為什么IGBT的短路耐受時間只有10us?10us又是如何得來的?
IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)是一種常用的功率半導體器件,用于控制高功率的電流和電壓。它結合了MOSFET(金屬氧化物半導體場效應晶體管)和BJT(雙極型晶體管)的優點,具有高頻特性和大電流承受能力。然而,IGBT的短路耐受時間只有10微秒,下面將詳細解釋這個現象。
首先,我們需要了解IGBT的結構。一個典型的IGBT包括一個npn型BJT和一個PMOSFET,它們共同組成了一個三層結構。BJT用于控制大電流,而PMOSFET用于控制高頻特性。另外,IGBT的柵極和漏極之間有一個絕緣層,用于隔離高電壓。
當IGBT的柵極和發射極之間的電壓超過臨界值時,BJT會導通,允許電流通過。在這種情況下,柵極和漏極之間的絕緣層會被高電壓穿透,導致電流通過。這就是為什么IGBT的短路耐受時間較短的原因。
短路耐受時間受到以下幾個因素的影響:
1. 絕緣層厚度:IGBT的絕緣層是防止漏電流的關鍵部分。如果絕緣層厚度較大,電流穿透的時間會延長。然而,增加絕緣層厚度也會降低IGBT的響應速度。因此,絕緣層的厚度必須在保證耐壓能力的同時,保持適當的響應速度。
2. 高電壓:當IGBT工作在高電壓條件下時,絕緣層中的電場會增強。這會導致電流穿透的速度加快,從而減少短路耐受時間。
3. 溫度:IGBT的短路耐受時間還受到溫度的影響。在高溫下,絕緣層的性能會下降,導致電流穿透的速度加快。因此,IGBT在高溫環境下的短路能力要比在低溫環境下差。
以上是IGBT短路耐受時間的一些主要因素。10微秒的數值是在實際應用中根據多種因素綜合考慮得出的。IGBT的設計和制造涉及到許多復雜的工藝和技術,包括材料選擇、摻雜、制備過程等。這些技術的優化可以提高IGBT的短路能力和其他性能。
綜上所述,IGBT的短路耐受時間只有10微秒是由于絕緣層的特性以及其他因素的綜合影響。為了提高IGBT的短路能力,需要在設計和制造過程中仔細考慮和優化各種因素。這樣可以使IGBT在高功率應用中更加可靠和穩定。
聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。
舉報投訴
相關推薦
IGBT等功率器件具有稱為“短路耐受時間(SCWT:Short Circuit Withstand Time)”的電氣特性(參數)。通常,在IGBT
發表于 10-08 17:12
?333次閱讀
為V_F輸入脈沖電壓,綠色信號為V_C輸出電平信號,觀測響應時間長達10us,數據手冊上說LM211響應時間只有200ns左右,差距比較大,不知道是什么原因?
發表于 09-23 07:43
一個寬度為10us高斯波形脈沖需要延遲5us ,這個高斯波形是設備隨機產生的,波形最高頻率是50K
請問有什么辦法可以解決信號延遲的問題,主要是用在手持低功耗設備上
發表于 09-14 07:27
這是四層板,差分采樣電路。運放采用AD8692ARZ(8引腳),差分采樣信號,采樣時間為10us。板子的面積有限,目前是上下兩層各一個運放,不知道這樣布局需不需要考慮高頻干擾的問題。
如果考慮,是不是上下層兩個運放,交錯比較好一些。
發表于 08-29 06:52
目前有個10kHz的脈沖電流需要檢測出來,周期是100us,脈寬10us,目前想通過INA138電流檢測芯片來實現,電壓28V,會有靜態電流200mA左右,然后脈沖電流可能能達6A,不知道這個片子能不能實現,或者有片子推薦實現
發表于 08-06 08:05
時,測量的電流值會有一段突變的過程(見圖1)而反向掃描沒有,是否是由于在MOSFET未開啟時,VSENSE=0V,器件處于飽和區時,從飽和區到線性區的恢復過程?
2.在輸入為10us的三角波
發表于 07-29 06:23
電子發燒友網站提供《ADS7809 16位10us串行CMOS采樣模數轉換器數據表.pdf》資料免費下載
發表于 06-20 11:42
?0次下載
我通過SPI和外接的AD 芯片實現通信,可以對AD值進行讀取
現在想以10us的速度(100KHz)進行采樣,我嘗試了
使用10us的定時器,但是會導致看門狗復位,如果使用延時函數則不會觸發看門狗
發表于 06-12 08:26
在本文中,我們將討論氮化鎵 (GaN) HEMT 功率器件中的一個關鍵參數,即短路耐受時間 (SCWT)。
發表于 05-09 10:43
?715次閱讀
STM8S 在IAR軟件仿真Simulator怎么查看運行時間?在某些芯片通信時,會要求延時5us,10us,150ms等,這些延時不需要太精確,只要大概就好,但怎么在Simulator仿真里能通過斷點查看,即兩個斷點之間的運行
發表于 05-09 07:48
的電角度為:(4000 x 4 x 360/60) = 96 000 度
那么,每一度轉過的時間大概為 1/96000 = 10us 左右,
也就是說,對于這樣一個級別的電機,要轉子的角度誤差在1度
發表于 04-17 07:31
短路耐受時間是指IGBT在短路條件下能夠持續導通而不發生故障的時間。這個參數對于系統保護策略的設
發表于 02-06 16:43
?2430次閱讀
我用演示來測試,adc 采樣時間只有 1~3 us;在我的程序中,將是 10us 甚至 100 us,每次結果都不一樣。
發現添加 d &q
發表于 01-25 08:25
也總是有10us左右誤差。
請問:
1、上述占空比脈沖有沒有比較好的實現方法?
2、845做20us量級的定時,其精度是多少?有1~2us的浮動是否是正常的?
發表于 01-11 08:18
SiC MOSFET芯片的短路能力是非常差的,目前大部分都不承諾短路能力,有少數在數據手冊上標明短路能力的幾家,也通常把短路耐受
發表于 12-13 11:40
?3199次閱讀
評論