前言

本系列整理數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)的相關(guān)知識(shí)體系架構(gòu)，為了方便后續(xù)自己查閱與求職準(zhǔn)備。對(duì)于FPGA和ASIC設(shè)計(jì)中，避免使用Latch（鎖存器）一直是個(gè)繞不開的話題，本文結(jié)合網(wǎng)上的文章，并根據(jù)示例介紹如何在實(shí)際設(shè)計(jì)中避免Latch。

鎖存器：組合電路與時(shí)序電路的橋梁

在網(wǎng)上看到一個(gè)帖子說了這樣一個(gè)說辭，我覺得很不錯(cuò)，分享給大家：鎖存器不就是組合邏輯電路與時(shí)序邏輯電路的橋梁么？

其實(shí)仔細(xì)想想也是，之前功利性的學(xué)習(xí)根本沒有仔細(xì)考慮為什么拿到數(shù)電基礎(chǔ)的書后，目錄設(shè)計(jì)總是按照組合邏輯、鎖存器、時(shí)序邏輯去安排章節(jié)。

現(xiàn)在思考后我覺得很有道理（聽我開始瞎掰）最初數(shù)字電路的組合邏輯解決了很多問題，但是卻沒有很好的解決如何將這個(gè)狀態(tài)做存儲(chǔ)，有些設(shè)計(jì)情況下不得不將一些信號(hào)的狀態(tài)存儲(chǔ)，所以就使用邏輯門構(gòu)建了鎖存器的概念，設(shè)計(jì)的靈活性得到進(jìn)一步提升，但是同時(shí)又存在了另外一個(gè)問題，鎖存器就像一個(gè)閥門，但是由于這個(gè)閥門打開后內(nèi)部是隨時(shí)可以變化的，這也給如何檢驗(yàn)設(shè)計(jì)的正確性帶來了難度，所以急需一個(gè)器件或者設(shè)計(jì)去解決這個(gè)問題，進(jìn)而有了時(shí)序邏輯電路中觸發(fā)器的概念，觸發(fā)器也就隨著 “需求和發(fā)展” 出現(xiàn)。

因此，組合邏輯、鎖存器、時(shí)序邏輯，這樣安排更像說明了數(shù)字電路的發(fā)展和迭代的歷史，雖然鎖存器的一般內(nèi)容比較少，但不可否認(rèn)，鎖存器就是組合邏輯電路與時(shí)序邏輯電路的橋梁。

鎖存器概念

鎖存器（ latch）是電平觸發(fā)的存儲(chǔ)單元，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的狀態(tài)取決于輸入時(shí)鐘（或者使能）信號(hào)的電平值，僅當(dāng)鎖存器處于使能狀態(tài)時(shí)，輸出才會(huì)隨著數(shù)據(jù)輸入發(fā)生變化。

鎖存器不同于觸發(fā)器，鎖存器在不鎖存數(shù)據(jù)時(shí)，輸出端的信號(hào)隨輸入信號(hào)變化，就像信號(hào)通過一個(gè)緩存器一樣；一旦鎖存信號(hào)起鎖存作用，則數(shù)據(jù)被鎖住，輸入信號(hào)不起作用。因此鎖存器也稱為透明鎖存器， 指的是不鎖存時(shí)輸出對(duì)輸入是透明的。

鎖存器的分類包括 RS 鎖存器、門控 RS 鎖存器和 D 鎖存器， 此處介紹下 D 鎖存器。

D 鎖存器就是能夠?qū)⑤斎氲膯温窋?shù)據(jù) D 存入到鎖存器中的電路，D鎖存器的電路圖如下圖所示。

image-20220822213310864

從 D 鎖存器的電路圖中可以看出，該電路主要是由兩個(gè)部分組成，第一個(gè)部分是由 G1、 G2兩個(gè)與非門組成的 RS 鎖存器，第二個(gè)部分是由 G3、 G4 兩個(gè)與非門組成的控制電路。C 為控制信號(hào)，用來控制 G3 和 G4 的激勵(lì)輸入。

下面來分析下 D 鎖存器的工作原理：

當(dāng)控制信號(hào) C=0 時(shí)，根據(jù)與非門的邏輯定律，無論 D輸入什么信號(hào)， RD 和 SD 信號(hào)都會(huì)輸出為1。RD 和 SD 都同時(shí)等于 1 的話，鎖存器的輸出端 Q 將維持原狀態(tài)不變。

當(dāng)控制端 C=1 時(shí)，如果此時(shí) D=0，SD 就等于1， RD 就等于 0，根據(jù) RS 鎖存器的邏輯規(guī)律，電路的結(jié)果就為 0 狀態(tài)；如果 D =1，那么 RD 就等于 1，SD 也就等于 0，鎖存器的結(jié)果就為 1 狀態(tài)，也就是說，此時(shí)鎖存器的狀態(tài)是由激勵(lì)輸入端 D 來確定的，D 等于什么，鎖存器的狀態(tài)就是什么。

根據(jù)上面的描述，可以推出 D 鎖存器的特性表， Qn 是指觸發(fā)器當(dāng)前邏輯狀態(tài)也即觸發(fā)前的狀態(tài)， Qn+1 是指觸發(fā)后的狀態(tài)。

通過這個(gè)表格，可以看出，當(dāng) C 為 1 時(shí)， D 的狀態(tài)和 Qn+1 的狀態(tài)完全一樣，當(dāng) D=0 時(shí)， Qn+1=0，當(dāng) D=1 時(shí)， Qn+1=1。進(jìn)一步畫出 D 鎖存器的波形圖。

image-20220822213545151

從 D 鎖存器的波形圖可以看出， D 是鎖存器的輸入信號(hào)， C 是鎖存器的控制信號(hào)，Q 是鎖存器的輸出信號(hào)。當(dāng)控制信號(hào) C 為高電平時(shí)，輸出信號(hào) Q 將跟隨輸入信號(hào) D 的變化而變化。

為什么要避免鎖存器？（Latch的危害）

前面雖然提到鎖存器是組合邏輯電路與時(shí)序電路的橋梁，但是其靈活性很難保證在設(shè)計(jì)中進(jìn)行精準(zhǔn)分析。在實(shí)際使用中，Latch 多用于門控時(shí)鐘（clock gating）的控制，在絕大多數(shù)設(shè)計(jì)中我們要避免產(chǎn)生鎖存器。它會(huì)讓設(shè)計(jì)的時(shí)序出問題，并且它的隱蔽性很強(qiáng)， 新人很難查出問題。

毛刺敏感：鎖存器最大的危害在于不能過濾毛刺和影響工具進(jìn)行時(shí)序分析。這對(duì)于下一級(jí)電路是極其危險(xiǎn)的。這也就是為什么寄存器不用電平觸發(fā)而選擇使用邊沿觸發(fā)的原因。所以，只要能用觸發(fā)器的地方，就不用鎖存器。

不能異步復(fù)位： 由于其能夠儲(chǔ)存上次狀態(tài)的原因，上電后Latch處于不定態(tài)。

占用更多資源： 對(duì)于絕大多數(shù)當(dāng)前主流的FPGA架構(gòu)資源中，基本是不包含Latch，這也就意味著需要更多的資源去實(shí)現(xiàn)搭建Latch。在早些版本的某些FPGA內(nèi)部包含了Latch。

使時(shí)序分析變得復(fù)雜： 鎖存器沒有時(shí)鐘信號(hào)，只有數(shù)據(jù)輸入和使能以及輸出 q 端，沒有時(shí)鐘信號(hào)也就說明沒有辦法對(duì)這種器件進(jìn)行時(shí)序分析， 這個(gè)在時(shí)序電路里面是非常危險(xiǎn)的行為，因?yàn)榭赡芤饡r(shí)序不滿足導(dǎo)致電路功能實(shí)現(xiàn)有問題。

額外的延時(shí)： 在ASIC設(shè)計(jì)中，鎖存器也會(huì)帶來額外的延時(shí)和DFT，并不利于提高系統(tǒng)的工作頻率。

結(jié)構(gòu)完整就能避免Latch？

關(guān)于如何避免，可能大多數(shù)的人首先想到的是組合邏輯電路中，在if-else結(jié)構(gòu)中缺少else或case結(jié)構(gòu)中缺少default所導(dǎo)致，所以中要求if-else結(jié)構(gòu)和case結(jié)構(gòu)要寫完整。但結(jié)構(gòu)完整就真能完全避免Latch的產(chǎn)生嗎？

moduledemo(
inputwire[1:0]en,
outputreg[3:0]latchtest
);

always@(*)begin
if(en==1)begin
latchtest='d6;
end
elseif(en==2)begin
latchtest='d3;
end
elsebegin
latchtest=latchtest;
end
end
endmodule

圖上示例這種情況，雖然邏輯完整但也會(huì)生成latch，其原因是針對(duì)該邏輯信號(hào)進(jìn)行了保持，構(gòu)成了邏輯環(huán)路。

latch測(cè)試

同樣下圖中的設(shè)計(jì)也會(huì)產(chǎn)生鎖存器，原因是雖然邏輯完備但是沒有針對(duì)單一信號(hào)進(jìn)行完備邏輯的處理，在部分邏輯信號(hào)進(jìn)行了保持，所以邏輯仍生成了latch。

//demo1
reglatchtest1,latchtest2;
always@(*)begin
if(enable)
latchtest1=in;
else
latchtest2=in;
end

下面的設(shè)計(jì)是我認(rèn)為比較隱晦的latch。乍一看，分支完備，case語句也有default，但在EDA工具進(jìn)行分析后仍出現(xiàn)latch

moduledemo(
inputwire[1:0]en,
outputreg[3:0]latchtest
);

always@(*)begin
case(en)
0:latchtest[0]='d1;
1:latchtest[1]='d1;
2:latchtest[2]='d1;
3:latchtest[3]='d1;
default:latchtest='d1;
endcase
end

分析其根本原因仍然是，針對(duì)相關(guān)的分支條件該信號(hào)的部分bit位進(jìn)行了保持。

隱晦的latch設(shè)計(jì)

此外，三目運(yùn)算符在組合邏輯設(shè)計(jì)時(shí)進(jìn)行邏輯保持，同樣會(huì)引入latch。

鎖存器產(chǎn)生的根本原因

生成latch的例子很多，從例子來看不論是單個(gè)信號(hào)或者是一個(gè)信號(hào)某些位，只要在組合邏輯設(shè)計(jì)時(shí)他存在邏輯保持都有可能生成latch，但說鎖存器產(chǎn)生的根本原因，即為代碼設(shè)計(jì)時(shí)的邏輯：需要在組合邏輯中避免保持的操作。當(dāng)組合邏輯需要保持時(shí)，就會(huì)綜合出鎖存器。

避免Latch的解決方法

整理常見出現(xiàn)組合邏輯保持的情況，也即能得到避免生成latch的相關(guān)方法。

if else分支結(jié)構(gòu)不完整

組合邏輯中case結(jié)構(gòu)不完整

組合邏輯設(shè)計(jì)時(shí)使用三目運(yùn)算符存在邏輯保持

使用原信號(hào)進(jìn)行賦值或者使用原信號(hào)進(jìn)行條件判斷

敏感信號(hào)列表不完整

所以避免latch的方法就是，要對(duì)以上或者其他未列舉的組合邏輯中存在邏輯保持的情況進(jìn)行改寫和規(guī)避，即可避免頭疼的latch生成。簡單來說就是：優(yōu)化代碼邏輯，避免組合邏輯的邏輯保持。 當(dāng)遇到邏輯保持的情況時(shí)，要對(duì)存在邏輯保持的分支進(jìn)行補(bǔ)全，或者使用賦初值的方法進(jìn)行覆蓋邏輯保持時(shí)的情況。

//補(bǔ)全條件分支結(jié)構(gòu)
always@(*)begin
if(en)
dout=in;
else
dout='d0;
end

//賦初值
always@(*)begin
dout='d0;
if(en)
dout=data;//如果en有效，改寫q的值，否則q會(huì)保持為0
end

必要的邏輯保持怎么處理？

可能對(duì)于有些情況無法完全避免掉組合邏輯設(shè)計(jì)的邏輯保持，對(duì)于這種情況，可以在這個(gè)組合邏輯路徑中插入一級(jí)寄存器，寄存器的輸出替代原來邏輯保持的部分，示例如下：

wire[DATA_WIDTH-1:0]accsum_in=(ab_sum_valid)?sum_in:dout;
always@(posedgeclkornegedgerst_n)begin
if(rst_n=='d0)begin
dout<=?'d0;
?????end
?????else?if(adder1_outvld?==?1)begin
???????dout?<=?sum_in?;
?????end
???end