蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀(guān)結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀(guān)察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀(guān)區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析。

蔡司代理三本精密儀器小編今天為您介紹蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡制備要求：

1. SEM樣品要求

(1)塊體樣品：金屬塊體樣品可用導(dǎo)電膠直接固定在樣品臺(tái)上，確保樣品與樣品臺(tái)良好接觸;導(dǎo)電性差或不導(dǎo)電的樣品需盡量將塊狀樣品做小，并在表面引導(dǎo)電膠至樣品臺(tái)，可在低電壓模式下觀(guān)察，也可進(jìn)行表面噴金或噴碳處理后再進(jìn)行觀(guān)察。

(2)粉末樣品：先將導(dǎo)電膠帶粘在樣品臺(tái)上，再均勻地把粉末樣品撒在上面，用洗耳球吹去未粘牢的粉末，注意樣品量不要過(guò)多。

(3)截面樣品：將樣品夾持在截面樣品臺(tái)上，需將樣品的觀(guān)察面與樣品臺(tái)頂面持平。

(4)所有樣品必須做干燥處理;孔隙率大的樣品在進(jìn)入電鏡前需在真空條件下儲(chǔ)存或提前進(jìn)行紅外干燥處理。

2. EBSD樣品要求：

(1)尺寸要求：樣品應(yīng)小于20 mm×20 mm，厚度超過(guò)10 mm需使用截面樣品臺(tái)進(jìn)行固定。

(2)表面要求：表面平整、清潔、無(wú)殘余應(yīng)力，導(dǎo)電性好。可通過(guò)機(jī)械拋光、電解拋光或離子拋光進(jìn)行制樣。

3. 拉伸樣品要求：

(1)尺寸要求：樣品長(zhǎng)度≤53mm，夾持端寬度≤10mm，厚度≤2.5mm，如樣品斷裂伸長(zhǎng)率較大，應(yīng)將樣品長(zhǎng)度盡量減小。

(2)其他要求：觀(guān)察拉伸狀態(tài)下的組織形貌需將樣品表面做拋光腐蝕處理;EBSD測(cè)試需按照上述EBSD樣品要求進(jìn)行表面處理;測(cè)試溫度范圍室溫至500℃。