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多功能測試探針電路原理圖

CHANBAEK ? 來源:circuit-diagramz ? 作者:circuit-diagramz ? 2023-12-13 18:21 ? 次閱讀

兩個(gè) IC 的多功能性:

該電路僅包含兩個(gè)集成電路 (IC),通過執(zhí)行三種不同的測試功能(可通過開關(guān) S1 選擇)來展示多功能性。 IC1a-1c 以時(shí)鐘發(fā)生器中心,生成頻率為 3 Hz 的矩形信號(hào)。在開關(guān) S1 的位置 A,T1 利用時(shí)鐘信號(hào)為探頭供電

該緩沖級(jí)可通過限流電阻 R7 提供高達(dá) 100 mA 的電流。實(shí)際上,這允許探頭將 3 Hz 信號(hào)注入任何數(shù)字電路,從而有效地覆蓋所有邏輯輸出。短路的檢測變得更快,因?yàn)橹挥写祟惍惓2艜?huì)導(dǎo)致信號(hào)消失。

然而,必須注意的是,這種方法代表了一種基本測試,同時(shí)短路連接到被檢查軌道的所有輸出,而制造商通常允許一次僅針對(duì)一個(gè)輸出發(fā)生這種情況。

邏輯電平檢測:

當(dāng)開關(guān) S1 設(shè)置到位置 B 時(shí),測試儀轉(zhuǎn)換為檢測邏輯電平。當(dāng)探頭未連接時(shí),IC1d 輸入端出現(xiàn) 3 Hz 時(shí)鐘,導(dǎo)致 DI 有節(jié)奏地閃爍。

當(dāng)向探頭施加邏輯電平時(shí),它會(huì)抑制時(shí)鐘;如果電平低,LED 熄滅,如果電平高,LED 保持常亮。

該 IC 的開關(guān)閾值約為電源電壓的 1/3 至 2/3,因此適用于 CMOS 4000 系列和 HCT 系列。雖然標(biāo)準(zhǔn) TTL、LS 和 HCT IC 是兼容的,但值得注意的是,閾值對(duì)于這些變化可能不是最佳的。

多功能測試探頭示意圖

高頻信號(hào)兼容性:

該測試儀設(shè)計(jì)用于有效處理頻率范圍為 30 至 40 MHz 的輸入信號(hào)。當(dāng)開關(guān)S1設(shè)置到位置C時(shí),輸入信號(hào)被引導(dǎo)至移位寄存器IC2的時(shí)鐘輸入。

在探頭上的八個(gè)時(shí)鐘脈沖之后,IC2 輸入 A 和 B 處的持續(xù)高電平到達(dá) OH 輸出,點(diǎn)亮 LED D2。由于 3 Hz 信號(hào)不斷重置 IC2,只要探頭上存在時(shí)鐘(假設(shè)其頻率超過 25 MHz),LED 就會(huì)閃爍。

當(dāng)兩個(gè) LED 閃爍時(shí),整個(gè)電路消耗 10 mA 的電流。必須確保電源能夠提供 100 mA 左右的電流,以保證脈沖發(fā)生器的良好運(yùn)行。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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