉。

顯然，我們可以考慮使用STM32的DAC加TIMER以及片內其它資源加以實現。

對于這個實現我們可以分兩種方式完成，每一種方式同時也體現不同難度。

我們可以考慮下面兩種應用情形：

第一種方式：MCU除了做這一件事外，還做點別的，比方做按鍵響應、ADC采樣這些，整體上沒有太復雜的功能和要求。【中斷方式】

第二種方式：MCU的主要工作是別的而不再是這個輸出了，要求該輸出自啟動后不再需要CPU的參與，即由相應外設自行完成。【DMA方式】

對于第一種實現方式，我們可以用個TIMER作為時基，每到適當的計時點就通過TIMER中斷及時修改DAC的輸出值而改變輸出電壓。至于對DAC輸出寄存器賦值，可以直接在定時器中斷里操作，也可以先在定時器中斷里設置標志位后在主循環(huán)里實現修改，可以靈活決定。顯然，這樣操作也不會影響其它按鍵處理、ADC處理等。該方式的實現就介紹到這里，重點聊聊第二種方式。

對于第二種方式，顯然不能使用中斷，這里就得DMA出場了。因為人家要求該輸出自啟動后不再讓CPU參與。這里有兩個量都是變的，DAC的輸出值在變，不同DAC輸出所持續(xù)的時間也在變。這兩個變量都需要DMA幫忙完成，顯然DAC的輸出需要使用TIMER事件來觸發(fā)DMA，這里使用更新事件比較合理。那么，TIMER自身的數據更新又如何實現呢？我們可以考慮使用TIMER的比較事件來觸發(fā)另外的DMA請求以更新自己。

下面我使用STM32F4系列芯片的TIM1及DAC來實現第二種需求。【當然，使用STM32其它系列，比如G4,H5,H7,U5等都可以】

TIM1的更新事件觸發(fā)DMA，修改DAC的輸出寄存器的值以改變輸出。另外，選擇TIM1通道1的比較事件觸發(fā)DMA【哪個通道比較事件不重要，能觸發(fā)DMA即可】，使用TIMER DMA Burst傳輸同時修改TIM1的ARR,RCR,CCR1三個寄存器的值，此處RCR始終用0值。因為這里要修改CCR1的值，RCR夾在ARR和CCR1寄存器中間，做Burst傳輸時RCR必須每次被使用。【這里CCR1的值其實也可以固定不變。我是每次取ARR的中間值作為CCR1的值，不是必須的。主要是考慮到有些應用場合可能需要動態(tài)修改CCR值，在此特意拓展下TIMER Burst傳輸的應用介紹。】

下面是關于TIM1時基參數的初始配置，其中ARR和CCR1值我是隨便設定的，算是個過渡值，目的就是產生更新事件和比較事件，之后都會按照代碼中預定的數據運行。

下面是有關TIM1的基于更新事件和通道1比較事件的DMA配置。

下面截圖是關于DAC的CubeMx配置，比較簡單，開啟其輸出功能即可。

下面截圖里的數組DacOutData[10]存放不同時刻DAC輸出所對應的數據。數組PulseData3[30]存放10次DMA Burst 傳輸用到的數據。顯然這兩個數組數據在使用時間上要匹配，否則輸出波形對不了。

下面是具體的用戶代碼，使用CubeMx進行配置和STM32 HAL庫函數，以源碼形式放在下面，供有需要的參考、使用。

HAL_DMA_Start_IT(&hdma_tim1_up, (uint32_t) DacOutData, 
 (uint32_t)&hdac.Instance- >DHR12R1, 10);


  __HAL_TIM_CLEAR_FLAG(&htim1,TIM_FLAG_UPDATE);
  __HAL_TIM_CLEAR_FLAG(&htim1,TIM_DMA_CC1);


  HAL_TIM_DMABurst_MultiWriteStart(&htim1, TIM_DMABASE_ARR, 
  TIM_DMA_CC1,(uint32_t *)PulseData3,   
  TIM_DMABURSTLENGTH_3TRANSFERS,10*3);


  __HAL_TIM_ENABLE_DMA(&htim1, TIM_DMA_UPDATE);


  HAL_DAC_Start(&hdac,  DAC_CHANNEL_1);


 __HAL_TIM_ENABLE(&htim1);