精品国产人成在线_亚洲高清无码在线观看_国产在线视频国产永久2021_国产AV综合第一页一个的一区免费影院黑人_最近中文字幕MV高清在线视频

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

半導(dǎo)體熱阻測試原理和測試方法詳解

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-11-08 16:15 ? 次閱讀

對于半導(dǎo)體器件而言熱阻是一個(gè)非常重要的參數(shù)和指標(biāo),是影響半導(dǎo)體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過大,那么半導(dǎo)體器件的熱量就無法及時(shí)散出,導(dǎo)致半導(dǎo)體器件溫度過高,造成器件性能下降,甚至損壞器件。因此,半導(dǎo)體熱阻測試是必不可少的,納米軟件將帶你了解熱阻測試的方法。

半導(dǎo)體熱阻測試原理

熱阻是指電子器件或材料對熱量傳導(dǎo)的阻礙程度,半導(dǎo)體熱阻是指半導(dǎo)體器件中傳遞熱量的阻力大小。半導(dǎo)體熱阻分為內(nèi)部熱阻和外部熱阻。內(nèi)部熱阻是指器件內(nèi)部材料之間的熱阻,外部熱阻是器件與周圍環(huán)境之間的熱阻。

半導(dǎo)體熱阻測試是通過測量半導(dǎo)體器件兩端的溫度差及通過器件的電流推算器件發(fā)熱量,從而計(jì)算出半導(dǎo)體熱阻的大小。

半導(dǎo)體熱阻測試

半導(dǎo)體熱阻測試步驟

1. 選擇測試儀器

一般使用對焦式熱阻計(jì)或紅外測溫儀,需要根據(jù)樣品尺寸、測量范圍、準(zhǔn)確度等要素進(jìn)行選擇。

2. 準(zhǔn)備測試樣品

將待測半導(dǎo)體器件加在散熱器上,使之與環(huán)境達(dá)到熱平衡。

3. 開始測試

在一定的載流條件下,使用選定的測試儀器測量器件兩端的溫度差,并根據(jù)電流和電壓計(jì)算器件的功率和發(fā)熱量。

4. 計(jì)算熱阻

根據(jù)測量出的溫度差和發(fā)熱量及器件表面積等參數(shù),計(jì)算得到半導(dǎo)體器件的熱阻。

半導(dǎo)體熱阻測試方法

1. 熱板法

將半導(dǎo)體器件放在一個(gè)恒溫的熱板上,測量熱板上的溫度分布,進(jìn)而計(jì)算半導(dǎo)體器件的熱阻。該方法的優(yōu)點(diǎn)是測試精度高,適用于各種尺寸的半導(dǎo)體器件,但是測試成本較高。

2. 熱流法

通過測量半導(dǎo)體器件的熱流來計(jì)算熱阻。將半導(dǎo)體器件放在恒溫環(huán)境中,測量半導(dǎo)體器件的熱流和溫度分布來計(jì)算熱阻。熱流法測試速度快,適用于大批量測試。但是使用的測試設(shè)備復(fù)雜,測試精度較低。

3. 熱像儀法

熱像儀法是通過測量半導(dǎo)體器件表面的溫度分布來計(jì)算熱阻的一種方法。用熱像儀對半導(dǎo)體器件進(jìn)行拍攝,分析熱像儀圖像,計(jì)算熱阻。熱像儀法測試速度快,適合大批量測試。但測試設(shè)備較貴,測試精度較低。

4. 熱電偶法

熱電偶法是通過測量半導(dǎo)體器件的溫度分布來計(jì)算熱阻。將器件放在恒溫環(huán)境中,測量半導(dǎo)體器件表面的溫度分布,計(jì)算熱阻。該方法測試精度高,適用于各種尺寸的器件,但是測試速度較慢。

5. 熱阻測試儀法

通過測量半導(dǎo)體器件兩端的溫差和器件的電流來計(jì)算熱阻。測試時(shí)需要將器件加熱到一定溫度,然后通過測試儀器測量器件的溫度和電流,從而計(jì)算出器件的熱阻。熱阻測試儀法測試精度較高,在實(shí)驗(yàn)室中應(yīng)用廣泛,但是測試過程較為復(fù)雜。

wKgaomUmRTKAKy7zAAKRGA0QMO0585.pngATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)針對芯片、半導(dǎo)體、二極管、三極管、分立器件等測試提供軟硬件定制方案,該系統(tǒng)支持項(xiàng)目復(fù)用和權(quán)限管理,也可在移動(dòng)端實(shí)時(shí)監(jiān)測測試數(shù)據(jù)。測試完成后,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)分析測試數(shù)據(jù),可視化看板直觀展現(xiàn)數(shù)據(jù)變化情況,數(shù)據(jù)報(bào)告模板多樣,用戶可以自由選擇所需模板導(dǎo)出報(bào)告。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    334

    文章

    27007

    瀏覽量

    216279
  • 熱阻測試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    7

    瀏覽量

    5951
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    半導(dǎo)體器件測試的理想型解決方案

    探針卡(Probe Card)是半導(dǎo)體測試領(lǐng)域不可或缺的關(guān)鍵工具,主要用于晶圓級(jí)的電學(xué)性能檢測。在半導(dǎo)體制造流程中,為了確保每個(gè)芯片的質(zhì)量與性能達(dá)標(biāo),在封裝之前必須對晶圓上的每個(gè)裸片進(jìn)行詳細(xì)的電學(xué)
    的頭像 發(fā)表于 11-25 10:27 ?51次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>器件<b class='flag-5'>測試</b>的理想型解決方案

    功率器件熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)(五)——功率半導(dǎo)體熱

    /前言/功率半導(dǎo)體熱設(shè)計(jì)是實(shí)現(xiàn)IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎(chǔ),只有掌握功率半導(dǎo)體的熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí),才能完成精確熱設(shè)計(jì),提高功率器件的利用率,降低系統(tǒng)成本,并保證系統(tǒng)的可靠性。功率器件熱
    的頭像 發(fā)表于 11-19 01:01 ?94次閱讀
    功率器件熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)(五)——功率<b class='flag-5'>半導(dǎo)體熱</b>容

    功率半導(dǎo)體器件功率循環(huán)測試與控制策略

    功率循環(huán)測試是一種功率半導(dǎo)體器件的可靠性測試方法,被列為AEC-Q101與AQG-324等車規(guī)級(jí)測試標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的必測項(xiàng)目。與溫度循環(huán)
    的頭像 發(fā)表于 10-09 18:11 ?253次閱讀
    功率<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>器件功率循環(huán)<b class='flag-5'>測試</b>與控制策略

    功率半導(dǎo)體雙脈沖測試方案

    寬禁帶半導(dǎo)體作為第三代半導(dǎo)體功率器件,在電源處理器中充當(dāng)了越來越重要的角色。其具有能量密度高、工作頻率高、操作溫度高等先天優(yōu)勢,成為各種電源或電源模塊的首選。而其中功率半導(dǎo)體上下管雙脈沖測試
    的頭像 發(fā)表于 08-06 17:30 ?552次閱讀
    功率<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>雙脈沖<b class='flag-5'>測試</b>方案

    半導(dǎo)體熱電技術(shù) | 半導(dǎo)體制冷需求增加

    根據(jù)MarketsandMarkets數(shù)據(jù)顯示,全球半導(dǎo)體熱電器件市場規(guī)模,預(yù)計(jì)將從2021年的5.93億美元增長至2026年的8.72億美元,復(fù)合增長率為8.0%。根據(jù)
    的頭像 發(fā)表于 07-28 08:10 ?873次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體熱</b>電技術(shù) | <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>制冷需求增加

    BW-4022A 半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)

    博微BW-4022A半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 07-24 16:04 ?387次閱讀
    BW-4022A <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>分立器件<b class='flag-5'>測試</b>系統(tǒng)

    ATA-5420前置微小信號(hào)放大器如何進(jìn)行半導(dǎo)體測試

    半導(dǎo)體測試是電子行業(yè)中至關(guān)重要的環(huán)節(jié),它對于保證產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率起著至關(guān)重要的作用。在半導(dǎo)體測試過程中,我們需要采用一系列的方法和原理
    的頭像 發(fā)表于 07-09 11:42 ?291次閱讀
    ATA-5420前置微小信號(hào)放大器如何進(jìn)行<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測試</b>

    #博微電通科技---半導(dǎo)體測試系統(tǒng)方案提供商 #半導(dǎo)體測試 #半導(dǎo)體

    半導(dǎo)體測試系統(tǒng)
    jf_25720899
    發(fā)布于 :2024年06月19日 15:18:16

    鋰電池充放電測試方法詳解

    為了確保鋰電池在實(shí)際使用中的性能和安全性,一個(gè)重要的環(huán)節(jié)就是對電池進(jìn)行充放電測試。這些測試能夠評(píng)估電池的容量、功率、穩(wěn)定性及其長期的可靠性。本文將詳解不同的鋰電池充放電測試
    的頭像 發(fā)表于 06-13 09:21 ?2600次閱讀
    鋰電池充放電<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>方法</b><b class='flag-5'>詳解</b>

    半導(dǎo)體分立器件測試

    HUSTEC-DC-2010分立器件測試儀,是我司團(tuán)隊(duì)結(jié)合多年半導(dǎo)體器件測試經(jīng)驗(yàn)而研發(fā)的,可以應(yīng)用于多種場景,如: ? 測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始
    的頭像 發(fā)表于 05-20 16:50 ?448次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>分立器件<b class='flag-5'>測試</b>儀

    AI在半導(dǎo)體器件生產(chǎn)測試中的應(yīng)用

    “時(shí)間就是金錢”這句話在半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測試中尤為貼切。
    的頭像 發(fā)表于 12-25 17:21 ?874次閱讀
    AI在<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>器件生產(chǎn)<b class='flag-5'>測試</b>中的應(yīng)用

    電源芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)有什么功能?如何解決某半導(dǎo)體公司測試難點(diǎn)?

    成都某半導(dǎo)體芯片公司是一家專注于開發(fā)設(shè)計(jì)半導(dǎo)體電源芯片的高新技術(shù)企業(yè),目前企業(yè)對于電源管理芯片研發(fā)階段的測試,絕大部分采用人工手動(dòng)測試,效率低,耗時(shí)長,數(shù)據(jù)管理儲(chǔ)存難度大,無法快速地完
    的頭像 發(fā)表于 12-25 16:42 ?499次閱讀
    電源芯片自動(dòng)化<b class='flag-5'>測試</b>系統(tǒng)有什么功能?如何解決某<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>公司<b class='flag-5'>測試</b>難點(diǎn)?

    霍爾效應(yīng)在半導(dǎo)體性能測試中的作用

    隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的快速發(fā)展,半導(dǎo)體器件在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用越來越廣泛。而為了確保半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和性能,進(jìn)行準(zhǔn)確的半導(dǎo)體性能測試顯得尤為重要。霍爾效應(yīng)作為一種常用的
    的頭像 發(fā)表于 12-25 14:52 ?1383次閱讀

    半導(dǎo)體可靠性測試項(xiàng)目有哪些

    半導(dǎo)體可靠性測試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項(xiàng)目包括多種測試方法
    的頭像 發(fā)表于 12-20 17:09 ?2474次閱讀