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一、基本概念
了解LDO熱性能之前我們先了解以下的幾個(gè)概念:
①工作結(jié)溫Tj(Operating Junction Temperature Range)工作狀態(tài)時(shí)內(nèi)核溫度,一般的IC結(jié)溫范圍在(-40~125℃)或(-40~80℃)。
② 環(huán)境熱阻系數(shù)(θJA)指內(nèi)核到外部環(huán)境(空氣)的熱阻系數(shù)。
③ 封裝熱阻系數(shù)(θJC)指內(nèi)核到封裝表面的熱阻系數(shù)。
Tj==Ta+( θJA × P) =Tc+(θJC × P),其中Ta為環(huán)境溫度,Tc為封裝表面溫度,P為IC耗散功率,即結(jié)溫等于環(huán)境溫度+環(huán)境中熱阻系數(shù)*功率,或者結(jié)溫等于封裝表面溫度+封裝熱阻系數(shù)熱阻系數(shù)*功率。
二、LDO的熱性能與什么有關(guān)?
由基本概念我們可以得出:LDO的熱性能與封裝、功率、運(yùn)行環(huán)境溫度有關(guān)。下面我們舉例分析。
我們以薩科微公司的AMS1117-3.3為例,其數(shù)據(jù)手冊(cè)提供的封裝熱阻系數(shù)如下:
圖1 SOT-89封裝
可以看出不同的封裝熱阻系數(shù)不同,由Tj==Ta+( θJA × P )得出,相同功率下,熱阻系數(shù)越小,內(nèi)核溫度越低,也就越安全。同理可以得出,功率越小、環(huán)境溫度越低內(nèi)核越安全。
例如,TO-252封裝的AMS1117-3.3輸入電壓5V,輸出功率1A,則P=(5-3.3)*1=1.7W,溫升=θJA × P=125*1.7=212.5℃,即使在常溫下內(nèi)核溫度等于212.5+25=237.5℃,遠(yuǎn)高于其內(nèi)核最高溫度125℃,意味著LDO會(huì)損壞。反過來計(jì)算,在5V輸入電壓、常溫環(huán)境下,長(zhǎng)時(shí)間輸出電流不能大于(125-25)/125/(5-3.3)=0.47A,即電流不能超過0.47A。
考慮到PCB空間,實(shí)際可能使用體積比TO-252更小的SOT223或SOT89封裝,此時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間工作電流要更小,需要權(quán)衡使用。
三、如何提高LDO的熱性能?
① 選擇合適的封裝,在PCB空間允許的情況下盡量選取大封裝LDO。
② 降低輸入與輸出壓差,在滿足LDO最低工作壓降(電源之LDO-2. LDO的壓降)的情況下,可以在電源Vin與LDO輸入引腳之間串聯(lián)一個(gè)功率合適的電阻消耗部分電壓。
③有必要的情況下可以在LDO表面貼裝散熱器。
④做好PCB散熱,LDO布局時(shí)遠(yuǎn)離其他發(fā)熱器件;增大LDO接地平面、Vin、Vout平面的面積。
審核編輯:湯梓紅
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