如果你還在用“笨方法”一個(gè)節(jié)點(diǎn)一個(gè)節(jié)點(diǎn)地檢查電路中是否有floating的gate，那么你真的該仔細(xì)閱讀一下這次的內(nèi)容，并嘗試在項(xiàng)目中使用文中介紹的方法進(jìn)行floating gate檢查。

ADE Assembler介紹

ADE Assembler是一個(gè)交互式的、能同時(shí)進(jìn)行多個(gè)仿真的集成環(huán)境，旨在將設(shè)計(jì)的所有部分結(jié)合在一起，以開始圍繞制造的設(shè)計(jì)。

在這種環(huán)境中，用戶可以合并設(shè)計(jì)的多個(gè)模塊測試，包括變量、器件參數(shù)、工藝角、檢查和斷言以及它們的規(guī)范等，每個(gè)測試都可以有獨(dú)立的設(shè)置內(nèi)容。

ADE Assembler簡單理解可以認(rèn)為是ADE XL的一個(gè)升級(jí)版本，自然包含不少新功能，其中一項(xiàng)：circuit checks便是接下來要使用的功能。

circuit check分成動(dòng)態(tài)檢查（dynamic check）和靜態(tài)檢查（static check）兩種，靜態(tài)檢查利用拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)，不需要運(yùn)行瞬態(tài)仿真，動(dòng)態(tài)檢查需要運(yùn)行瞬態(tài)仿真，接下來就需要利用動(dòng)態(tài)檢查實(shí)現(xiàn)電路中floating gate的檢查。

為什么要檢查floating gate 為什么要大費(fèi)周章檢查floating gate呢？原因很簡單，電路中存在floating gate會(huì)產(chǎn)生很多不確定性影響。 最常見的是高阻節(jié)點(diǎn)處floating gate導(dǎo)致電路下電后漏電，有很多人通過電路下電后漏電情況間接判斷電路中是否存在floating gate. 但是通過漏電間接檢查電路中是否存在floating gate并不十分可靠，因?yàn)橛行┍容^隱蔽的、可能存在漏電風(fēng)險(xiǎn)的高阻節(jié)點(diǎn)處floating gate通過這種方法可能檢查不到，所以推薦使用下面介紹的方法。 使用ADE Assembler檢查floating gate

注意：ADE Assembler是IC617及其之后版本的Cadence IC套件才有的工具，所以使用前需要先確認(rèn)一下工具是否需要升級(jí)。

檢查floating gate使用dynamic check，需要運(yùn)行瞬態(tài)仿真，所以，檢查結(jié)果體現(xiàn)的是在瞬態(tài)仿真過程中電路存在的floating gate, 通常會(huì)檢查電路下電后是否存在floating gate，下面以此為例。

首先用ADE L仿真電路的下電過程，需要采用瞬態(tài)仿真，其它操作流程沒有特別需要注意的地方，確認(rèn)仿真成功運(yùn)行之后，保存ADE L的設(shè)置，留作在ADE Assembler中使用。

以上是仿真帶隙基準(zhǔn)電路的下電過程，從仿真波形可以看出，電路正常工作一段時(shí)間之后被下電，包含了完整的工作過程和下電過程。

在原理圖編輯界面，選擇：Launch->ADE Assembler，根據(jù)實(shí)際情況選擇「Create」或者「Open」選項(xiàng)，然后一路確認(rèn)，即可啟動(dòng)ADE Assembler工具。

打開ADE Assembler界面如上圖所示，基本與ADE XL一致，IC617和IC618界面也很相近，略有不同，但是不影響使用。

在左側(cè)Data View的最下面，有一個(gè)Checks/Asserts項(xiàng)目，這就是電路檢查項(xiàng)目，首先添加test設(shè)置，只需要load之前ADE L仿真保存的state即可。

接下來，勾選并展開Checks/Asserts選項(xiàng)，點(diǎn)擊「Click to edit checks」，開始設(shè)置電路檢查項(xiàng)目。

操作完成之后跳轉(zhuǎn)到另一個(gè)窗口，并自動(dòng)打開Checks/Asserts Editor，下面簡單介紹一下該窗口的內(nèi)容，部分截圖來自Cadence手冊。

上圖中「setting」所指的區(qū)域包含對Checks的一些操作，比如：保存、刪除、增加檢查等。

接下來點(diǎn)擊上圖中紅色感嘆號(hào)處的圖表，彈出如下面所示的對話框，包含各種檢查以及各種檢查對應(yīng)的具體細(xì)節(jié)。

依次選擇：Circuit Checks-Dynamic->Dynamic HighZ Node Check，然后結(jié)束操作，可以看到左側(cè)會(huì)多出一些信息。

左側(cè)信息欄內(nèi)按照下圖所示填寫內(nèi)容即可，主要注意兩個(gè)地方，第一個(gè)是Node一欄，可以按照需要選擇檢查的信號(hào)，但是推薦檢查所有信號(hào)，在里面填入「*」.

在Fanout一欄，根據(jù)檢查類型選擇gate或者bulk，即指定仿真器檢查floating gate或者floating bulk，如果沒有特別需要也可以選擇all，最后保存設(shè)置，并返回最初的ADE Assembler界面。 接下來進(jìn)行輸出信息設(shè)置，在Output Setup界面，選擇：Add new output->your test name->Violation Filter，添加違例設(shè)置。

在Details一欄下面雙擊，會(huì)彈出三個(gè)可選框，具體內(nèi)容有興趣的同學(xué)可以查看一下Cadence手冊，所有值保持默認(rèn)即可，也可以根據(jù)具體檢測內(nèi)容靈活選擇，小目同學(xué)的設(shè)置如上圖所示。 完成上面的設(shè)置之后，運(yùn)行仿真，在運(yùn)行仿真前記得勾選左側(cè)Checks/Asserts選擇框，并將不必要的項(xiàng)目取消選擇。

仿真完成之后，通過結(jié)果查看器檢查電路中存在的違例，查看結(jié)果過程中，通過點(diǎn)擊鏈接可以打開原理圖直接查看違例情況以及對于的瞬態(tài)波形。

在檢查設(shè)置時(shí)，F(xiàn)anout一項(xiàng)小目同學(xué)選擇gate，所以上面結(jié)果顯示：被檢查的電路存在9個(gè)floating gate的違例，我們可以通過點(diǎn)擊查看具體違例產(chǎn)生的時(shí)間、對應(yīng)的節(jié)點(diǎn)和電路波形。

根據(jù)結(jié)果確定電路中相應(yīng)節(jié)點(diǎn)是否存在隱患，根據(jù)實(shí)際情況對電路進(jìn)行修改，添加高阻節(jié)點(diǎn)放電通路等。

從結(jié)果來看，檢查中報(bào)出的floating gate隱患主要是該電路中未添加gate的power down電路，所以導(dǎo)致電路下電后存在floating gate，該隱患可能導(dǎo)致電路下電后異常漏電。

審核編輯：湯梓紅