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關(guān)于產(chǎn)測(cè)工具的連載文章
【技術(shù)專欄】泰凌微電子產(chǎn)測(cè)工具使用方式一
【技術(shù)專欄】泰凌微電子產(chǎn)測(cè)工具使用方式二
【技術(shù)專欄】泰凌微電子產(chǎn)測(cè)工具使用——配置帶PA芯片的測(cè)試腳本
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量產(chǎn)工具開始測(cè)試后,界面出現(xiàn)load err,
該怎么解決?
解答:load err產(chǎn)生的原因是sws數(shù)據(jù)線通訊不正常,屬于常見錯(cuò)誤。
量產(chǎn)工具測(cè)試流程是Jig evk板子通過(guò)sws線把測(cè)試固件加載到dut的ram中,當(dāng)這個(gè)過(guò)程出現(xiàn)的錯(cuò)誤就會(huì)提示load err。出現(xiàn)問(wèn)題后先檢查下連線是否存在異常,大部分就可以解決。接線方式如下:
參考文檔:《AN_18102501-C1_Assembly and Maintenance Manual for Telink BLE 1x6 Test System》
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點(diǎn)擊start之后,窗口提示err open database,
該如何解決?
解答:軟件打開時(shí)會(huì)生成數(shù)據(jù)庫(kù)文件,每次“RUN”都會(huì)保存燒錄狀態(tài)到數(shù)據(jù)庫(kù)文件里面,文件路徑“EvkMonitordatabase[日期][時(shí)間].db”。如果[日期]或者[時(shí)間]有中文,或者軟件所在目錄有中文或者空格,都會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)庫(kù)文件生成失敗。除此之外還要檢查電腦日期是否帶中文,若帶中文星期幾也不行,可以按照如下方法修改系統(tǒng)時(shí)間格式:
點(diǎn)擊右下角的時(shí)間,將時(shí)間設(shè)置中的星期去掉。
如果以上都沒(méi)有問(wèn)題,則檢查test.tls中的##test_name:測(cè)試項(xiàng)名稱是否有同名,若有同名請(qǐng)修改,此處同名會(huì)導(dǎo)致生成的config.ini文件中ITEM的name有同名,此時(shí)就會(huì)創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫(kù)失敗。
參考文檔:《AN_18101001-C2_Telink EvkMonitor User Guide.pdf》
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在EvkMonitor軟件上如何打開log信息?
解答:在Tcon下打開log然后根據(jù)你命名的USB_ID進(jìn)行選擇,命名為0就選擇EVK0
如果彈出下面的窗口,怎么辦?
彈出窗口直接點(diǎn)擊在確認(rèn)后會(huì)出現(xiàn)下面窗口點(diǎn)擊確定就可以使用log了。
通過(guò)log信息我們能快速定位出錯(cuò)原因。如下面報(bào)錯(cuò)是接收靈敏度不過(guò),那可能是天線測(cè)試距離過(guò)遠(yuǎn),或者閾值需要調(diào)整。接口的具體說(shuō)明可參考《AN_20021101-C1_Decription of the Script test.tls of EVK Testbench BLE 2M Flash.pdf》
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在燒錄固件時(shí),出現(xiàn)flash CRC err,
如何解決?
解答:這代表當(dāng)你更換BIN文件時(shí)沒(méi)有完全擦除之前的BIN文件,需要重新設(shè)置擦除值。
具體操作:可以在腳本文件text.tls中更改擦除大小,這里需要注意設(shè)置的擦除值必須是4的倍數(shù)同時(shí)比你導(dǎo)入的BIN文件要大。
另一種方法是可以打開EVK——Configure——lastTemplate配置界面。
在這里來(lái)修改你的擦除值。
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生產(chǎn)過(guò)程中,出現(xiàn)IdLimit該怎么解決?
解答:這種情況是工具上配置的mac地址用完了,重新設(shè)置即可。具體燒錄方式可以看下往期的文章,里面有詳細(xì)介紹。
注:文中所提參考文檔及軟件可聯(lián)系泰凌銷售獲?。?span style="text-decoration:underline;color:rgb(0,122,170);">telinksales@telink-semi.com。
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