安捷倫4279A流量計
附加功能:

用于執行晶片摻雜分布的C-V測量。
變容二極管的C-V特性和分類。
射頻混頻器和開關二極管的電容測試。
為進貨檢驗施加DC偏壓測試電容器。
測量時間:10毫秒/20毫秒/30毫秒
測量精度:0.1%(20毫秒)
內部DC偏置:0至+/-38V，0.1%

是德科技安捷倫HP 4279A 1 MHz C-V測量儀為測量半導體的電容與偏置電壓特性提供了提高質量和通量的最佳解決方案。是德科技安捷倫HP 4279A測量范圍為0.00001pF至1280.00pF的電容，基本精度為0.1%，顯示分辨率為6位數，同時掃描DC偏置電壓。由于低偏置電壓不確定性，內部可編程DC偏置掃描源在+/-38V范圍內具有0.1%的電壓精度，可確保極低的測量誤差。這使得是德科技安捷倫HP 4279A非常適合變容二極管、MOS二極管等的精確表征和測試。測量時間可從10ms、20ms和30ms/meas三種模式中選擇，以最大限度地提高生產率。是德科技安捷倫HP 4279A的快速測距和高速GP-IB數據傳輸能力減少了測試時間。自動偏置極性控制功能允許為被測器件快速選擇正確極性的偏置電壓。這一新功能簡化了進貨/出貨檢驗中的樣品手動測試，并為自動測試系統提供了一種簡單的極性控制方法。

審核編輯 黃宇