同其他車用電子零部件一樣，車規級功率半導體也須通過AEC-Q100認證規范所涵蓋的7大類別41項測試要求。對于傳統的硅基半導體器件，業界已經建立了一套成熟有效的測試評估流程。而對于近兩年被普遍應用于開發800V超充技術的三代半導體碳化硅（SiC）材料而言，由于其面世時間較短，缺陷暴露不充分，失效機理不清晰，對其進行科學有效的評估和驗證至關重要。

為了幫助產業更好的應對SiC所帶來的測試驗證挑戰，各大汽車檢測認證機構正逐步建立起符合AEC-Q100認證規范要求的完整SiC器件/模塊測試評估能力；而動態可靠性測試作為整個評估體系的重要一環，往往是機構在搭建相關驗證能力時所關注的焦點。泰克作為全球領先的測試測量設備商，針對SiC器件/模塊可提供以下全流程測試驗證解決方案，相關方案已被各大汽車檢測認證機構廣泛采用，備受好評。

DPT1000A功率器件動態測試系統由泰克科技領銜開發，專門用于針對三代半導體功率器件的動態特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態特性表征中常見的疑難問題，包括如何設計高速工作的驅動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進行信號測試，如何優化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發設計和試產階段，快速評估器件性能，更快應對市場需求改善產品性能。

定制化系統設計 , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅動電路

自動化測試軟件，測試功能豐富 , 可以自動配置參數，測試和生成數據報告

高帶寬/高分辨率測試設備 , 在高速開關條件下準確表征功率器件

覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類型，不同封裝芯片測試

可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復、Qg、短路測試、雪崩參數、RBSOA等測試功能

HTXB-1000D動靜態綜合老化測試系統針對以 SiC/GaN 為首的新型三代半導體功率器件，根據其特有的器件結構和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件（包括靜態壓力和動態壓力），用以測試功率器件器件的漏流指標，以及其他典型特性參數（例如閾值開啟電壓，導通電阻等關鍵指標），以表征器件的老化特性和工作壽命。可以讓器件生產廠商和器件使用者在較短時間內了解新型功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實際應用過程中可能出現的故障進行預判和分析。

該動靜態壓力綜合老化測試系統用于批量SiC/GaN器件老化測試，通過測試數據可以研究SiC/GaN器件的典型參數在不同壓力條件下的變化特性，幫助客戶了解器件可靠性相關信息并表征老化特性。

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