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LGA封裝芯片焊接失效

新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 來(lái)源: 新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 作者: 新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 2023-09-28 11:42 ? 次閱讀

NO.1 案例背景

某攝像頭模組,在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良失效,經(jīng)過(guò)初步的分析,判斷可能是LGA封裝主芯片異常。

NO.2 分析過(guò)程

#1 X-ray分析

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樣品#1

wKgZomUU9hCAVqz8AAPpd03h9XU825.jpg

樣品#2

測(cè)試結(jié)果:兩個(gè)失效樣品LGA焊接未發(fā)現(xiàn)明顯異常。

#2 染色分析

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wKgaomUU9hSAZEYkAAJX_AOGRNM320.jpg

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測(cè)試結(jié)果:樣品1將LGA染色試驗(yàn)剝離后,發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)多數(shù)存在錫量較少的現(xiàn)象,焊接面積小;少數(shù)呈現(xiàn)為無(wú)焊錫結(jié)合,可以確認(rèn)為虛焊不良。

#3 斷面分析

wKgZomUU9haAAEklAAMIRCUg918227.jpg

錫少導(dǎo)致的未焊錫

wKgaomUU9heALjUBAAKti3xp2Ts629.jpg

僅有部分焊接


測(cè)試結(jié)果:樣品2進(jìn)行斷面分析,LGA多處虛焊不良與焊盤(pán)錫量少,呈虛焊現(xiàn)象。

#4 SEM分析

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wKgaomUU9hmACcjVAATVXvQCWmQ352.jpg

測(cè)試結(jié)果:對(duì)失效焊點(diǎn)進(jìn)行SEM分析,PCB焊盤(pán)上已形成IMC層,焊盤(pán)沾有極少量焊錫,器件焊盤(pán)無(wú)焊錫附著。

wKgZomUU9hqAPCVAAAYTPIxA3tY612.jpg

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測(cè)試結(jié)果:存在明顯錫少。

#5 EDS分析

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wKgaomUU9h2ABrXvAAWMf_o0kd0839.jpg

測(cè)試結(jié)果:對(duì)虛焊焊點(diǎn)進(jìn)行EDS分析,未見(jiàn)明顯異常元素。

N0.3 分析結(jié)果

通過(guò)染色試驗(yàn)、斷面分析和SEM分析,EDS分析判斷引起LGA焊接失效的主要原因?yàn)椤a膏量不足導(dǎo)致底部焊接虛焊。

NO.4 改善方案

1.印刷鋼網(wǎng)開(kāi)口設(shè)計(jì)與印刷制程工藝參數(shù)改善;

2.LGA芯片貼裝壓力驗(yàn)證。

騰昕檢測(cè)有話說(shuō):

本篇文章介紹了LGA封裝芯片焊接失效。如需轉(zhuǎn)載本篇文章,后臺(tái)私信獲取授權(quán)即可。若未經(jīng)授權(quán)轉(zhuǎn)載,我們將依法維護(hù)法定權(quán)利。原創(chuàng)不易,感謝支持!

騰昕檢測(cè)將繼續(xù)分享關(guān)于PCB/PCBA、汽車(chē)電子及相關(guān)電子元器件失效分析、可靠性評(píng)價(jià)、真?zhèn)舞b別等方面的專(zhuān)業(yè)知識(shí),點(diǎn)擊關(guān)注獲取更多知識(shí)分享與資訊信息

審核編輯 黃宇

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