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精智達:DRAM晶圓老化測試設備進入驗證階段

微云疏影 ? 來源:綜合整理 ? 作者:綜合整理 ? 2024-01-03 14:43 ? 次閱讀

1月2日,精智達發布最新研究報告,披露其半導體存儲器件測試設備的研發進展順利。DRAM晶圓老化測試設備已完成開發與測試,步入驗證階段; DRAM測試機仍處研發環節。

公司聲稱,在半導體業務上,探針卡業務實現重大突破,開始量產,前景看好。

至于面板業務,公司正積極涉足MicroLED、Micro-OLED等微型顯示領域,已先后獲得數個Micro-LED檢測設備訂單。同時,關于微型顯示領域的技術開發和設備驗證工作正在穩步展開。

談及公司近年來的對外投資行動,精智達強調,標的公司主營業務與公司業務具備高度協同效應,有助于加速推動測試設備的核心信號處理引擎芯片國產化進程,同時 豐富產業鏈布局,提升在ATE設備市場中的核心競爭實力和供應鏈可靠性。

更為詳細地說,標的方提供存儲芯片測試開發服務,技術水準領先全球,所研發出的高性能數字混合信號測試芯片涵蓋DDR5等產品,并支持9Gbps傳輸協議。該芯片的問世將有助于加快芯片測試裝備的研發速度及提高測試效率。

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