季豐電子新熱場電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像
季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時，快速獲取更高清晰度的圖像。
同時，經優化和增強的Inlens探測器可高效地采集信號，幫助客戶快速獲取清晰的圖像，并使樣品損傷降至更低；在低電壓下擁有更高的信噪比和更高的襯度，二次電子圖像分辨率1kV達0.9nm，500V達1.0nm，無需樣品臺減速，即可進行分析。
設備規格指標
1、分辨率：15 kV時0.6nm；1 kV時 0.9nm (借助串聯減速功能選項)
2、加速電壓：0.02-30 kV 連續可調
3、放大倍數：×20-2,000K
4、探針電流：3pA-20nA
能譜與超級能譜
1、能譜儀(EDS) Oxford EDS System（UltimMax80）
2、EBSD Oxford EBSD System（Symmetry）
拍照效果
1、對于導電性差的有機物有很好的成像效果；
2、熱場SEM對碳化硅注入P/N結的成像要比冷場SEM更新清楚。
審核編輯：彭菁
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原文標題：季豐電子新引入熱場電子顯微鏡—G500
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