兆易創新科技有限公司對“一種NAND閃存芯片的測試樣本”申請專利（專利稅公告為10月10日，專利稅公告為cn108242252b。

根據專利摘要，本發明實際公開了nand閃存芯片的測試樣本，測試樣本由多個相同的樣本區域組成，每個樣本區域包含多個相鄰的數據塊。相鄰的幾個數據塊會測試不同的擦除次數。在多個相同的樣本區域中，任意兩個相鄰的樣本區域之間的間隔預先設定相鄰數據塊的數量。

該發明實施例多個相鄰的數據塊構成對區域的其他音次數的測試樣品，樣品測試在一定的間隔均勻地分布在同一樣本區域團芯片實現多種擦寫次數的測試測試不僅降低了成本，同時另一個擦寫的普及次數測試nand閃存的基本性能進行評價。