近期,華為技術有限公司公布數(shù)項新的專利,其中一項名為“芯片封裝結構及制造方法”(公開號CN117256049A)的專利引起關注。
該專利提出了一種全新的封裝結構,由第一芯片搭配第一混合鍵合結構制成。這種結構能有效地連接不同芯片,提升芯片間信號傳輸性能。具體而言,混合鍵合結構包含第一鍵合層,它位于第一芯片襯底的邊緣,其材料是一種含有眾多第一金屬焊盤的絕緣物。這些金屬焊盤展現(xiàn)出槽型結構,其底部埋藏在絕緣材料里,而開口處則光滑平整地凸顯出來,且與芯底層的表面保持平行。值得注意的是,這些焊盤內(nèi)部堆砌著第一絕緣介質(zhì),其表面跟第一絕緣材料完全貼合,使整個芯片封裝更為緊實。
截至2022年,華為共擁有超12萬項有效專利,覆蓋全球多個地區(qū)。特別是在中國和歐洲市場,這些專利占據(jù)了不小的比例,而它們在美國的專利數(shù)量更是高達22,000多項。
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